【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，具体涉及一种用于存储器ft测试的dps电源板卡。
技术介绍
1、ddr存储器ft测试，是ddr存储器芯片出厂前的最后一道关卡，测试的对象是针对封装好的chip。包括读写测试、数据完整性测试、延迟测试、时序测试和容量测试；通过进行ddr存储器ft测试，可以提前发现存储器模块中的故障或不良部件，并确保其在实际应用中的可靠性和稳定性。这对于计算机系统、服务器、移动设备等各种应用领域都非常重要。
2、目前ddr存储器芯片ft测试存在着以下需求或者问题：
3、1.只有在特定高速测试模式下需要大电流（3—5a），除此之外芯片对电流的需求并不大，要求电源板卡需要兼容大小电流输出能力；
4、2.测试机整机的尺寸通常受限，大量的数字板卡需求导致测试机无法插入过多的电源板卡，所以单块电源板卡需要具备高通道数，无法实现较高的并测数；
5、3.ddr颗粒测试电路上需要加载一定数量的大电容值的电容，以保证测试供电电流的稳定性，而socket board上通常空间非常有限，无法安置过多大电容，需要板卡提供支持；
6、4.在进行一些ddr颗粒测试项时，需要断开大电容，以保证测试项准确性，减少测试时间，但是通常socket board上通常可用的控制资源非常有限。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种用于存储器ft测试的dps电源板卡，解决以下技术问题：
2、现有电源板卡电流输出范围较小，并测数有限，空间有限
3、本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：
4、一种用于存储器ft测试的dps电源板卡，包括电源模块、cpu模块、控制模块、程序加载模块、模数转换模块、校准模块、通道输出连接器、电源输入连接器、通讯连接器、dps模块，其中：
5、电源模块，用于将测试机台提供的48v直流电源转换为若干种不同规格的电压电源，为整个电源板卡供电；
6、cpu模块，用于上电后配置各个fpga的程序，接收上位机的指令转发给各个fpga，并回读汇总状态和测试结果给上位机；
7、控制模块，用于烧录配置文件后经由cpu模块发送信号指令至其它模块；
8、程序加载模块，用于根据硬件设置发送id至cpu模块，cpu模块根据id配置ip，cpu模块通过程序加载模块升级所述控制模块的程序；
9、模数转换模块，用于采集模拟信号，进行模数转换，整个电源板卡包括4个模数转换模块，所述模数转换模块与所述dps模块一一对应；
10、校准模块，用于对电源板卡中输出资源的电压和电流进行校准；
11、dps模块，用于进行测试信号的输出、测量和控制，包括136个通道，每34个通道分为一组，相邻通道之间并联设计，至多16组连续通道并联，用于提供1.2a×16电流的输出和测量。
12、作为本专利技术进一步的方案：电源板卡测量待测器件的过程为：
13、上电后所述程序加载模块从flash中加载代码，加载完成后，cpu模块通过程序加载模块加载所述控制模块的程序；
14、控制模块处理对预输出的信号指令进行处理，控制模块将信号指令发给dps模块，dps模块根据新鲜指令输出相应的输出信号，所述输出信号包括电压信号和电流信号，通过闭合对应通道的dps开关器件，经输出连接器将输出信号传输至待测器件；
15、dps模块的输出端采集到的待测器件的采样信号传递至模数转换模块，模数转换模块将采样后的信号进行模数转换，将模数转换后的信号再传至控制模块，控制模块通过pcie协议将信号测量结果传输至cpu，并在工作站中进行显示。
16、作为本专利技术进一步的方案：所述dps模块包括ad5560和ad7608；
17、ad5560内部集成16位dac芯片，dac芯片用于设置可编程输入所需的电平，每个dac芯片包括一个输出单元和一个测量单元；ad5560包括钳位和比较器电路，还包括dac的偏移和增益校正；ad5560还用于提供5种内部可编程测量电流范围和两个外部可选电流范围，所述外部可选电流范围分别提供最高±1.2 a和±0.5 a的电流；
18、ad7608包括8通道差分das以及18位双极性同步采样。
19、作为本专利技术进一步的方案：所述校准模块具体包括：
20、校准电路包括4个部分：通道0-31和通道128-129、通道32-63和通道130-131、通道64-95、通道132-133、通道96-127和通道134-135，每一部分的通道数完全相同，均匀分布在4组adc中，所述adc设置于模数转换模块中，通过dps模块输出管脚放置的继电器来切换每个通道；
21、其中，4个部分的校准电路公用一组校准电阻range0-rnage7，通过继电器来切换，其中rnage0~range6的电流范围为+/-5ua 档位到+/-1.2a档位，通过控制继电器通断，用于实现单板内部的校准流程，其中rnage7只在校准时作施加电压测量电压使用；
22、校准电路还预留外接dvm 接口，通过外接dvm进行校准流程。
23、作为本专利技术进一步的方案：所述校准流程为：
24、s1、adc校准：dps模块内部放置有3.0v参考电压，adc采集参考电压和agnd电压，并分别标记为因变量y1和y0，控制模块读取adc采集电压的转换数字量，并分别标记为自变量x1和x0，根据以下公式计算增益值adc gain和偏差值adc offset：
25、；
26、；
27、其中，offset的标准值为0，gain的标准值为1；
28、s2、cal_sense线路校准：cal_s线路通过继电器切换，读取vref_cal和gnd的电压值并标记为因变量v1和v0，送到已校准的adc中进行模数转换，控制模块读取adc采集电压的转换数字量，并标记为自变量u1和u0，根据以下公式计算增益值cal_s gain和偏差值cal_s offset：
29、；
30、；
31、s3、dps校准：包括施加电压测量电压校准vfvm和施加电压测量电流校准vfim，其中施加电压测量电压校准包括voltage force校准和voltage sense校准，voltage force校准用于判断dps模块输出电压是否准确，voltage sense校准用于判断voltage sense电压是否准确。
32、作为本专利技术进一步的方案：s3中施加电压测量电压校准的具体过程为：
33、 dps模块通过force线路输出-0.4v和3.2v两种电压，通过dps模块的电压measout输出，经过多路选择器送入已校准的adc中，控制模块读取adc采集电压的转换数字量，已校准的cal_sense线路感知rnage7电阻前端的电压并采集，cal_本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于存储器FT测试的DPS电源板卡，其特征在于，包括电源模块、CPU模块、控制模块、程序加载模块、模数转换模块、校准模块、通道输出连接器、电源输入连接器、通讯连接器、DPS模块，其中：
2.根据权利要求1所述的一种用于存储器FT测试的DPS电源板卡，其特征在于，电源板卡测量待测器件的过程为：
3.根据权利要求1所述的一种用于存储器FT测试的DPS电源板卡，其特征在于，所述DPS模块包括AD5560和AD7608；
4.根据权利要求3所述的一种用于存储器FT测试的DPS电源板卡，其特征在于，所述校准模块具体包括：
5.根据权利要求4所述的一种用于存储器FT测试的DPS电源板卡，其特征在于，所述校准流程为：
6.根据权利要求5所述的一种用于存储器FT测试的DPS电源板卡，其特征在于，S3中施加电压测量电压校准的具体过程为：
7.根据权利要求5所述的一种用于存储器FT测试的DPS电源板卡，其特征在于，S3中施加电压测量电流校准的具体过程为：
8.根据权利要求5所述的一种用于存储器FT测试的DPS
...【技术特征摘要】
1.一种用于存储器ft测试的dps电源板卡，其特征在于，包括电源模块、cpu模块、控制模块、程序加载模块、模数转换模块、校准模块、通道输出连接器、电源输入连接器、通讯连接器、dps模块，其中：
2.根据权利要求1所述的一种用于存储器ft测试的dps电源板卡，其特征在于，电源板卡测量待测器件的过程为：
3.根据权利要求1所述的一种用于存储器ft测试的dps电源板卡，其特征在于，所述dps模块包括ad5560和ad7608；
4.根据权利要求3所述的一种用于存储器ft测试的dps电源板卡，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：薛如军，徐茂强，
申请(专利权)人：悦芯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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