【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，具体涉及一种用于存储器ft测试的特定适配装置。
技术介绍
1、随着科技的日益进步，汽车电子，可穿戴设备，智能家居，工业控制等领域蓬勃发展，而存储器芯片是这些设备中的重要组成部分，因此存储芯片的测试及测试设备变得尤为重要。
2、封装测试 ft（final test），通常是芯片出货前的最后一道测试，是测试项最多的测试，有些时候还需要做3温测试，测试成本高。ft测试属于芯片级测试，是通过测试板（loadboard）和测试芯片插座（芯片插座）使自动化测试设备（ate）到封装后的芯片之间建立电气连接，对芯片做电气连接性测试，功能测试以及参数测试等，根据测试结果筛选出满足设计规格的产品。ft测试通常需要的硬件设备包括测试板、测试芯片插座、ate测试机台、handler等。
3、dram存储器ft测试的最大难点在于，如何在最短时间内，保证出厂的unit能够完成全部的function，因此，本专利技术提供了一种用于存储器ft测试的特定适配装置。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种用于存储器ft测试的特定适配装置，解决以下技术问题：
2、dram存储器ft测试的最大难点在于，如何在最短时间内，保证出厂的unit能够完成全部的function。
3、本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：
4、一种用于存储器ft测试的特定适配装置，包括自动化分选机、ate测试机、对接机构和翻转机构，其中：
6、所述对接机构包括基础机械框架、上下浮动机构、树脂机构、接口板和设备特定适配装置；所述设备特定适配装置为ate测试机与自动化分选机中的存储芯片接触的最外端接口，用于连接ate测试机与存储芯片；
7、所述设备特定适配装置中包括32个dsa单元，每个dsa单元中放置有16个芯片插座，用于实现单次512个待测芯片的测试。
8、作为本专利技术进一步的方案：所述设备特定适配装置与所述接口板一一对应，所述接口板用于放置端接电路元器件，端接电路的通断通过控制信号控制继电器切换，并传递信号联通ate测试机主板和插座基板。
9、作为本专利技术进一步的方案：dsa单元包括插座guide、芯片插座、插座基板、固定机械结构、guide pin、locking screw 和insertion guide。
10、作为本专利技术进一步的方案：dsa单元中：
11、所述插座guide位于dsa的最上层，用于固定芯片插座；
12、所述芯片插座是测试资源和待测芯片的接触面，根据待测芯片封装的不同而更换；
13、所述插座基板用于进行测试资源的分配和电源滤波电容的放置；
14、所述固定机械结构，同时用于控制自动化分选机和ate测试机的对接深度，读取所述待测芯片管脚的接触电阻，若电阻数据正常，则说明对接深度符合预设深度；若电阻数据异常，则说明对接异常，停止测试；
15、所述guide pin为dsa单元在对接机构中的定位装置；locking screw 和insertion guide用于锁紧dsa单元。
16、作为本专利技术进一步的方案：每个所述设备特定适配装置对应一个插座基板，每个所述插座基板包括4个连接器，每个所述接口板与16个待测芯片连接，每4个待测芯片均匀分布在单个连接器周围，每个连接器中的测试资源相同，每个设备特定适配装置中的测试资源同样相同。
17、作为本专利技术进一步的方案：每个所述连接器中分配有48个io通道、32个dr通道、8个dps电源、4个optional电源、1个端接电源、一路5v电源、8路继电器控制信号，所述继电器控制信号用于控制继电器或光耦，以及3路校准io信号和1路ndut_is信号；
18、所述对接机构还包括4块id板卡，所述id板卡与所述ndut_is信号相互配合，所述id板卡中设置有4组拨码开关，通过io信号与ate测试机内部的cpu连接，若cpu读取到ndut_is信号，则判断插座基板已经连接，于是cpu通过读取id 板卡的设置信息，判断插座基板和待测芯片的种类；若cpu未读取到ndut_is信号，则判断插座基板未连接。
19、作为本专利技术进一步的方案：每个所述dsa单元中设置有两个干燥空气孔，用于低温测试时防止冷凝水。
20、作为本专利技术进一步的方案：所述dsa单元锁紧和弹出的过程为：
21、通过安装在固定机械结构上的四个guide pin，将dsa单元放置到对接机构上，拧动固定机械结构中的locking screw，对dsa单元进行锁紧和弹出。
22、作为本专利技术进一步的方案：所述上下浮动机构用于缓冲ate测试机和自动化分选机对接过程中产生的冲力。
23、作为本专利技术进一步的方案：所述树脂机构用于在高温测试和低温测试时隔绝温度传递。
24、本专利技术的有益效果：
25、本专利技术通过设备特定适配装置，实现了ate测试机与存储芯片的精准对接，保证了测试的准确性，通过接口板和插座基板的设计，实现了信号的传递和切换，保证了测试的稳定性，并通过固定机械结构的设计，实现了对接深度的控制，提高了测试的安全性，本专利技术单次可同时测试512颗存储芯片，提高测试效率，降低测试成本，且单个dsa单元设计简单，其他31个dsa单元可以完全复制，提高设计效率，dsa单元安装拆卸简单，易于使用和维护。
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1.一种用于存储器FT测试的特定适配装置，其特征在于，包括自动化分选机、ATE测试机、对接机构和翻转机构，其中：
2.根据权利要求1所述的一种用于存储器FT测试的特定适配装置，其特征在于，所述接口板用于放置端接电路元器件，端接电路的通断通过控制信号控制继电器切换，并传递信号联通ATE测试机主板和插座基板。
3.根据权利要求1所述的一种用于存储器FT测试的特定适配装置，其特征在于，DSA单元包括插座Guide、芯片插座、插座基板、固定机械结构、Guide Pin、Locking Screw 和Insertion Guide。
4.根据权利要求3所述的一种用于存储器FT测试的特定适配装置，其特征在于，DSA单元中：
5.根据权利要求4所述的一种用于存储器FT测试的特定适配装置，其特征在于，每个所述设备特定适配装置对应一个插座基板，每个所述插座基板包括4个连接器，每个所述接口板与16个待测芯片连接，每4个待测芯片均匀分布在单个连接器周围，每个连接器中的测试资源相同，每个设备特定适配装置中的测试资源同样相同。
6.根据权利要求5
7.根据权利要求1所述的一种用于存储器FT测试的特定适配装置，其特征在于，每个所述DSA单元中设置有两个干燥空气孔，用于低温测试时防止冷凝水。
8.根据权利要求3所述的一种用于存储器FT测试的特定适配装置，其特征在于，所述DSA单元锁紧和弹出的过程为：
9.根据权利要求1所述的一种用于存储器FT测试的特定适配装置，其特征在于，所述上下浮动机构用于缓冲ATE测试机和自动化分选机对接过程中产生的冲力。
10.根据权利要求1所述的一种用于存储器FT测试的特定适配装置，其特征在于，所述树脂机构用于在高温测试和低温测试时隔绝温度传递。
...【技术特征摘要】
1.一种用于存储器ft测试的特定适配装置，其特征在于，包括自动化分选机、ate测试机、对接机构和翻转机构，其中：
2.根据权利要求1所述的一种用于存储器ft测试的特定适配装置，其特征在于，所述接口板用于放置端接电路元器件，端接电路的通断通过控制信号控制继电器切换，并传递信号联通ate测试机主板和插座基板。
3.根据权利要求1所述的一种用于存储器ft测试的特定适配装置，其特征在于，dsa单元包括插座guide、芯片插座、插座基板、固定机械结构、guide pin、locking screw 和insertion guide。
4.根据权利要求3所述的一种用于存储器ft测试的特定适配装置，其特征在于，dsa单元中：
5.根据权利要求4所述的一种用于存储器ft测试的特定适配装置，其特征在于，每个所述设备特定适配装置对应一个插座基板，每个所述插座基板包括4个连接器，每个所述接口板与16个待测芯片连接，每4个待测芯片均匀分布在单个连接器周围，每个连接器中的测试资源相同，每个设备特...
【专利技术属性】
技术研发人员：薛如军，钱黄生，
申请(专利权)人：悦芯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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