【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，具体涉及一种用于存储芯片ft测试机的校准板卡方法。
技术介绍
1、存储芯片具有众多数字引脚的特性，这导致在存储芯片ft（final test，最终测试）测试设备中需要使用到大量的数字信号板卡。从数字信号板卡到待测芯片接口板的整条链路中，板卡内部走线、不同连接器与线束差异等因素将会导致所使用到的数字板卡中的不同通道差异化显著。这种通道差异化直观的体现在驱动器到测试端的时间差异上，便会影响到测试的结果与良率。所以我们不得不采用适当的方法将不同通道之间这种时间的差异进行补偿，这就是所有自动测试设备中所需要做的交变信号校准，下面称之为ac校准。
2、目前大部分自动测试设备所采用的ac校准方案存在以下几点问题：
3、传统ac校准方案中的结构单一，是一整块的校准板与机台进行连接，无法在相同机台不同配置下重复使用，具有较差的兼容性，在同公司同系列机台中使用也不得不进行板卡的重新设计与更换，这无疑增加了设计的成本。
4、传统ac校准方案中，使用到的信号发生器成本高昂，使用不便；只对单一的上升沿...
【技术保护点】
1.一种用于存储芯片FT测试机的校准板卡方法，其特征在于，基于测试机台中的母板、校准板卡、数字板卡、电源板卡，包括：
2.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片FT测试机的校准板卡方法，其特征在于，所述校准参考时钟波形采用20ns的周期，数字板卡内部的TG模块在驱动20ns的RZ波形给所有的数字通道后，校准板使用校准参考时钟进行采集，以参考点为基准修正所有的数字信号时钟偏差。
3.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片FT测试机的校准板卡方法，其特征在于，所述参考信号的校准周期设置为20ns，校准板发送相同20ns的RZ波形后，以参考时钟为基准进行...
【技术特征摘要】
1.一种用于存储芯片ft测试机的校准板卡方法，其特征在于，基于测试机台中的母板、校准板卡、数字板卡、电源板卡，包括：
2.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片ft测试机的校准板卡方法，其特征在于，所述校准参考时钟波形采用20ns的周期，数字板卡内部的tg模块在驱动20ns的rz波形给所有的数字通道后，校准板使用校准参考时钟进行采集，以参考点为基准修正所有的数字信号时钟偏差。
3.根据权利要求1所述的一种用于存储芯片ft测试机的校准板卡方法，其特征在于，所述参考信号的校准周期设置为20ns，校准板发送相同20ns的rz波形后，以参考时钟为基准进行strobe，以参考点为基准，补偿所有仍有误差的数字通道。
4....
【专利技术属性】
技术研发人员：徐茂强，宋秀良，朱超，刘金海，薛如军，
申请(专利权)人：悦芯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。