【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，特别涉及一种闪存芯片测试装置及测试设备。
技术介绍
1、随着当今半导体技术的快速发展，在半导体晶体管尺寸越来越小，芯片功能日益复杂的趋势下，测试已成为产品落地生产前的关键一环。而伴随着更严格的可接受质量水平(aql)认证推出，测试的方法也在不断推陈出新。
2、闪存存储芯片生产过程中，通常需要进行slt(system level test)系统级测试，以提高芯片出厂的良品率与质量水平。具体为slt测试设备搭配芯片测试板，以通过芯片测试板对闪存芯片进行slt测试，然而，因不同厂商所设计的芯片测试板不同，目前，一般是通过配置多台不同的slt测试设备以分别组合不同厂商的芯片测试板进行使用，从而导致测试成本高。
技术实现思路
1、本技术的主要目的是提出一种闪存芯片测试装置，旨在解决目前闪存芯片slt测试成本高的技术问题。
2、为实现上述目的，本技术提出一种闪存芯片测试装置，该闪存芯片测试装置包括：
3、测试平台，设有主控单片机和转接接口座，所述...
【技术保护点】
1.一种闪存芯片测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的闪存芯片测试装置，其特征在于，所述转接接口座为多组，多组所述转接接口座在所述测试平台上呈并排设置或并列设置或阵列设置。
3.根据权利要求1所述的闪存芯片测试装置，其特征在于，所述测试平台的边缘位置设有通信接口，所述通信接口与所述主控单片机电性连接，用于连接上位机。
4.根据权利要求1所述的闪存芯片测试装置，其特征在于，所述测试平台上还设有定位组件，所述定位组件包括多个定位件，多个所述定位件环绕所述转接接口座设置，且从测试板的周侧方向对所述测试板进行定位。
<...【技术特征摘要】
1.一种闪存芯片测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的闪存芯片测试装置，其特征在于，所述转接接口座为多组，多组所述转接接口座在所述测试平台上呈并排设置或并列设置或阵列设置。
3.根据权利要求1所述的闪存芯片测试装置，其特征在于，所述测试平台的边缘位置设有通信接口，所述通信接口与所述主控单片机电性连接，用于连接上位机。
4.根据权利要求1所述的闪存芯片测试装置，其特征在于，所述测试平台上还设有定位组件，所述定位组件包括多个定位件，多个所述定位件环绕所述转接接口座设置，且从测试板的周侧方向对所述测试板进行定位。
5.一种闪存芯片测试设备，其特征在于，包括测试板和如权利要求1-4任一项所述的闪存芯片测试装置，所述测试板上设有对接接口座，所述测试板通过所述对接接口座与所述转接接口座相对接，以安装于所述测试平台上。
6.根据权利要求5所述的闪存芯片测试设备，其特征在于，所述测试板上设...
【专利技术属性】
技术研发人员：覃义平，
申请(专利权)人：联和存储科技江苏有限公司，
类型：新型
国别省市：
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