【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据存储，特别涉及一种nand flash的自动化测试方法、装置、系统和主机。
技术介绍
1、nand flash是指spi nand flash(serial peripheral interface nand flash，串行外设接口的闪存)，nand flash是一种常见的非易失性存储器。随着嵌入式系统和电子设备对存储器容量和性能的需求日益增长，nand flash作为一种低成本、易于集成的存储器，成为了解决方案的首要选择。nand flash被广泛应用于嵌入式系统和电子设备中。然而对于嵌入式系统和电子设备，存储器的性能尤为关键。但是nand flash的性能可能会受到多种因素的影响，例如写入功能、读取功能和擦除功能等。因此在nand flash使用过程中，需要测试nand flash的性能。
2、然而，现有的nand flash的测试方法，通常是采用通用编程器或嵌入式系统中的调试工具对nand flash进行测试，这种测试方法比较繁琐，且自动化程度较低，无法高效完成大量nand flash的快速测试，造...
【技术保护点】
1.一种NAND FLASH的自动化测试方法，其特征在于，所述NAND FLASH的自动化测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的NAND FLASH的自动化测试方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的NAND FLASH的自动化测试方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求1至3中任一项所述的NAND FLASH的自动化测试方法，其特征在于，所述与NAND FLASH建立SPI协议通信之后，还包括：
5.根据权利要求4所述的NAND FLASH的自动化测试方法，其特征在于，所述解析所述自动测试指令获取所述...
【技术特征摘要】
1.一种nand flash的自动化测试方法，其特征在于，所述nand flash的自动化测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的nand flash的自动化测试方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求1所述的nand flash的自动化测试方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求1至3中任一项所述的nand flash的自动化测试方法，其特征在于，所述与nand flash建立spi协议通信之后，还包括：
5.根据权利要求4所述的nand flash的自动化测试方法，其特征在于，所述解析所述自动测试指令获取所述写数据自动测试指令、所述读数据自动测试指令和/或所述擦数据自动测试指令之后，还包括：
6.根据权利要求4所述的nand flash的自动化测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：岳湖元，高伟，
申请(专利权)人：联和存储科技江苏有限公司，
类型：发明
国别省市：
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