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本技术公开一种闪存芯片测试装置及测试设备，该闪存芯片测试装置包括：测试平台，设有主控单片机和转接接口座，所述主控单片机与所述转接接口座电性连接，用于发送测试指令和接收测试数据，所述转接接口座可对接不同类型的测试板并进行协议转换，以与所述测试...
该专利属于联和存储科技（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联和存储科技（江苏）有限公司授权不得商用。

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