本发明公开了一种用于存储芯片晶圆测试方法及系统，属于晶圆测试技术领域，具体包括系统监控板、探针台、探针卡、驱动单元和电信号检测单元，其中：系统监控板与探针台通过联锁电缆连接进行信息交互，系统监控板通过控制信号连接驱动单元；驱动单元包括电...

本实用新型公开了一种感光芯片测试遮光罩，包括可以伸缩的上下开口设计遮光筒，遮光筒顶部可更换的设置有滤光板；滤光板上方设置有光源；滤光板和遮光筒的中心线位于同一直线上，光源发出的光束朝向滤光板和遮光筒的中心线；遮光筒顶端设置有XYZ调节机...

本发明公开了一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构，属于芯片测试技术领域，具体包括设置于测试头内的信号发生器和主板，以及构成Hi

本发明公开了一种基于测试设备的异常存储芯片检测方法，属于半导体测试技术领域，具体包括以下步骤：获得同一批次晶圆上的各个芯片的测试结果数据；对测试结果数据进行提取，得到特征数据，将每个芯片的测试数据结合生成每个批次晶圆的特征集，对特征集的...

本发明公开了一种协助远程调试的继电器矩阵软硬件系统，属于半导体测试技术领域，具体包括远程计算机、本地计算机、继电器矩阵、硬件电路板和示波器；所述远程计算机通过以太网连接本地计算机，调用本地计算机中的上位机软件/动态链接库，通过上位机软件...

本发明公开了一种虚拟ATE测试方法及系统，属于芯片测试技术领域，具体包括：在AItest的编译器中定义输入文件，定义完毕后，AItest将所述输入文件编译为可读取文件放至虚拟ATE指定目录下，并将待测芯片的verilog模型一同放置到虚...