一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构制造技术

本发明专利技术公开了一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构，属于芯片测试技术领域，具体包括设置于测试头内的信号发生器和主板，以及构成Hi

【技术实现步骤摘要】
一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，具体涉及一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构。

技术介绍

[0002]随着电子科技的日益进步，个人计算机、工作站、智能设备、监控设备等设备变得尤为普遍，这些设备中无一例外地使用了各种芯片，因此芯片测试设备变得尤为重要。
[0003]一般测试设备的主要测试部分的结构中（FT测试），socket用来固定待测器件，当用到socket时，socket将会被安装在DIB（Device 接口板）中；如果没有用到socket，而是直接与handler中的device接触的话，则使用HIB（Handler 接口板）。所有的信号发生器被放置在测试头中，信号发生器中的连接器将会直接与DIB或者HIB接触。
[0004]而CP测试机台的整体结构与上述的FT机台类似，与信号发生器接触的是PIB（Probe 接口板），PIB中会将信号发生器的信号通过probe tower传递到探针卡（PC）中，探针卡中的probe needle会直接与晶圆中的die相接触进行测试。
[0005]因此，多数情况下，在测试不同种类或者数量的芯片时，我们就需要更换不同的DIB、HIB或者PIB/PC以满足设计需求，而这些接口板在设计过程中需要花费大量的人力物力，尤其在面对高复杂度或者数量较多芯片测试的项目时，接口板的设计难度以及制造成本也会随之升高。另外，一整块的接口板在后期调试或者量产过程中如果出现问题的话，只能进行整板的测试以及替换，整个项目的时间和金钱成本会大大增加。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于提供一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构，解决以下技术问题：多数情况下，在测试不同种类或者数量的芯片时，我们就需要更换不同的DIB、HIB或者PIB/PC以满足设计需求，而这些接口板在设计过程中需要花费大量的人力物力，尤其在面对高复杂度或者数量较多芯片测试的项目时，接口板的设计难度以及制造成本也会随之升高；另外，一整块的接口板在后期调试或者量产过程中如果出现问题的话，只能进行整板的测试以及替换，整个项目的时间和金钱成本会大大增加。
[0007]本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构，包括设置于测试头内的信号发生器和主板，以及构成Hi
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Fix的接口板和插座基板，其中：主板，用于将来自不同信号发生器中的信号整理成相同的block并连接到接口板中，根据待测芯片选择对应的信号发生器配置；接口板，用于作为连接器联通主板和插座基板，通过relay切换使用接口板中的信号，并用于放置插座基板中放置不下的器件；插座基板，用于直接与DUT接触并进行测试，在同一个机台中测试不同的DUT，由若
干个小板卡组成。
[0008]作为本专利技术进一步的方案：所述主板包括4块，每块主板中包括32个完全相同的连接器，将不同信号发生器中的信号整合到连接器并传递到接口板中，每个连接器中的信号均匀分配；每块接口板中有4个连接器，每块主板通过线缆与8块相同的接口板连接，共连接32块完全相同的接口板；插座基板与接口板中连接器的位置相同，插座基板与接口板之间一一对应，共包括32块完全相同的插座基板，每个插座基板中有4个连接器，每个连接器中的信号通过插座基板分配至4个待测芯片进行测试；主板同时对512个DUT进行并行测试。
[0009]作为本专利技术进一步的方案：主板包括A、B、C和D四块区域，4块主板按照中心对称与四块区域对应，每块区域内包括12列不同的SLOT，将SLOT根据从区域的边缘至中心依次命名为SL01,SL02,
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,SL12，每一列SLOT对应一块信号发生器，其中SL04并不放置信号发生器，SL01到SL03放置功率类型的信号发生器，SL05到SL12放置数字类型的信号发生器和连接到接口板的连接器。
[0010]作为本专利技术进一步的方案：对于任一区域主板，分为TOP面和BOTTOM面，其上包括：PSU，放置在BOTTOM面的电源板卡，每块主板中连接有3块PSU板卡；HSU，放置在BOTTOM面的数字板卡，每块主板中连接有8块HSU板卡；HIF，放置在TOP面的连接器，每块主板中连接有8块HIF板卡，通过cable连接至接口板板卡上的连接器。
[0011]作为本专利技术进一步的方案：所述TOP面放置有主板
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I，主板
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J和接口板
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ID，用于接出GPIO和user 功率信号。
[0012]作为本专利技术进一步的方案：每一组接口板和HSU连接器中的布线完全相同，3个PSU中的信号被均匀分布到8个接口板连接器中。
[0013]作为本专利技术进一步的方案：每个接口板连接器中的信号分配都是完全相同的，每2X2布局的接口板连接器与一块接口板连接，用于联通主板和插座基板。
[0014]本专利技术的有益效果：（1）本专利技术的插座基板直接与DUT接触并进行测试，在同一个机台中测试不同的DUT，我们不需要像传统测试结构那样去重新设计DIB或者HIB，本司的测试结构中，仅需要重新设计一个插座基板就可以了，由于主板中每个block的信号分配都是相同的，所以我们的插座基板并不是一整块的大板卡，而是只需要设计一个小板卡，制作很多块插在相应的位置上即可，这样既降低了复杂度，又大大增加了可替代性；（2）本专利技术的主板是较大板卡，接口板和插座基板是小板卡，并且32块接口板或者插座基板的占用面积比一块主板都要小，在传统的DIB或者HIB设计中，面对512个DUT的测试，一整块的超大板卡会造成布局布线的复杂度的提升、叠层厚度增加并且损坏后不容易替换的缺点，而在我们所设计的结构中，虽然增加了板卡的种类，但是复杂度得到了降低，也可以多人并行去设计不同的板卡，大大降低了时间与金钱成本，在调试与量产的过程中，任何问题的产生都可以使用备用板卡来继续工作而不会导致生产的延期。
附图说明
[0015]下面结合附图对本专利技术作进一步的说明。
[0016]图1是本专利技术的结构示意图；图2是本专利技术的测试结构示意图；图3是本专利技术四块主板的布局示意图；图4是本专利技术单个主板区域的布局示意图；图5是本专利技术主板的布线示意简图。
具体实施方式
[0017]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0018]请参阅图1
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5所示，本专利技术为一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构，自下而上分别是放置在测试头内部的信号发生器（信号发生器），放置在测试头上的主板（主板），以及构成Hi
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Fix的接口板（接口板）和插座基板（插座基板），我们将原先的DIB或者HIB拆分成了三部分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构，其特征在于，包括设置于测试头内的信号发生器和主板，以及构成Hi
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Fix的接口板和插座基板，其中：主板，用于将来自不同信号发生器中的信号整理成相同的block并连接到接口板中，根据待测芯片选择对应的信号发生器配置；接口板，用于作为连接器联通主板和插座基板，通过relay切换使用接口板中的信号，并用于放置插座基板中放置不下的器件；插座基板，用于直接与待测芯片接触并进行测试，在同一个机台中测试不同的待测芯片，由若干个小板卡组成。2.根据权利要求1所述的一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构，其特征在于，所述主板包括4块，每块主板中包括32个完全相同的连接器，将不同信号发生器中的信号整合到连接器并传递到接口板中，每个连接器中的信号均匀分配；每块接口板中有4个连接器，每块主板通过线缆与8块相同的接口板连接，共连接32块完全相同的接口板；插座基板与接口板中连接器的位置相同，插座基板与接口板之间一一对应，共包括32块完全相同的插座基板，每个插座基板中有4个连接器，每个连接器中的信号通过插座基板分配至4个待测芯片进行测试；主板同时对512个DUT进行并行测试。3.根据权利要求1所述的一种用于512DUT存储器器件测试的板卡结构，其特征在于，主板包括A、B、C和D四块区域，4块主板按照中心对称与四块区域对应，每块区域内包括12列不同的SLOT，将SLOT根据从区域的边缘至中心依次命名...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐茂强，刘金海，
申请(专利权)人：悦芯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：