本技术公开了一种视觉检测结构，涉及芯片编带打包技术领域，其中，视觉检测结构应用于芯片编带设备，所述编带具有用以供芯片放置的口袋，所述视觉检测结构包括：检测位；光源，设于所述检测位一侧，且发出的光朝向所述检测位射出；以及相机，设于所述检测...

本技术公开了一种校正结构和测试分选机，涉及芯片加工技术领域，其中，校正结构包括：视觉组件，用以获取芯片的图像信息；以及校正组件，设于所述视觉组件下游，并与所述视觉组件电连接，所述校正组件包括校正座、多轴驱动件，所述校正座用以供芯片放置，...

本技术公开了一种位置检测结构和测试分选机，涉及芯片加工设备技术领域，其中，位置检测结构包括安装座，设有安装位；标记件，可拆卸于所述安装位，用以供吸嘴按压；当吸嘴按压所述标记件时，所述标记件获得所述吸嘴的标记；以及视觉组件，包括相机和光路...

本技术公开了一种视觉检测结构和测试分选机，涉及检测技术领域，其中视觉检测结构包括：安装座；相机，设于所述安装座；检测区域，设于所述安装座，且设有第一检测位；以及光路转向装置，安装于所述安装座；当芯片位于所述第一检测位时，所述光路转向装置...

本技术公开了一种打标检测结构和测试分选机，涉及芯片加工技术领域，其中，打标检测结构包括：安装座；转盘，转动安装于安装座，设有上下料工位、第一检测工位、打标工位；限位治具，安装于转盘，用以供芯片安装，转盘以使限位治具依次于下料工位、第一检...

本发明公开了一种视觉检测结构，涉及芯片编带打包技术领域，其中，视觉检测结构应用于芯片编带设备，所述编带具有用以供芯片放置的口袋，所述视觉检测结构包括：检测位；光源，设于所述检测位一侧，且发出的光朝向所述检测位射出；以及相机，设于所述检测...

本发明公开了一种测试分选机，涉及芯片加工设备技术领域，其中，测试分选机包括：机架；第一供料模块，安装于所述机架，用以供应物料；以及测试分选模块，安装于所述机架，所述测试分选模块包括第一转塔组件、第一校正组件、测试组件、打标组件、第二校正...

本技术涉及测试治具技术领域，并公开一种芯片测试治具，该芯片测试治具包括机架、测试台、测试座以及驱动组件；机架设有测试工位和上下料工位；测试台可转动地设于机架，测试台包括两个间隔设置的测试座，一测试座位于测试工位内，另一测试座位于上下料工...

本实用新型公开一种吊装供料机构及贴片机，涉及半导体封装技术领域。所述吊装供料机构包括顶针、供料组件和移动组件：所述供料组件包括与所述顶针位置对应的供料部，所述供料部上设置有多个抓夹，多个所述抓夹用于抓取所述顶针提供的芯片，所述供料部能够...

本实用新型公开了一种旋转贴附组件，芯片贴片领域，包括：视觉装置，所述视觉装置用于获取芯片的图像信息；调整组件，所述调整组件包括连接部和电机组件，所述连接部用于连接芯片；电机组件，所述电机组件包括转动电机，所述转动电机与所述连接部传动连接...

本发明公开了一种旋转贴附组件，芯片贴片领域，包括：视觉装置，所述视觉装置用于获取芯片的图像信息；调整组件，所述调整组件包括连接部和电机组件，所述连接部用于连接芯片；电机组件，所述电机组件包括转动电机，所述转动电机与所述连接部传动连接；控...

本实用新型公开了一种故障检测结构及分选机，所述故障检测结构应用于分选机，所述分选机包括控制装置以及分别与所述控制装置电连接的传送装置和报警装置，所述故障检测结构包括连接部、活动部以及传感结构，所述连接部设置有用于抓取物料的夹爪；所述活动...

本实用新型公开一种真空吸料组件及分选机，其中，真空吸料组件包括旋转盘和通气轴，通气轴设置于旋转盘的轴向一端，且与旋转盘间隙配合；旋转盘内设置有N条第一通道；通气轴正对旋转盘的一端设置有N个条形槽，通气轴开设有N条第二通道，每一第二通道的...

本实用新型公开一种扩膜机构及分选机，该扩膜机构包括主体、升降载板、载膜板、扩膜件、驱动组件以及锁紧件，其中锁紧件在张开位和锁紧位之间可转动切换的安装于所述升降载板。所述驱动组件驱动所述升降载板下降时，所述锁紧件切换至锁紧位，所述载膜板跟...

本实用新型公开了一种检测组件与芯片分选机，包括载台、载带、第一驱动模块、第二驱动模块、视觉模块、吸嘴模块和控制装置；载台用于承载载带，载带用于传输物料，物料包括具有载带口袋位的载体和贴设于该载带口袋位上的芯片，第一驱动模块与载带驱动连接...

本发明公开了一种贴片机，涉及贴片领域，包括：晶圆装载台组件，用于运送芯片；刺晶组件，所述刺晶组件设置于所述晶圆装载台组件上方，用于将所述晶圆装载台上的芯片刺落；旋转贴附组件，所述旋转贴附组件设置于所述晶圆装载台组件下方，用于吸取并运送所...

本发明公开一种扩膜机构及分选机，该扩膜机构包括主体、升降载板、载膜板、扩膜件、驱动组件以及锁紧件，其中锁紧件在张开位和锁紧位之间可转动切换的安装于所述升降载板。所述驱动组件驱动所述升降载板下降时，所述锁紧件切换至锁紧位，所述载膜板跟随所...

本实用新型公开一种分选机及其侧面检测机构，涉及半导体制造技术领域。所述侧面检测机构包括支撑架、反射组件、光源和检测部，所述支撑架设置于所述侧面检测机构上；所述反射组件能够反射光线，所述反射组件设置于所述支撑架上；所述光源设置于所述支撑架...

本实用新型公开了一种可供不同尺寸封条使用的封刀部件和分选机，所公开的可供不同尺寸封条使用的封刀部件包括支撑架、左封刀组件和右封刀组件，其中，支撑架包括两根沿z轴延伸的竖杆以及一根沿x轴延伸且连接于两根所述竖杆之间的横杆；左封刀组件和右封...

本实用新型公开一种芯片推送装置及晶圆分选机，所述芯片分选机包括所述芯片推送装置，所述芯片推送装置包括推送机构、弹性机构、检测机构和控制装置，所述推送机构包括驱动组件和推送组件，所述推送组件与所述驱动组件驱动连接，所述推送组件推送方向对应...