本实用新型公开了半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，包括第一本体、第二本体、调节装置和固定装置，所述第一本体通过滑动装置镶嵌有第二本体，且第一本体和第二本体为T形，所述第一本体和第二本体的一端均镶嵌有调节装置，且第一本体和第二本体与调...

本发明公开了一种半导体测试用转向槽装置，包括固定柱、转向槽、和定位装置，所述固定柱包括第一立柱和第二立柱，第一立柱通过转轴与第二立柱相连接，所述第二立柱的上端设置有定位装置，所述转向槽的下端设置有定位槽和定位轴，所述定位轴通过第一锁紧螺...

本实用新型公开了一种转塔式吸嘴，属于半导体加工设备技术领域，该吸嘴包括固定座、活动体和弹簧，活动体通过弹簧与固定座活动连接，活动体包括上压块、与上压块连接的中间杆以及与中间杆连接的下压块，中间杆贯穿固定座，上压块上设有吸气口，中间杆上设...

本发明公开一种基于自动化射频测试平台NOVA的扩频装置及扩频方法，主要包括信号发生器、混频器、功分器和射频开关。PXI平台和信号发生器同时发出射频信号，信号发生器发出的信号经过功分器后，一部分与PXI平台发出的信号在混频器中耦合，产生所...

本发明公开了一种芯片测试探针台保护罩，属于半导体测试技术领域，用于遮罩探针台上的探针卡，包括罩体和设置在罩体上的摄像装置，罩体上设有透明观察窗，摄像装置包括主机和用于拍摄探针卡的探头软管，主机与探针台连接，罩体上设有引导探头软管的导向管...

本实用新型公开了一种新型顶管弹簧片，包括下板、缓压机构、上板和弹簧片组，所述下板的中部向下设置有圆弧凹槽，所述缓压机构分别垂直设置在圆弧凹槽的上表面四角位置，且缓压机构的上方连接有上板，所述圆弧凹槽的左右两侧均垂直固定有限位条，且限位条...

本实用新型公开了一种用于半导体测试的托盘防放反装置，包括工作台、托盘、凸块和压紧装置，所述工作台上设置有放置槽，且放置槽的大小与托盘的大小相匹配，所述放置槽的右下角设置有凸块，托盘的右下角设置有缺口，所述工作台的一侧设置有压紧装置，且压...

本实用新型公开了一种半导体测试用支架，包括底座、第一滑动装置、第二滑动装置、伸缩杆和测试座，所述底座上设置有第一滑动装置，且第一滑动装置上设置有第二滑动装置，第二滑动装置上设置有伸缩杆，所述伸缩杆上设置有测试座，所述第一滑动装置通过支撑...

本实用新型公开了一种半导体测试用高适用性的探针卡盘，包括卡盘、方槽、圆槽、嵌槽和夹紧装置，所述卡盘正中间设置有圆槽，且卡盘上设置有方槽，所述圆槽和方槽相重合，所述圆槽的两侧壁上均匀设置有嵌槽，所述嵌槽内部设置有夹紧装置，且夹紧装置与卡盘...

本实用新型公开一种适用于Docking Plate定位模块的定位拆装装置，包括定位模块的定位台面以及需安装在定位台面上的定位板；所述的定位台面上设置有一向上的定位凸块，而所述定位板的下端面两侧均相应设置有向下伸出的定位侧板；且两个定位侧...

本实用新型公开一种基于自动化射频测试平台NOVA的扩频装置，主要包括信号发生器、混频器、功分器和射频开关。PXI平台和信号发生器同时发出射频信号，信号发生器发出的信号经过功分器后，一部分与PXI平台发出的信号在混频器中耦合，产生所需的射...

本实用新型公开了一种新型进料轨道，包括导轨底板和导轨护板，所述导轨底板的上表面中部设置有安置槽，且安置槽的内侧安装有实心传送带，所述实心传送带的中部固定有空心传送带，所述导轨底板的两侧上方均垂直固定有导轨护板，且导轨护板的中部均对称设置...

本发明公开一种用于半导体测试中的分离器接料块，包括接料块，接料块上设置有一感应槽，感应槽的两侧分别设置有感应器，两侧感应器的感应光线分别从感应槽两侧射入形成对射；感应槽的槽体下侧设置有调节块，接料块下端两侧设置有固定块，两侧的固定块之间...

本发明公开了一种半导体测试用安全门加强装置，包括第一本体、第二本体、调节装置和固定装置，所述第一本体通过滑动装置镶嵌有第二本体，且第一本体和第二本体为T形，所述第一本体和第二本体的一端均镶嵌有调节装置，且第一本体和第二本体与调节装置之间...

本发明公开了一种半导体托盘运输用皮带挡片，包括本体、开口、夹紧装置和限位装置，所述本体的下端一侧设置有开口，且开口包括上边和侧边，所述本体的一侧面设置有两个夹紧装置，且两个夹紧装置分别与上边和侧边相对应，所述本体的另一侧面设置有限位装置...

本发明公开了一种高效率的进料轨道，包括导轨底板和导轨护板，所述导轨底板的上表面中部设置有安置槽，且安置槽的内侧安装有实心传送带，所述实心传送带的中部固定有空心传送带，所述导轨底板的两侧上方均垂直固定有导轨护板，且导轨护板的中部均对称设置...

本发明公开了一种长寿命的新型顶管弹簧片，包括下板、缓压机构、上板和弹簧片组，所述下板的中部向下设置有圆弧凹槽，所述缓压机构分别垂直设置在圆弧凹槽的上表面四角位置，且缓压机构的上方连接有上板，所述圆弧凹槽的左右两侧均垂直固定有限位条，且限...

本发明公开一种芯片CP测试中DELP系列探针台驱动配置方法，包括归类针卡分布图，为每一类分布图配置对应的驱动程序；根据归类情形制作包含所有驱动程序的列表和批处理文件；执行批处理文件，选择驱动程序编号，批处理程序则自动向测试机主机操作系统...

本实用新型公开一种多SITE LCD驱动芯片检测装置，包括上位机、主控板、电源板和若干设置有待测LCD驱动芯片的载板，所述主控板包括可编程逻辑器件、内存单元、ADC模块、模拟开关矩阵和USB总线芯片，对上位机传输的控制信息进行解析，启动...

本发明公开一种自动化IC测试的在线监测和分析方法，以标识码的方式表征测试的失效项及失效严重程度；实现多种场景下的风险预警；实现判断风险级别并选择处理方式；实现判断异常发生的时机。本发明对IC自动化测试实现在线监测和分析，能够在异常发生的...