半导体测试用防止损坏的安全门加强结构制造技术

本实用新型专利技术公开了半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，包括第一本体、第二本体、调节装置和固定装置，所述第一本体通过滑动装置镶嵌有第二本体，且第一本体和第二本体为T形，所述第一本体和第二本体的一端均镶嵌有调节装置，且第一本体和第二本体与调节装置之间设置有固定装置，所述调节装置与第一本体和第二本体均构成滑动结构，且调节装置和第一本体和第二本体上均设置有螺栓孔。该半导体测试用防止损坏的安全门加强结构为T形街否，能够通过螺栓孔使用螺栓把加强装置固定在安全门上面，大大加强了门边缘的强度，防止们出现破裂影响使用，大大延长了安全门的使用寿命，降低了公司的成本。司的成本。司的成本。

【技术实现步骤摘要】
半导体测试用防止损坏的安全门加强结构


[0001]本技术属于半导体生产设备
，具体为半导体测试用防止损坏的安全门加强结构。

技术介绍

[0002]半导体(semiconductor)，指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料，半导体在生产过程中要进行测试，在生产过程中，操作员因为需要反复打开设备安全门，导致安全门经常损坏。

技术实现思路

[0003]针对现有技术存在的上述问题，本技术所要解决的技术问题在于提供半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，以解决目前的反复打开设备安全门，导致安全门经常损坏的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：
[0005]半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，包括第一本体、第二本体、调节装置和固定装置，所述第一本体通过滑动装置镶嵌有第二本体，且第一本体和第二本体为T形，第一本体和第二本体为固定连接，所述第一本体和第二本体的一端均镶嵌有调节装置，且第一本体和第二本体与调节装置之间设置有固定装置，所述调节装置与第一本体和第二本体均构成滑动结构，且调节装置和第一本体和第二本体上均设置有螺栓孔。
[0006]进一步的，所述第一本体和第二本体内均匀设置有2条插孔上。
[0007]进一步的，所述调节装置包括安装板和插条，所述安装板的一侧设置有2个插条，插条与插孔相对应，且插条的一侧面上均匀设置有钳口。
[0008]进一步的，所述固定装置设置有在第一本体和第二本体上，固定装置包括按板和插头，按板和插头固定连接，按板和插头之间设置有插杆，插头位于插孔中，且插头与钳口相对应。
[0009]进一步的，所述钳口切面为倒置梯形，插头的切面为倒置梯形，且插头顶端两侧设置有间隙。
[0010]进一步的，所述固定装置与第一本体和第二本体活动连接。
[0011]有益效果：与现有技术相比，本申请具有以下优势：
[0012]1.该半导体测试用防止损坏的安全门加强结构为T形街否，能够通过螺栓孔使用螺栓把加强装置固定在安全门上面，大大加强了门边缘的强度，防止们出现破裂影响使用，大大延长了安全门的使用寿命，降低了公司的成本。
[0013]2.该半导体测试用防止损坏的安全门加强结构的第一本体和第二本体均设置有调节装置，使用者可根据不同的安全门来控制调节装置的位置，调节装置可以在第一本体
和第二本体内延伸增加长度，以此提高长度，当长度调节完毕之后，按下固定装置，固定装置就会卡死在调节装置中，以此控制整体的大小，大大提高加强装置与不同安全门的配合度，提高适用性。
附图说明
[0014]图1是半导体测试用防止损坏的安全门加强结构面结构示意图；
[0015]图2是半导体测试用防止损坏的安全门加强结构部分结构示意图；
[0016]图3是固定装置结构示意图。
具体实施方式
[0017]下面结合附图对本技术做进一步的说明。
[0018]如图1、图2和图3所示，本申请的半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，包括第一本体1、第二本体2、调节装置3和固定装置7，第一本体1通过滑动装置镶嵌有第二本体2，且第一本体1和第二本体2为T形，第一本体1和第二本体2为固定连接，提高连接强度和温度性，第一本体1和第二本体2的一端均镶嵌有调节装置3，且第一本体1和第二本体2与调节装置3之间设置有固定装置7，调节装置3与第一本体1和第二本体2均构成滑动结构，使用者可根据不同的安全门来控制调节装置的位置，调节装置3可以在第一本体1和第二本体2内延伸增加长度，以此提高长度，当长度调节完毕之后，按下固定装置7，固定装置7就会卡死在调节装置3中，以此控制整体的大小，大大提高加强装置与不同安全门的配合度，提高适用性，且调节装置3和第一本体1和第二本体2上均设置有螺栓孔10，方便利用螺栓把加强装置安装固定在安全门上。
[0019]第一本体1和第二本体2内均匀设置有2条插孔11，插孔切面为方形，防止插条5意外旋转，插条5可以在插孔11中抽拉，插孔11中设置有防滑螺纹，能够防止插条5意外滑动，提供一小部分摩擦力。
[0020]调节装置3包括安装板4和插条5，安装板4和插条5固定连接，提高连接对强度和稳定性，安装板4的一侧设置有2个插条5，插条5与插孔11相对应，保证调节装置3的抽拉，且插条5的一侧面上均匀设置有钳口6，钳口6方便与固定装置7的结合。
[0021]固定装置7设置有在第一本体1和第二本体2上，固定装置7包括按板8和插头9，按板8和插头9固定连接，保证连接强度，按板8和插头9之间设置有插杆，插杆的高度大于第一本体1和第二本体2的侧壁，插头9位于插孔11中，插头9可以利用插杆上下调整位置，插孔11与插条5之间存在间隙，插头9不会影响插条5的正常抽拉，且插头9与钳口6相对应，当调节装置调整好位置之后，按下按板8，插头9就会插到钳口6中固定调节装置。
[0022]钳口6切面为倒置梯形，插头9的切面为倒置梯形，且插头9顶端两侧设置有间隙，保证插头9可以插到钳口6内部，而且插头9无法从钳口6中脱离，保证固定强度。
[0023]固定装置7与第一本体1和第二本体2活动连接，固定装置7可以利用插杆多余的长度进行上下滑动，防止影响插条5的正常滑动。
[0024]本技术提供了半导体测试用防止损坏的安全门加强结构的思路及实施方法，具体应用途径很多，以上仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以做出若干改进，这些改进也应
视为本技术的保护范围。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，其特征在于：包括第一本体(1)、第二本体(2)、调节装置(3)和固定装置(7)，所述第一本体(1)通过滑动装置镶嵌有第二本体(2)，且第一本体(1)和第二本体(2)为T形，第一本体(1)和第二本体(2)为固定连接，所述第一本体(1)和第二本体(2)的一端均镶嵌有调节装置(3)，且第一本体(1)和第二本体(2)与调节装置(3)之间设置有固定装置(7)，所述调节装置(3)与第一本体(1)和第二本体(2)均构成滑动结构，且调节装置(3)和第一本体(1)和第二本体(2)上均设置有螺栓孔(10)。2.根据权利要求1所述的半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，其特征在于：所述第一本体(1)和第二本体(2)内均匀设置有2条插孔(11)。3.根据权利要求1所述的半导体测试用防止损坏的安全门加强结构，其特征在于：所述调节装置(3)包...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛丹辉，周鑫，
申请(专利权)人：江苏艾科半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：