一种用于半导体测试的托盘防放反装置制造方法及图纸

技术编号:34697381 阅读:13 留言:0更新日期:2022-08-27 16:33
本实用新型专利技术公开了一种用于半导体测试的托盘防放反装置,包括工作台、托盘、凸块和压紧装置,所述工作台上设置有放置槽,且放置槽的大小与托盘的大小相匹配,所述放置槽的右下角设置有凸块,托盘的右下角设置有缺口,所述工作台的一侧设置有压紧装置,且压紧装置的位置与托盘的位置相对应。该用于半导体测试的托盘防放反装置的放置槽内设置有凸块,托盘上设置有缺口,当正确放置的时候,托盘的缺口与放置槽的凸块相配合,托盘正好放置在放置槽内部,当使用者的托盘位置放错的时候,托盘的其他三个角都会抵住凸块,不能放置在放置槽内,提醒使用者,正确安装,防止产品反向放置,防止损坏产品,提高工作效率。提高工作效率。提高工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体测试的托盘防放反装置


[0001]本技术属于半导体测试领域,具体为一种用于半导体测试的托盘防放反装置。

技术介绍

[0002]半导体(semiconductor),指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制,范围可从绝缘体至导体之间的材料,半导体在生产过程中要进行测试,在生产过程中,操作员经常把托盘放反,导致产品方向反向放置,容易损坏产品,如果放反,需要人员在重新放置,影响产量。

技术实现思路

[0003]针对现有技术存在的上述问题,本技术所要解决的技术问题在于提供一种用于半导体测试的托盘防放反装置,以解决目前的托盘没有防放反装置,容易损坏产品,影响效率的问题。
[0004]为了解决上述技术问题,本技术采用的技术方案为:
[0005]一种用于半导体测试的托盘防放反装置,包括工作台、托盘、凸块和压紧装置,所述工作台上设置有放置槽,且放置槽的大小与托盘的大小相匹配,所述放置槽的右下角设置有凸块,托盘的右下角设置有缺口,所述工作台的一侧设置有压紧装置,且压紧装置的位置与托盘的位置相对应。
[0006]进一步的,所述放置槽的一侧设置有第一抠槽,托盘的一侧设置有第二抠槽,且第一抠槽的位置与第二抠槽的位置相对应。
[0007]进一步的,所述压紧装置包括弹簧和下压板,所述弹簧为碟形弹簧,且弹簧的一端与工作台相连接,弹簧的另一端与下压板相连接。
[0008]进一步的,所述下压板的一端下底面设置有切入口,且切入口为倾斜装置,切入口与水平面构成45
°
夹角。
[0009]进一步的,所述托盘的高度大于放置槽的高度。
[0010]进一步的,所述弹簧的一端与工作台固定连接,弹簧的另一端与下压板固定连接。
[0011]有益效果:与现有技术相比,本申请具有以下优势:
[0012]该用于半导体测试的托盘防放反装置的放置槽内设置有凸块,托盘上设置有缺口,当正确放置的时候,托盘的缺口与放置槽的凸块相配合,托盘正好放置在放置槽内部,当使用者的托盘位置放错的时候,托盘的其他三个角都会抵住凸块,不能放置在放置槽内,提醒使用者,正确安装,防止产品反向放置,防止损坏产品,提高工作效率,而且工作台上设置有压紧装置,压紧装置能够紧紧固定住托盘,保证托盘的稳定性。
附图说明
[0013]图1是用于半导体测试的托盘防放反装置结构示意图;
[0014]图2是用于半导体测试的托盘防放反装置部分结构示意图。
具体实施方式
[0015]下面结合附图对本技术做进一步的说明。
[0016]如图1和图2所示,本申请的用于半导体测试的托盘防放反装置,包括工作台1、托盘3、凸块5和压紧装置,工作台1上设置有放置槽2,且放置槽2的大小与托盘3的大小相匹配,托盘3上可以放置待测半导体,托盘3放置在放置槽2内,放置槽2的右下角设置有凸块5,托盘3的右下角设置有缺口4,当正确放置的时候,托盘3的缺口4与放置槽2内的凸块5相配合,托盘3正好放置在放置槽2内部,当使用者的托盘位置放错的时候,托盘3的其他三个角都会抵住凸块5,不能放置在放置槽2内,提醒使用者,正确安装,防止产品反向放置,防止损坏产品,提高工作效率,工作台1的一侧设置有压紧装置,且压紧装置的位置与托盘3的位置相对应,当托盘正确放置的时候,压紧装置会压住托盘3的边框,保证托盘3的稳定性,防止托盘晃动,影响检测。
[0017]放置槽2的一侧设置有第一抠槽8,托盘3的一侧设置有第二抠槽9,且第一抠槽8的位置与第二抠槽9的位置相对应,第二抠槽9设置在托盘3一侧的下方,当需要取出来托盘3的时候,就可以利用第一抠槽8和第二抠槽9直接把托盘3取出来,简单方便。
[0018]压紧装置包括弹簧6和下压板7,弹簧6为碟形弹簧,且弹簧6的一端与工作台1相连接,弹簧6的另一端与下压板7相连接,当托盘3正确放入放置槽2内部的时候,托盘3的一边水接触下压板7,托盘3把下压板7顶起一小段高度,下压板7利用弹簧6的反作用力压住托盘3的边框,保证托盘3的稳定性,防止托盘晃动,影响检测。
[0019]下压板7的一端下底面设置有切入口,且切入口为倾斜装置,切入口与水平面构成45
°
夹角,当托盘3放入放置槽2内部的时候,托盘3的一边会率先接触切入口,更加方便托盘3放在下压板7的下方,方便放置的灵敏度。
[0020]托盘3的高度大于放置槽2的高度,方便取放,而且方便压紧装置压住托盘3。
[0021]弹簧6的一端与工作台1固定连接,弹簧6的另一端与下压板7固定连接,固定连接提高连接强度和稳定性,保证压紧装置能够对托盘3施加作用力,而且多次使用不容易断裂。
[0022]本技术提供了一种用于半导体测试的托盘防放反装置的思路及实施方法,具体应用途径很多,以上仅是本技术的优选实施方式,应当指出,对于本
的普通技术人员来说,在不脱离本技术原理的前提下,还可以做出若干改进,这些改进也应视为本技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于半导体测试的托盘防放反装置,其特征在于:包括工作台(1)、托盘(3)、凸块(5)和压紧装置,所述工作台(1)上设置有放置槽(2),且放置槽(2)的大小与托盘(3)的大小相匹配,所述放置槽(2)的右下角设置有凸块(5),托盘(3)的右下角设置有缺口(4),所述工作台(1)的一侧设置有压紧装置,且压紧装置的位置与托盘(3)的位置相对应。2.根据权利要求1所述的用于半导体测试的托盘防放反装置,其特征在于:所述放置槽(2)的一侧设置有第一抠槽(8),托盘(3)的一侧设置有第二抠槽(9),且第一抠槽(8)的位置与第二抠槽(9)的位置相对应。3.根据权利要求2所述的用于半导体测试的托盘防放反装置,其特征在于:...

【专利技术属性】
技术研发人员:毛丹辉周鑫
申请(专利权)人:江苏艾科半导体有限公司
类型:新型
国别省市:

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