本发明专利技术公开了一种半导体测试用转向槽装置，包括固定柱、转向槽、和定位装置，所述固定柱包括第一立柱和第二立柱，第一立柱通过转轴与第二立柱相连接，所述第二立柱的上端设置有定位装置，所述转向槽的下端设置有定位槽和定位轴，所述定位轴通过第一锁紧螺栓与第二立柱相配合，定位槽与定位装置相配合。该半导体测试用转向槽装置设置有固定柱和转向槽，当更换不同的产品的时候，只需要调整第二立柱的角度，使第二立柱上面的定位装置达到合适的位置，然后就可以把转向槽直接固定在第二立柱上即可，不再需要用软件不的进行调整，保证安装、调整方便，从而提升生产效率，满足生产要求。满足生产要求。满足生产要求。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试用转向槽装置
[0001]本专利技术属于半导体生产设备
，具体为一种半导体测试用转向槽装置。
技术介绍
[0002]半导体(semiconductor)，指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料，半导体在生产过程中要进行测试，在测试过程中，产品旋转到测试及进编带所需要的方向，现有的转向槽为分离式，更换转向槽时位置无法固定很难调整，要经常调准角度之后在进行侧视，导致更换工时提高，从而导致效率异常。
技术实现思路
[0003]针对现有技术存在的上述问题，本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种半导体测试用转向槽装置，以解决目前的现有的转向槽为分离式，更换转向槽时位置无法固定很难调整，要经常调准角度之后在进行侧视，导致更换工时提高，从而导致效率异常的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：
[0005]一种半导体测试用转向槽装置，包括固定柱、转向槽、和定位装置，所述固定柱包括第一立柱和第二立柱，第一立柱通过转轴与第二立柱相连接，所述第二立柱的上端设置有定位装置，所述转向槽的下端设置有定位槽和定位轴，所述定位轴通过第一锁紧螺栓与第二立柱相配合，定位槽与定位装置相配合。
[0006]进一步的，所述第一立柱的上端设置有第一连接圈，第二立柱的下端设置有第二连接圈，且第一连接圈和第二连接圈的位置相对应，所述第一连接圈和第二连接圈上均匀设置有螺栓孔，第一连接圈和第二连接圈通过螺栓相配合。
[0007]进一步的，所述第二立柱的上端正中间设置有嵌槽，立柱的上端面设置有滑动槽，嵌槽与定位轴相配合，滑动槽与定位装置相配合。
[0008]进一步的，所述第二立柱的侧面分别设置有第一锁紧螺栓和第二锁紧螺栓，第一锁紧螺栓通过螺栓孔与定位轴相对应，第二锁紧螺栓通过螺栓孔与定位装置相对应。
[0009]进一步的，所述定位装置包括滑动块和定位块，所述滑动块的上端设置有定位块，且滑动块位于滑动槽内部，所述定位块的上部两侧设置有连接槽，且连接槽内部通过弹簧设置有配合块。
[0010]进一步的，所述定位槽的内部两侧均设置有配合槽，且配合槽与配合块相配合。
[0011]进一步的，所述配合块的切面为半圆，配合槽的切面为弧形。
[0012]进一步的，所述第二立柱的下端外表面设置有刻度。
[0013]有益效果：与现有技术相比，本申请具有以下优势：
[0014]1.该半导体测试用转向槽装置设置有固定柱和转向槽，当更换不同的产品的时候，只需要调整第二立柱的角度，使第二立柱上面的定位装置达到合适的位置，然后就可以
把转向槽直接固定在第二立柱上即可，不再需要用软件不的进行调整，保证安装、调整方便，从而提升生产效率，满足生产要求。
[0015]2.该半导体测试用转向槽装置的定位装置可以调整位置，使用者可以根据不同的大小的转向槽来调整固定装置的位置，是固定装置能够更好配合不同的转向槽，大大提高了适用性。
附图说明
[0016]图1是半导体测试用转向槽装置面结构示意图；
[0017]图2是半导体测试用转向槽装置部分结构示意图；
[0018]图3是定位装置配合示意图。
具体实施方式
[0019]下面结合附图对本专利技术做进一步的说明。
[0020]如图1、图2和图3所示，本申请的半导体测试用转向槽装置，包括固定柱1、转向槽5、和定位装置11，固定柱1包括第一立柱2和第二立柱3，第一立柱2通过转轴4与第二立柱3相连接，转轴4的与第一立柱2固定连接，第二立柱3通过凹槽与转轴4活动连接，保证第二立柱3可以选转调整角度，到遇到不同大小的转向槽5的时候，可以选转第二立柱3调整定位装置11的位置角度，保证定位装置11与转向槽5的完美配合，第二立柱3的上端设置有定位装置11，转向槽5的下端设置有定位槽6和定位轴7，定位轴7通过第一锁紧螺栓9与第二立柱3相配合，定位槽6与定位装置11相配合，当更换不同的产品的时候，只需要调整第二立柱3的角度，使第二立柱3上面的定位装置11达到合适的位置，然后就可以把转向槽5直接固定在第二立柱3上即可，转向槽5的定位槽6对准定位装置11即可，不再需要用软件不的进行调整，保证安装、调整方便，从而提升生产效率，满足生产要求。
[0021]第一立柱2的上端设置有第一连接圈201，第二立柱3的下端设置有第二连接圈301，第一立柱2与第一连接圈201和第二立柱3与第二连接圈301均为固定连接，提高连接强度，且第一连接圈201和第二连接圈301的位置相对应，第一连接圈201和第二连接圈301上均匀设置有螺栓孔，第一连接圈201和第二连接圈301通过螺栓8相配合，当第二立柱3的位置调整好之后，利用螺栓8把第一连接圈201和第二连接圈301固定住，保证固定柱1整体的稳定性，保证后期检测过程中随意晃动。
[0022]第二立柱3的上端正中间设置有嵌槽303，立柱3的上端面设置有滑动槽302，嵌槽303与定位轴7相配合，定位轴7可以插到嵌槽103内部，嵌槽103内设置有防滑螺纹，提高摩擦力，增加一些阻力，防止安装时晃动，滑动槽302与定位装置11相配合，定位装置11可以在滑动槽302中滑动，调整位置，保证定位装置11与转向槽5的配合。
[0023]第二立柱3的侧面分别设置有第一锁紧螺栓9和第二锁紧螺栓10，第一锁紧螺栓9通过螺栓孔与定位轴7相对应，第二锁紧螺栓10通过螺栓孔与定位装置11相对应，当转向槽5安装在第二立柱3上的时候，定位轴7插在嵌槽303内，拧紧第一锁紧螺栓9，第一锁紧螺栓9就会紧紧顶住定位轴7，防止定位轴7晃动，定位装置11调整好位置后，就可以拧紧第二锁紧螺栓10，第二锁紧螺栓10就会紧紧顶住定位装置11，防止定位装置11晃动。
[0024]定位装置11包括滑动块12和定位块13，滑动块12的上端设置有定位块13，且滑动
块12位于滑动槽302内部，滑动块12在滑动槽302内滑动调整最佳距离，然后通过第二锁紧螺栓10进行固定，使用者可以根据不同的大小的转向槽来调整固定装置的位置，是固定装置能够更好配合不同的转向槽，大大提高了适用性，定位块13的上部两侧设置有连接槽131，且连接槽131内部通过弹簧14设置有配合块15，当配合块15受到挤压的时候，配合块15就可以挤到连接槽131内部。
[0025]定位槽6的内部两侧均设置有配合槽601，且配合槽601与配合块15相配合，当转向槽5压入定位块13的时候，配合块15先是受到定位槽6的挤压进入连接槽131内，保证定位槽6顺利压入定位块13上，当到达配合槽601的时候配合块15不受力，在弹簧14的作用下弹开，配合块15与配合槽601配合，保证其配合完毕。
[0026]配合块15的切面为半圆，配合槽601的切面为弧形，方本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体测试用转向槽装置，其特征在于：包括固定柱(1)、转向槽(5)、和定位装置(11)，所述固定柱(1)包括第一立柱(2)和第二立柱(3)，第一立柱(2)通过转轴(4)与第二立柱(3)相连接，所述第二立柱(3)的上端设置有定位装置(11)，所述转向槽(5)的下端设置有定位槽(6)和定位轴(7)，所述定位轴(7)通过第一锁紧螺栓(9)与第二立柱(3)相配合，定位槽(6)与定位装置(11)相配合。2.根据权利要求1所述的半导体测试用转向槽装置，其特征在于：所述第一立柱(2)的上端设置有第一连接圈(201)，第二立柱(3)的下端设置有第二连接圈(301)，且第一连接圈(201)和第二连接圈(301)的位置相对应，所述第一连接圈(201)和第二连接圈(301)上均匀设置有螺栓孔，第一连接圈(201)和第二连接圈(301)通过螺栓(8)相配合。3.根据权利要求1所述的半导体测试用转向槽装置，其特征在于：所述第二立柱(3)的上端正中间设置有嵌槽(303)，立柱(3)的上端面设置有滑动槽(302)，嵌槽(303)与定位轴(7)相配合，滑动槽(302)与定位装...
【专利技术属性】
技术研发人员：毛丹辉，陈素亮，
申请(专利权)人：江苏艾科半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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