一种自动化IC测试的在线监测和分析方法技术

本发明专利技术公开一种自动化IC测试的在线监测和分析方法，以标识码的方式表征测试的失效项及失效严重程度；实现多种场景下的风险预警；实现判断风险级别并选择处理方式；实现判断异常发生的时机。本发明专利技术对IC自动化测试实现在线监测和分析，能够在异常发生的萌芽阶段发现并及时采取处理措施。基于对异常的严重程度的判断，实现在生产过程中的质量规范，借助算法判断异常的起始位置，节约了异常发生后的处理时间，降低了误判的可能性。

【技术实现步骤摘要】
一种自动化IC测试的在线监测和分析方法
本专利技术属于芯片测试
，具体涉及一种自动化IC测试的在线监测和分析方法。
技术介绍
自动化IC测试是芯片生产的必要环节，也是流向应用前的最后一个环节，对于产品的质量把控至关重要，由于芯片的pin脚数量和功能愈发复杂，所需测试的项目数量和种类也越来越多现有的自动化IC测试系统通常基于整体良率判断是否发生异常，。当测试异常发生后，由于需要定位异常发生的节点，工程师往往需要解读大量测试数据，这可能导致耗时甚至误判。而对于异常发生前的预兆无法做出判断并及时采取措施，这可能导致测试过程中连续发生良品的误宰；异常发生后，异常处理人员在处理过程中需分析数据判断异常起始点，不仅耗时还存在误判的可能性。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题：对于自动化测试过程中存在的异常不能准确的预判和异常发生的时机不能准确定位。技术方案：为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案如下：一种自动化IC测试的在线监测和分析方法，包括以下步骤：S1：对单颗芯片进行每个测试项的测试，生成测试数据；S2：以当前测试数据偏离平均值的程度将测试风险划划分为多个风险级别，不同级别对应相应的风险级别编码；S3：测试数据与风险等级编码组合生成标识码；S4：自动化测试时，设定样本数量N，当测试的芯片数量为N的整数倍时，计算当前的风险值并判断是否触发异常报警。作为优选，步骤S1中，单颗芯片测试的步骤为：S11：开逐个测试每个测试项；r>S12：判断是否为最后一个测试项，如果是，则生成测试数据和标识码；如果不是则执行S11，继续进行测试。作为优选，步骤S1中，对于每个测试项，若测得值在测试上限和下限之间，则判定为PASS，以“1”表示；若不介于测试上限和下限之间，则判定为FAIL，以“0”表示，所有测试项结果生成一组二进制数值，并将表征所有测试项结果的二进制数值转换为十六进制数。作为优选，针对测试中的关键项目，以当前测试数据偏离平均值的程度将测试风险划从低到高划分为多个级别，不同级别对应相应的风险级别编码，且每个风险级别对应不同的风险因子；将生成的风险级别编码置于生成的十六进制数末位，从而生成测试结果的标识码。作为优选，步骤S2中，风险值由风险级别出现的频次和风险因子进行表征，风险值等于每个级别出现频次与风险因子乘积之和，风险值计算方式如下：RiskV＝TA*RA+TB*RB+…+TJ*RJ式中，RiskV为风险值；A，B，C，d…J为风险级别编码；TA，TB，TC…TJ为每个风险级别出现的频次；RA，RB，RC…RJ为风险因子。作为优选，步骤S4中，自动化测试的步骤为：S41：逐个测试每颗芯片；S42：判断是否为最后一颗芯片，如果是，结束自动化测试；如果不是，继续执行步骤S43；S43：判断芯片数是否为样本数量N的整数倍，如果是，则执行步骤S44；如果不是，则执行S41，继续进行测试；S44：根据前N颗芯片的测试数据和标识码，判断是否触发异常预警，如果无异常，则执行S41，继续进行测试；如果有异常则触发异常预警。作为优选，步骤S4中，设定触发预警阈值，当风险值累计达到阈值时，触发异常预警。作为优选，当测试异常发生后，相同或高度相似的标识码会频繁出现，预警后，通过查找异常发生后的标识码出现的时机，定位到异常发生点进行分析和判断。作为优选，测试异常预警后，判断异常原因，异常原因包括测试设备、配件和/或者耗材异常。有益效果：与现有技术相比，本专利技术具有以下优点：本专利技术的自动化IC测试的在线监测和分析方法，以标识码的方式表征测试的失效项及失效严重程度；实现多种场景下的风险预警；实现判断风险级别并选择处理方式；实现判断异常发生的时机。利用标识码定位异常发生的时机更为简单、清晰，只需判断标识码是否相同或相似即可定位到测试数据中异常发生的那一颗芯片，判断出异常的起始位置，便于工程师进一步分析和判断异常发生的原因。本专利技术实现IC自动化测试实现在线监测和分析，能够在异常发生的萌芽阶段发现并及时采取处理措施，节约了异常发生后的处理时间，降低了误判的可能性，提高测试准确率和效率。附图说明图1是自动化IC测试的在线监测和分析方法单颗芯片测试流程图；图2是自动化IC测试的在线监测和分析方法自动化测试流程图；具体实施方式下面结合具体实施例，进一步阐明本专利技术，实施例在以本专利技术技术方案为前提下进行实施，应理解这些实施例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围。本申请的自动化IC测试的在线监测和分析方法，包括以下步骤：S1：对单颗芯片进行每个测试项的测试，生成测试数据；S2：以当前测试数据偏离平均值的程度将测试风险划划分为多个风险级别，不同级别对应相应的风险级别编码；S3：测试数据与风险等级编码组合生成标识码；S4：自动化测试时，设定样本数量N，当测试的芯片数量为N的整数倍时，计算当前的风险值并判断是否触发异常报警。对于每个测试项，若测得值在测试上限和下限之间，则判定为PASS，以“1”表示；若不介于测试上限和下限之间，则判定为FAIL，以“0”表示，所有测试项结果生成一组二进制数值，并将表征所有测试项结果的二进制数值转换为十六进制数，从末位向前每四个二进制数字转化为一个十六进制数，剩余位数若不足四位则在前置位补充“0”。针对测试中的关键项目，以当前测试数据偏离平均值的程度将测试风险划从低到高划分为多个级别(A、B、C……J)，不同级别对应相应的风险级别编码，且每个风险级别对应不同的风险因子；将生成的风险级别编码置于生成的十六进制数末位，从而生成测试结果的标识码。例如：某芯片共有十个测试项目，测试全部PASS，则生成的二进制数为1111111111，将补足位数后的二进制数(001111111111)转化的十六进制数为3FFF。如果根据测试数和测试上下限的关系，判断风险级别为A，则最终生成的识别码为3FFFA。风险值由风险级别出现的频次和风险因子进行表征，风险值等于每个级别出现频次与风险因子乘积之和，从而实现风险的量化管控，风险值计算方式如下：RiskV＝TA*RA+TB*RB+…+TJ*RJ式中，RiskV为风险值；A，B，C，d…J为风险级别编码；TA，TB，TC…TJ为每个风险级别出现的频次；RA，RB，RC…RJ为风险因子。在步骤4中，测试系统可以设定触发预警阈值，当风险值累计达到阈值时，触发异常预警。当测试异常发生后，相同或高度相似的标识码会频繁出现，预警后，通过查找异常发生后的标识码出现的时机，定位到异常发生点进行分析和判断。测试异常预警后，判断异常原因，异常原因包括测试设备、配件和/或者耗材异常。如图1所示，为单颗芯片测试的步骤为：S11：逐个测试每个测试项；<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1：对单颗芯片进行每个测试项的测试，生成测试数据；/nS2：以当前测试数据偏离平均值的程度将测试风险划划分为多个风险级别，不同级别对应相应的风险级别编码；/nS3：测试数据与风险等级编码组合生成标识码；/nS4：自动化测试时，设定样本数量N，当测试的芯片数量为N的整数倍时，计算当前的风险值并判断是否触发异常报警。/n

【技术特征摘要】
1.一种自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：对单颗芯片进行每个测试项的测试，生成测试数据；
S2：以当前测试数据偏离平均值的程度将测试风险划划分为多个风险级别，不同级别对应相应的风险级别编码；
S3：测试数据与风险等级编码组合生成标识码；
S4：自动化测试时，设定样本数量N，当测试的芯片数量为N的整数倍时，计算当前的风险值并判断是否触发异常报警。


2.根据权利要求1所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：步骤S1中，单颗芯片测试的步骤为：
S11：开逐个测试每个测试项；
S12：判断是否为最后一个测试项，如果是，则生成测试数据和标识码；如果不是则执行S11，继续进行测试。


3.根据权利要求1所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：步骤S1中，对于每个测试项，若测得值在测试上限和下限之间，则判定为PASS，以“1”表示；若不介于测试上限和下限之间，则判定为FAIL，以“0”表示，所有测试项结果生成一组二进制数值，并将表征所有测试项结果的二进制数值转换为十六进制数。


4.根据权利要求3所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：针对测试中的关键项目，以当前测试数据偏离平均值的程度将测试风险划从低到高划分为多个级别，不同级别对应相应的风险级别编码，且每个风险级别对应不同的风险因子；将生成的风险级别编码置于生成的十六进制数末位，从而生成测试结果的标识码。


5.根据权利要求4所述的自动化IC测试的在线监测和分析方法，其特征在于：步...

【专利技术属性】
技术研发人员：王锐，张超瑾，
申请(专利权)人：江苏艾科半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32