本申请涉及用于定位样本中单个发射体的方法和光学显微镜。该方法包括：第一定位步骤，包括用照射光(B)对样本(2)进行照射、探测发射体(E)的光发射和根据探测到的光发射确定样本中发射体的位置；和相对于第一定位步骤精确度提高的第二定位步骤，包...

本发明涉及一种用于对样本

本发明涉及MINFLUX纳米显微术。本发明改进了孤立荧光团的三维定位。根据MINFLUX原理，使用3D激发圆环(8)将定位分为一系列单独的步骤，来改进利用孤立的可激发荧光团(4)的荧光光子来进行三维定位，其中在一个步骤中确定荧光团的轴向...

本发明涉及一种记录样本中单个粒子的运动轨迹的方法和执行该方法的光学显微镜。从至少近似已知的起始位置开始，用扫描光的具有局部强度最小值的强度分布来扫描粒子。当用扫描光照射时，待跟踪的粒子产生可探测的光信号，根据光信号的强度计算出粒子的更新...

公开了对用多种染料染色的样本的定位显微镜研究。在此规定，用两个不同波长(111、112)的激发光来激发第一类别的可激发的孤立荧光团(54)，并且针对两个波长中的每一个获得荧光团(54)的位置(114)，或者规定，首先进行测试性激发，以便...

描述了一种通过用扫描光(26)的具有局部最小值的强度分布来对荧光染料(9、11)的单个染料分子(4、5、6)进行空间上高精度定位的方法，该方法的特征在于，扫描不是对所有染料分子(4、5、6)统一进行的，而是单独适应于待扫描的各染料分子(...

提出了对用多种染料(90)染色的样本(7)进行成像的方法(41、42、43、44、45)和设备(1)。这些方法(41、42、43、44、45)使得高达分子分辨率的纳米成像能够置于显微镜成像的空间环境中或者在显微镜成像的空间环境中能够执行...

本发明涉及一种用于定位样本(S)中的发射体(F)的方法，方法包括用静止的圆环形激发束(E)照射样本(S)，获取荧光光子；以及根据所获取的荧光光子估计该发射体(F)在该样本(S)中的位置。本发明还涉及一种用于定位样本(S)中的发射体(F)...

本发明涉及一种用于激光扫描显微镜的探测装置(2)，其中，所述探测装置(2)具有光输入端(4)、至少一个滤光器模块(14)和至少一个空间分辨的探测器(22)并且设置为用于，将光从所述光输入端(4)引导至所述滤光器模块(14)并且从那里引导...

本发明涉及一种用于估计发射体(2)在样品(1)中的位置的方法，该方法包括在一组或更多组探测位置(P

本发明涉及用于生成样品中结构的高分辨率图像或用于定位样品中荧光染料的单个分子的方法，以及荧光染料在这种方法中的用途。根据本发明的方法的特征在于，在用激发光和荧光阻抑光扫描荧光染料之前在光活化反应中首先由受保护的非荧光形式的染料形成荧光染...

本发明涉及一种用于确定样品(20)中彼此间隔开的分子(M)的位置的方法，包括以下步骤：产生(101)多个光分布，其中，每个光分布具有局部强度最小值(110、310)和与其相邻的强度上升区域(120、320)，所述光分布包括激发光分布(1...

本发明涉及一种用于借助定位显微镜确定样品中两个或更多个相互间隔的分子在一个或多个空间方向上的位置的方法、具有指令的计算机程序以及设备。此外，本发明还涉及一种定位显微镜，其使用根据本发明的设备。为了确定分子的位置，使用由于相干光的干涉而产...