【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】对生物样本进行光显微镜多尺度记录的方法和设备
[0001]专利技术的
[0002]本专利技术涉及光学显微术(lichtoptische Mikroskopie)的方法,特别是对生物样本的超分辨率、无衍射限制的光学荧光显微术的方法。本专利技术还涉及组合方法,其中无衍射限制的光学荧光显微术方法构成组成部分。此外,本专利技术还涉及具有光技术的但非荧光显微镜的工艺部件的工艺组合,以及具有非光学的工艺部件的工艺组合。此外,本专利技术涉及相应的设备。
现有技术
[0003]从德国专利文献DE 10 2018 126 232 B3中已知一种具有多个光源的扫描显微镜。光源可以是窄带激光器或白光激光器。光源借助于二向色镜分别被单独或共同地耦合到一个共同的照射光路中。耦合发生在探测光在相反方向照射透过的区段中。不同光源的集合可设置用于不同的目的,例如,集合中的各个光源可以为共焦显微镜记录、借助于MINFLUX纳米显微镜的记录或借助于STED显微术对不同染料的记录提供激发光。光源也可以用作荧光阻抑光的光源,特别是用作STED光的光源。在这种情况下,显微镜还必须具有光束整形装置,该装置调节照射光的波前,以便在物镜的焦点处形成荧光阻抑光的、由强度极大值包围的强度零点。MINFLUX纳米显微镜中也必须有相应的光束整形装置。该专利涉及一种更换设备,借助于该更换设备,当有关光源不需要用于照射时,将与光源相关联的二向色镜替换为平面平行板,该平面平行板对光路施加与二向色镜相同的平行偏移。这一方面保证了在不需要的光源的波长下从样本发射的光也可以被探测到,另 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于对用多种染料染色的样本(7)进行定位显微镜检查(200)的方法,包括:对所述样本(7)或所述样本的子区域(101、102、103)的图像数据进行第一采集(100),基于所述图像数据确定和选择感兴趣的样本区域(80),用第一激发波长的激发光(31)激发在所选择的感兴趣的样本区域(80)内的第一子区域中的荧光团(90),并使用第一探测单元(2)在第一波长范围内对由激发的荧光团(90)发射的荧光光子进行第一探测,用一个探测单元(2)或所述探测单元(2)在第二波长范围内对由用所述第一激发波长的激发光(31)激发的荧光团(90)发射的荧光光子进行第二探测,所述第二波长范围不同于所述第一波长范围,其特征在于,所述第一探测单元(2)被设计成,所述第一探测单元(2)探测到荧光光子的波长范围是可调节的,并且所述方法还包括:在多个光谱探测通道中对所述样本(7)进行定位显微镜图像采集时,确定用于多种染料的优化的比率法分离的波长范围,其中在所述感兴趣的样本区域(80)中,根据MINFLUX方法或STED
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MINFLUX方法执行单个荧光团(90)的定位(200)或跟踪,其中所述荧光光子的探测分别在针对多种染料的优化的比率法分离所确定的波长范围内进行。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述图像数据在所述感兴趣的样本区域(80)内选择所述第一子区域,使得在所述第一子区域中只包含或基本上只包含第一染料的荧光团(90),并且在所述第一子区域中,用所述第一激发波长的激发光(31)激发多个荧光团(90),并且从所述第一探测和所述第二探测获得表征所述第一染料的光谱发射的第一值和第二值。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述图像数据在所述感兴趣的样本区域(80)内选择第二子区域或可选的另外的子区域,使得在所述第二子区域或每个可选的另外的子区域中只包含或基本上只包含第二染料或另外的染料的荧光团(90),并且在所述第二子区域或每个另外的子区域中用所述第一激发波长的激发光(31)激发多个荧光团(90),并且在所述第一波长范围和所述第二波长范围内对由各激发的荧光团(90)发射的荧光光子进行探测,并且分别获得表征所述第二染料或各个所述另外的染料的光谱发射的第一值和第二值。4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,在一个或更多个另外的波长范围内对分别用所述第一激发波长的激发光(31)激发的所述第一染料、所述第二染料或所述另外的染料中的一种染料的荧光团(90)发射的荧光光子进行进一步的探测,从而从对用多种染料染色的样本(7)的测量中获得表征所述第一染料、所述第二染料或所述另外的染料中的一种染料的光谱发射的多个值,所述一个或更多个另外的波长范围彼此不同并且不同于所述第一波长范围和所述第二波长范围。5.根据权利要求2至4中任一项所述的方法,其特征在于,交替不同的波长范围不重叠。6.根据权利要求3至5中任一项所述的方法,其特征在于,用于优化的比率法分离的波长范围是分别从表征所述第一染料或所述第二染料或可选的另外的染料的光谱发射的所述第一值和所述第二值中获得的,或从多个这样的值中获得的。7.根据权利要求2至6中任一项所述的方法,其特征在于,所述第一探测单元(2)用于在
不同波长范围内进行探测。8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述图像数据选择所述感兴趣的样本区域(80)内的第一子区域,使得在所述第一子区域中包含多种染料的荧光团(90),并且在所述第一子区域中反复激发单个荧光团(90),其中所有多种染料的荧光团(90)被整体激发。9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,用所述第一激发波长的激发光(31)对荧光团(90)进行另外的激发,并在另外的两个波长范围内进行另外的探测,其中所述另外的两个波长范围中的至少一个波长范围既不是所述第一波长范围也不是所述第二波长范围。10.根据权利要求8或9所述的方法,其特征在于,所述第一波长范围和所述第二波长范围在第一临界波长处彼此相邻。11.根据权利要求9或10所述的方法,其特征在于,所述另外的两个波长范围在一个临界波长处或所述临界波长处或另外的临界波长处彼此相邻。12.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,多次进行另外的激发和探测,其中每次都选择不同的另外的临界波长。13.根据权利要求8或9所述的方法,其特征在于,所述第一波长范围和/或所述另外的波长范围中一个波长范围包括小于所述第一激发波长的波长,优选地仅包括小于所述第一激发波长的波长。14.根据权利要求8至13中任一项所述的方法,其特征在于,在两个波长范围内、在所述第一波长范围和所述第二波长范围内和/或在所述另外的两个波长范围中的一个波长范围和另一个波长范围内进行探测期间,分别将探测到的荧光光子与单个荧光团(90)的突发相关联,并且分别为所述突发确定在一个波长范围和另一个波长范围内探测到的荧光光子的数量。15.根据权利要求14所述的方法,其特征在于,用于优化的比率法分离的所述波长范围是根据为所述突发确定的在一个波长范围和另一个波长范围内探测到的荧光光子的数量确定的。16.一种用于对用多种染料染色的样本(7)进行定位显微镜检查的方法,包括:对所述样本(7)或所述样本的子区域(101、102、103)的图像数据进行第一采集,基于所述图像数据确定和选择感兴趣的样本区域(80),使得在所述感兴趣的样本区域(80)中包含多种染料的荧光团(90),根据MINFLUX方法对所述多种染料的单个荧光团(90)进行定位(200),其中用第一激发波长的激发光(31)进行激发,并且其中在第一波长范围和第二波长范围内分别对荧光光子进行探测,所述第二波长范围不同于所述第一波长范围,其特征在于,所述方法还包括:根据MINFLUX方法或STED
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MINFLUX方法对所述多种染料的单个荧光团(90)进行定位(200),其中在另外的两个波长范围内分别对荧光光子进行探测,其中所述另外的两个波长范围中的至少一个波长范围与所述第一波长范围或所述第二波长范围不一致。17.根据权利要求16所述的方法,其特征在于,所述第一波长范围和所述第二波长范围在第一临界波长处彼此相邻。18.根据权利要求17所述的方法,其特征在于,所述另外的两个波长范围在另外的临界
波长处彼此相邻,所述另外的临界波长与所述第一临界波长不一致。19.根据权利要求16所述的方法,其特征在于,所述第一波长范围和/或所述另外的波长范围中的一个波长范围包括小于所述第一激发波长的波长,优选地仅包括小于所述第一激发波长的波长。20.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,对图像数据的所述第一采集(100)包括对所述样本(7)进行扫描的采集步骤,其中所述扫描是通过在所述激发光(31)的光学路径(21)中应用第一偏转单元(4)来完成的。21.根据权利要求20所述的方法,其特征在于,所述扫描包括用聚焦的激发光和荧光阻抑光、优选用STED光,进行共焦扫描或共同扫描。22.根据权利要求21所述的方法,其特征在于,在使用聚焦的激发光和荧光阻抑光进行共焦扫描或共同扫描时,所述探测是在连续的波长范围内进行的,并且是以非光谱分辨的方式进行的。23.一种用于对用多种染料染色的样本(7)进行定位显微镜检查方法,包括:对所述样本(7)或所述样本(7)的子区域(101、102、103)的图像数据进行第一采集(100),基于所述图像数据确定和选择感兴趣的样本区域(80),使得在所述感兴趣的样本区域(80)中包含多种染料的荧光团(90),根据MINFLUX方法或STED
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MINFLUX方法对所述多种染料的单个荧光团(90)进行定位(200),其中用第一激发波长的激发光(31)进行...
【专利技术属性】
技术研发人员:G,
申请(专利权)人:阿贝锐纳仪器有限公司,
类型:发明
国别省市:
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