【技术实现步骤摘要】
一种双面探针结构及双面探针台
本技术涉及一种双面探针结构及双面探针台。
技术介绍
双面晶片的测试需要两组探针从两侧扎入并电连接晶粒,为了保证测试的稳定性,需要保证两组探针同时扎入并同时远离晶粒;当前市场上没有出现近似技术方案。
技术实现思路
为解决双面晶片测试时,保证两侧的探针同时扎入且同时远离的问题,本技术提出一种双面探针结构及双面探针台。本技术的技术方案为:一种双面探针结构,用于测试双面晶片,所述双面探针结构包括,机架;第一探针架,通过导向滑轨连接于机架;第二探针架,通过导向滑轨连接于机架;调节螺杆,包括正旋螺纹段和反向螺纹段;所述正旋螺纹段螺接于第一探针架,所述反向螺纹段螺接于第二探针架;所述调节螺杆连接于机架;所述调节螺杆旋转,带动第一探针架和第二探针架沿导向滑轨相向运动/背离运动。进一步的,所述调节螺杆连接于第一驱动部,所述第一驱动部带动调节螺杆旋转。进一步的,所述第二探针架包括,针部、从动部和位置调节部,所述从动部螺接于调节螺杆,且所述从动部连接于导向滑轨;所述针部通过所述位置调节部连接于从动部;所述位置调节部用于调节针部相对于第一探针架的位置。进一步的,所述位置调节部包括连接块和调节块,所述连接块和调节块通过调节滑块连接,所述连接块连接于从动部,所述调节块连接于针部;所述连接块螺接有调位螺杆,所述调位螺杆止抵于调节块,通过旋转所述调位螺杆调节所述调节块相对于第一探针架的位置。进一步的,所述位置调节部还包括锁紧 ...
【技术保护点】
1.一种双面探针结构,用于测试双面晶片,其特征在于:所述双面探针结构(100)包括,/n机架(20);/n第一探针架(31),通过导向滑轨(40)连接于机架(20);/n第二探针架(32),通过导向滑轨(40)连接于机架(20);/n调节螺杆(50),包括正旋螺纹段(51)和反向螺纹段(52);所述正旋螺纹段(51)螺接于第一探针架(31),所述反向螺纹段(52)螺接于第二探针架(32);所述调节螺杆(50)连接于机架(20);所述调节螺杆(50)旋转,带动第一探针架(31)和第二探针架(32)沿导向滑轨(40)相向运动/背离运动。/n
【技术特征摘要】
1.一种双面探针结构,用于测试双面晶片,其特征在于:所述双面探针结构(100)包括,
机架(20);
第一探针架(31),通过导向滑轨(40)连接于机架(20);
第二探针架(32),通过导向滑轨(40)连接于机架(20);
调节螺杆(50),包括正旋螺纹段(51)和反向螺纹段(52);所述正旋螺纹段(51)螺接于第一探针架(31),所述反向螺纹段(52)螺接于第二探针架(32);所述调节螺杆(50)连接于机架(20);所述调节螺杆(50)旋转,带动第一探针架(31)和第二探针架(32)沿导向滑轨(40)相向运动/背离运动。
2.根据权利要求1所述的双面探针结构,其特征在于:所述调节螺杆(50)连接于第一驱动部(60),所述第一驱动部(60)带动调节螺杆(50)旋转。
3.根据权利要求1所述的双面探针结构,其特征在于:所述第二探针架(32)包括,针部(321)、从动部(322)和位置调节部(323),所述从动部(322)螺接于调节螺杆(50),且所述从动部(322)连接于导向滑轨(40);所述针部(321)通过所述位置调节部(323)连接于从动部(322);所述位置调节部(323)用于调节针部(321)相对于第一探针架(31)的位置。
4.根据权利要求3所述的双面探针结构,其特征在于:所述位置调节部(323)包括连接块(3231)和调节块(3232),所述连接块(3231)和调节块(3232)通过调节滑块(3233)连接,所述连接块(3231)连接于从动部(322),所述调节块(3232)连接于针部(321);
所述连接块(3231)螺接有调位螺杆(3234),所述调位螺杆(3234)止抵于调节块(3232),通过旋转所述调位螺杆(3234)调节所述调节块(3232)相对于第一探针架(31)的位置。
5.根据权利要求4所述的双面探针结构,其特征在于:所述位置调节部(323)还包括锁紧螺钉(3235)和连接片(3236);
所述连接片(3236)设置有划位缺口(32361),所述连接片(3236)固定于连接块(3231);
锁紧螺钉(3235)螺接于调节块(3232),调节块(3232)相对于连接块(3231)运动...
【专利技术属性】
技术研发人员:林生财,肖乐,吴芳,王胜利,
申请(专利权)人:深圳市矽电半导体设备有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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