一种PCB板结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种PCB板结构，PCB板包括设置于其上的芯片座、接触测试接口和非接触测试接口，芯片座、接触测试接口和非接触测试接口位于同一平面；芯片座上设置有测试板控制器和与测试板控制器相连接的第一线圈；芯片座通过测试板控制器与接触测试接口相连接；芯片座通过第一线圈与非接触测试接口相连接。本实用新型专利技术中的PCB板结构能够使得在对其进行测试时，同时对其接触功能和非接触功能进行检测，不再需要分开进行测试，能够提高生产和测试效率，降低PCB板的生产成本，适合大规模推广使用。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路板结构领域，尤其涉及一种PCB板结构。
技术介绍
PCB板是电子元器件电气连接的提供者，PCB板在进行批量生产之前需要进行测试，以检验PCB板是否符合开发需要，能否正常使用。现有技术中对PCB板进行检测过程中，测试PCB板的接触功能和非接触功能是测试的重要部分。常规采用的方法是对PCB板的接触功能和非接触功能分开进行测试，分开测试将导致测试时间长，测试流程和工序繁琐，不够方便快捷。因此，市场亟需一种PCB板结构，在进行测试时能够对其接触功能和非接触功能同时进行检测，不再需要分开进行测试。
技术实现思路
本技术的目的在于提出一种PCB板结构，以解决现有技术中由于接触功能和非接触功能要分开测试导致的生产和测试效率低，生产成本高的问题。为达此目的，本技术采用以下技术方案：一种PCB板结构，所述PCB板包括设置于其上的芯片座、接触测试接口和非接触测试接口，所述芯片座、接触测试接口和非接触测试接口位于同一平面；所述芯片座上设置有测试板控制器和与所述测试板控制器相连接的第一线圈；所述芯片座通过所述测试板控制器与所述接触测试接口相连接；所述芯片座通过所述第一线圈与所述非接触测试接口相连接。进一步的，所述接触测试接口具有接触控制器，所述接触控制器与所述测试板控制器匹配连接。进一步的，所述非接触测试接口具有非接触控制器和与所述非接触控制器相连接的第二线圈；所述非接触测试接口通过所述第二线圈与所述第一线圈匹配连接。优选的，所述接触测试接口为IS07816接口。优选的，所述非接触测试接口为IS014443接口。进一步的，所述IS07816接口用于插入到IS07816读卡器以测试所述PCB板的接触功能。进一步的，所述IS014443接口用于插入到IS014443读卡器中以测试所述PCB板的非接触功能。本技术的有益效果为：本技术中的PCB板结构能够使得在对其进行测试时，对其接触功能和非接触功能同时进行检测，不再需要分开进行测试，能够提高生产和测试效率，降低PCB板的生产成本，适合大规模推广使用。附图说明图1是本技术具体实施方式提出的PCB板的连接结构示意图。图中：1、芯片座；11、测试板控制器；12、第一线圈；2、接触测试接口；21、接触控制器；3、非接触测试接口；31、非接触控制器；32、第二线圈。具体实施方式下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。如图1所示，是本技术提出的PCB板结构，所述PCB板包括设置于其上的芯片座1、接触测试接口2和非接触测试接口3，所述芯片座1、接触测试接口2和非接触测试接口3位于同一平面。作为进一步的实施方式，所述芯片座1上设置有测试板控制器11和与所述测试板控制器11相连接的第一线圈12，所述芯片座1通过所述测试板控制器11与所述接触测试接口2相连接。所述芯片座1通过所述第一线圈12与所述非接触测试接口3相连接。进一步的，所述接触测试接口2具有接触控制器21，所述接触控制器21与所述测试板控制器11匹配连接。所述非接触测试接口3具有非接触控制器31和与所述非接触控制器31相连接的第二线圈32，所述非接触测试接口3通过所述第二线圈32与所述第一线圈12匹配连接。优选的，所述接触测试接口2为IS07816接口；所述非接触测试接口3为IS014443接口。其中，所述IS07816接口用于插入到IS07816读卡器以测试所述PCB板的接触功能，当需要测试PCB板接触指令时，将PCB板插入到所述IS07816读卡器中就能进行测试了。所述IS014443接口用于插入到IS014443读卡器中以测试所述PCB板的非接触功能。本技术中的PCB板结构能够使得在对其进行测试时，同时对其接触功能和非接触功能进行检测，不再需要分开进行测试，能够提高生产和测试效率，降低PCB板的生产成本，适合大规模推广使用。以上结合具体实施例描述了本技术的技术原理。这些描述只是为了解释本技术的原理，而不能以任何方式解释为对本技术保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本技术的其它具体实施方式，这些方式都将落入本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种PCB板结构，其特征在于：所述PCB板包括设置于其上的芯片座(1)、接触测试接口(2)和非接触测试接口(3)，所述芯片座(1)、接触测试接口(2)和非接触测试接口(3)位于同一平面；所述芯片座(1)上设置有测试板控制器(11)和与所述测试板控制器(11)相连接的第一线圈(12)；所述芯片座(1)通过所述测试板控制器(11)与所述接触测试接口(2)相连接；所述芯片座(1)通过所述第一线圈(12)与所述非接触测试接口(3)相连接。

【技术特征摘要】
1.一种PCB板结构，其特征在于：所述PCB板包括设置于其上的芯片座(1)、接触测试接口(2)和非接触测试接口(3)，所述芯片座(1)、接触测试接口(2)和非接触测试接口(3)位于同一平面；
所述芯片座(1)上设置有测试板控制器(11)和与所述测试板控制器(11)相连接的第一线圈(12)；
所述芯片座(1)通过所述测试板控制器(11)与所述接触测试接口(2)相连接；
所述芯片座(1)通过所述第一线圈(12)与所述非接触测试接口(3)相连接。
2.根据权利要求1所述的PCB板结构，其特征在于：所述接触测试接口(2)具有接触控制器(21)，所述接触控制器(21)与所述测试板控制器(11)匹配连接。
3.根据权利要求2所述的PCB板结构，其特征在于：所述非接触...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡文彬，底明辉，李春，
申请(专利权)人：恒宝股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32