【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术于接口测试
，提供了一种芯片数字接口的测试方法及系统。方法包括：接收测试指令，并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号；接收第一数字信号经数字接口传输后输出的第二数字信号，并将接收到的第二数字信号与预存的第一数字信号进行比对，输出比对结果；根据输出的比对结果，发出表征数字接口正常/异常的提示信号。本专利技术由于预存了测试过程中发送给数字接口的第一数字信号，并在测试开始后，直接向数字接口发送第一数字信号，通过第二数字信号与预存第一数字信号的比较，可以准确识别芯片上数字接口的数据正确性，从而避免了模/数转换带来的数据不确定因素，提高了测试的自动化程度和测试的可重复性、灵活性。【专利说明】一种芯片数字接口的测试方法及系统
本专利技术属于接口测试
，尤其涉及一种芯片数字接口的测试方法及系统。
技术介绍
为了保证芯片功能，需要对芯片进行控制台测试，即在一个接近实际使用环境的 平台上，对芯片的基本功能进行模拟测试。采用现有技术提供的芯片数字接口的测试方法在对某些芯片的数字接口进行控 制台测试时，需要将一与数字接口...
【技术保护点】
一种芯片数字接口的测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：接收测试指令，并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号；接收所述第一数字信号经所述数字接口传输后输出的第二数字信号，并将接收到的所述第二数字信号与预存的所述第一数字信号进行比对，输出比对结果；根据输出的所述比对结果，发出表征数字接口正常/异常的提示信号。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：葛保建，黄杰成，胡胜发，
申请(专利权)人：安凯广州微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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