用于运行被配置为测试器件的自动测试系统的方法技术方案

本发明专利技术涉及一种用于运行被配置为测试器件的自动测试系统的方法。自动测试系统例如可作为制造过程的一部分用来测试半导体器件。该测试系统使用仪器来产生和测量测试信号。该自动测试系统具有使得在其被制造之后将仪器添加到测试系统上的硬件和软件体系结构。该软件分成仪器专用软件和独立于仪器的软件。软件组件的预定义接口使得能够容易地将仪器集成到测试系统中，并且在测试系统的实际实现时或仪器随产品系列中的测试机改变时能够容易地重用该软件。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于运行被配置为测试器件的自动测试系统的方法，所述自动测试系统包含独立于仪器的软件，所述方法包括：在所述自动测试系统内安装包括软件的垂直片，其中所述软件描述与特定电路板相关联的仪器；以及通过所述独立于仪器的软件和所述仪器专用软件之间的所述垂直片的接口，使用包括所述仪器的所述自动测试系统；其中，所述接口包括：框架接口，用于提供调用对于自动测试系统中所有程序包公共的功能的接口；仪器接口，揭示对于自动测试系统中的仪器公共的方法；以及仪器专用接口，具有能够由用户并入到在包含所述仪器的测试机上运行的程序中的用户语言；并且所述垂直片还包括：用户接口程序包，用于向用户呈现对于特定类型的仪器特定的显示，所...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：斯蒂芬·J·霍特亚克，阿兰·L·布利茨，兰德尔·B·斯廷森，
申请(专利权)人：泰拉丁公司，
类型：发明
国别省市：