在本发明专利技术的实施例中，用于针对测试组的执行而调度对测试布置(100)的测试资源的使用的方法和装置(105)被描述。本发明专利技术的方法包括获取(10)对用于利用所述测试布置(100)来测试被测器件(DUT)的测试流程(5)中的每个测试组(TG)做出的所述测试布置(100)的测试资源的指派，其中所述测试流程(5)包括所述测试组的初始执行次序。另外，该方法包括检查(20)在对测试流程(5)中的测试组做出的测试资源的指派与对另一测试流程中的另一测试组做出的一个或多个测试资源的指派之间是否存在资源冲突(7)，所述另一测试组被调度用于利用所述测试布置进行与所述给定测试组在时间上重叠的执行。此外，该方法包括响应于检查是否存在资源冲突的结果而操纵(30)测试流程中的测试组(TG)的执行次序的步骤，以使得通过以与结合移动操作执行时间间隔插入操作从而将与所述资源冲突相关联的测试组移动到所插入的时间间隔相比更高的优先级在测试流程中与资源冲突相关联的测试组之间执行交换操作(11)，来消除资源冲突。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及针对测试组的执行而调度测试布置的测试资源的使用的方法以及调度测试资源的装置。本专利技术的实施例具体涉及针对测试组的执行而调度半导体测试布置或半导体测试系统的测试资源的使用的方法。
技术介绍
例如在生产之后测试器件或产品对于高产品质量、器件或产品性能的估计、关于制造过程的反馈以及最终的高客户满意度等是至关重要的。通常多个测试被执行以确保器件或产品的正确功能。这多个测试可被汇编在测试流程中，其中该测试流程可被分离为包含用于测试器件或产品的一个或多个测试的不同的测试套件或测试组。例如，半导体器件可被利用包括接触测试、电流-电压测试、逻辑测试、速度测试、压力测试和功能测试的测试流程来测试。测试流程可采用固定顺序的测试套件或测试组执行，即测试套件按照某一时间次序或顺序来执行。因为测试半导体器件或产品一般在所需测试设备的资本成本以及所需测试时间的时间成本方面可能相当昂贵，因此应当以高效方式执行对器件或产品的测试。因此，器件经常被并行测试以减少测试时间。但是另一方面，增加的并行测试经常需要测试布置的大量测试资源。增长数目的并行受测器件、某些昂贵测试设备资源的有限可用性例如对IC供应商而言变为主要的成本贡献者。某测试设备的有限可用性可由这种测试系统的高资本成本造成，或者可由于在测试设备的外形方面的有限可用性。对器件进行测试所需的测试资源必须或者可按照器件获得，与高资本成本相关联，或者需要这些资源的测试被串行化，即需要更高的测试时间并且结果因而也是更高的成本。应当注意到，在测试期间每个测试并非总是利用测试布置的所有测试资源。因此，对以高效有利方式调度测试布置的测试资源的方法和装置的需要是合乎需要的。
技术实现思路
本专利技术提供了针对测试组的执行而调度测试布置的测试资源的使用的方法，以及同样用途的装置。改进可涉及如下方式用于并行测试被测器件(DUT)的测试流程中的测试组如何被重新排序以使得测试布置的测试资源可被以更高效方式应用。这些目的通过如权利要求I所述的针对测试组的执行而调度对测试布置的测试资源的使用的方法以及如权利要求18所述的调度测试布置的测试资源的装置来实现。根据本专利技术的实施例，用于针对测试组的执行而调度对测试布置的测试资源的使用的方法可包括如下步骤获取对用于利用测试布置来测试被测器件(DUT)的测试流程中的每个测试组做出的测试布置的测试资源的指派，检查在对用于并行测试被测器件的测试流程内的测试组和另一测试组做出的测试资源的指派之间是否存在资源冲突，以及通过以预定方式操纵测试流程中的测试组的执行次序来消除资源冲突。根据某些实施例，对测试流程中的测试组的执行次序的操纵可被在后续步骤中执行，这些后续步骤包括交换操作、与移动操作相结合的时间间隔插入操作或者移动到空时间间隔操作。根据实施例，交换(swap)操作、与移动操作相结合的时间间隔插入操作以及移动到空时间间隔操作是以区分优先级的方式执行的，因此用于执行测试的测试时间以及执行测试所需的测试资源的分配可被优化。根 据另外的实施例，用于调度测试布置的测试资源的装置被描述。利用用于调度的本专利技术的方法和装置，测试时间减少以及测试资源减少或优化可被实现。较之传统的测试方法，测试可被优化并且变得更加高效。附图说明现在将参考附图以示例方式描述本专利技术的实施例，在附图中图I示出了根据本专利技术一个实施例的用于调度测试布置的测试资源的方法的流程图；图2a示出了图示出根据一个实施例的用于调度测试布置的测试资源的方法的框图；图2b示出了图示出根据另一个实施例的用于调度测试布置的测试资源的方法的框图；图3示出了图示出对测试布置的测试资源的无效调度的框图；图4示出了图示出利用本专利技术的方法对图3中示例的测试资源的优化调度的框图；图5示出了根据本专利技术的方法的一个实施例的用于执行用于调度测试布置的测试资源的方法的伪代码；图6a图示出根据本专利技术的方法的一个实施例的测试布置的测试资源向测试流程中的测试组的初始指派方案；图6b图示出按照矩阵布置来布置的被测器件、对应测试组的示意性布置，以及根据本专利技术的方法的一个实施例的搜索资源冲突的步骤；图6c图示出根据本专利技术一个实施例的在测试组的矩阵布置内搜索不冲突列的步骤；图6d图示出根据本专利技术一个实施例的在矩阵布置的单个列内搜索资源冲突的另一步骤；图6e图示出根据本专利技术一个实施例的在测试组的矩阵布置内搜索不冲突列的步骤；图6f图示出根据本专利技术的方法在矩阵布置的另一单个列内搜索资源冲突的步骤；图6g图示出根据本专利技术的方法在矩阵布置中搜索不冲突列以及交换相应测试组的执行次序的步骤；图6h图示出搜索单个列内的冲突的步骤；图6i图示出根据本专利技术的方法搜索不冲突列以及交换相应测试组的执行次序的步骤；图6j图示出在执行本专利技术的方法之后不再包括资源冲突的测试组的最终测试矩阵布置；图7示出了根据本专利技术一个实施例的用于调度测试布置的测试资源的装置的框图。具体实施例方式参考对本专利技术实施例的以下描述，将注意到，为了简化原因针对整个说明书中在功能上起相同或类似作用或者在功能上相等或等同的步骤元素在不同图中将使用相同的标号。在图I中，针对测试组的执行而调度对测试布置的测试资源的使用的方法的流程图被示出。根据实施例，用于调度测试布置的测试资源的方法可包括以下步骤。获取10测 试布置的测试资源向用于利用测试布置来测试被测器件(DUT)的测试流程中的测试组的指派，其中该测试流程包括测试组的初始执行次序。该方法还包括检查20在测试资源向测试流程中的测试组的指派与一个或多个测试资源向另一测试流程中的另一测试组的指派之间是否存在资源冲突，所述另一测试组被调度用于利用相同测试布置进行与测试组在时间上重叠的执行。不同DUT的测试流程可能是相同的测试流程，这意味着它们可以包括具有相同时间间隔的相同测试组，或者测试流程例如为了测试不同DUT可以是不同的测试流程，但是具有相同的测试布置。响应于检查20是否存在资源冲突的结果，可以执行对测试流程中的测试组的执行次序的操纵30以使得资源冲突被消除。根据本专利技术的实施例，可以通过执行对测试流程内与资源冲突相关联的测试组的交换操作来消除资源冲突。较之与移动操作相结合的所谓时间间隔插入操作，以更高的优先级来执行对测试流程中的测试组的交换操作。时间间隔插入操作在测试流程中为测试组插入新的时间间隔。时间间隔可以充当测试组的占位符，并且可以通过将与资源冲突相关联的测试组移动到测试流程中由时间间隔插入操作创建的时间间隔来执行移动操作。根据某些实施例，针对测试组的执行而调度对测试布置的测试资源的使用的方法可被执行，以提高效率或者优化测试布置对测试器件的测试资源分配。待测试的器件或产品一般被命名为被测器件(DUT)。这种DUT例如可以是半导体器件、光学器件、电子器件或者电子电路，而且可以是作为机械零件的其他产品、一般的消费产品以及例如汽车、化学、机械工程、食品制造、医疗工程等领域中的其他商品。尽管以下实施例主要指测试半导体器件，但是实施例不应当被视为缩小，这是因为用于调度测试布置的测试资源的方法还有用于调度测试布置的测试资源的装置也可被应用于在另一
中调度测试资源。测试布置可包括不同的测试资源，其中测试布置可包括例如可被链接或分组在一起的一个(半导体)或多个测试仪或者本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：沃尔夫冈·霍恩，
申请(专利权)人：爱德万测试新加坡私人有限公司，
类型：
国别省市：
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