针对测试组的执行而调度测试布置的测试资源的使用的方法和装置制造方法及图纸

在本发明专利技术的实施例中，用于针对测试组的执行而调度对测试布置(100)的测试资源的使用的方法和装置(105)被描述。本发明专利技术的方法包括获取(10)对用于利用所述测试布置(100)来测试被测器件(DUT)的测试流程(5)中的每个测试组(TG)做出的所述测试布置(100)的测试资源的指派，其中所述测试流程(5)包括所述测试组的初始执行次序。另外，该方法包括检查(20)在对测试流程(5)中的测试组做出的测试资源的指派与对另一测试流程中的另一测试组做出的一个或多个测试资源的指派之间是否存在资源冲突(7)，所述另一测试组被调度用于利用所述测试布置进行与所述给定测试组在时间上重叠的执行。此外，该方法包括响应于检查是否存在资源冲突的结果而操纵(30)测试流程中的测试组(TG)的执行次序的步骤，以使得通过以与结合移动操作执行时间间隔插入操作从而将与所述资源冲突相关联的测试组移动到所插入的时间间隔相比更高的优先级在测试流程中与资源冲突相关联的测试组之间执行交换操作(11)，来消除资源冲突。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及针对测试组的执行而调度测试布置的测试资源的使用的方法以及调度测试资源的装置。本专利技术的实施例具体涉及针对测试组的执行而调度半导体测试布置或半导体测试系统的测试资源的使用的方法。
技术介绍
例如在生产之后测试器件或产品对于高产品质量、器件或产品性能的估计、关于制造过程的反馈以及最终的高客户满意度等是至关重要的。通常多个测试被执行以确保器件或产品的正确功能。这多个测试可被汇编在测试流程中，其中该测试流程可被分离为包含用于测试器件或产品的一个或多个测试的不同的测试套件或测试组。例如，半导体器件可被利用包括接触测试、电流-电压测试、逻辑测试、速度测试、压力测试和功能测试的测试流程来测试。测试流程可采用固定顺序的测试套件或测试组执行，即测试套件按照某一时间次序或顺序来执行。因为测试半导体器件或产品一般在所需测试设备的资本成本以及所需测试时间的时间成本方面可能相当昂贵，因此应当以高效方式执行对器件或产品的测试。因此，器件经常被并行测试以减少测试时间。但是另一方面，增加的并行测试经常需要测试布置的大量测试资源。增长数目的并行受测器件、某些昂贵测试设备资源的有限可用性例如对IC供应本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：沃尔夫冈·霍恩，
申请(专利权)人：爱德万测试新加坡私人有限公司，
类型：
国别省市：