用于电子装置的改良测试之系统和方法制造方法及图纸

测试和分类电子装置（34、36）的改良方法，其使用应用于一单一轨道（14）的二或更多个测试站（38、40）和二或更多个分类站（42、44）以改良系统产量。应用二或更多个测试站（38、40）和二或更多个分类站（42、44）至一单一轨道（14）则达成了改良的系统产量，同时增加的系统成本低于每一测试站（38、40）安装重复轨道所预期的成本。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术关于用于测试和分类电子装置的改良系统和方法。尤其关于用于测试微小电子装置之电和/或光学性质的系统和方法。尤其更关于用于使用二分开的测试站和一测试轨道来高速平行测试至少二微小装置性质并且根据那些性质而把它们分类成多个类别的系统和方法。
技术介绍
许多电子装置于制造期间是以自动测试系统来测试电和/或光学性质。典型的自动测试系统使用精确的电和/或光学测试设备以找出与装置之电和光学性质相关联的数值，并且按照测量值而接受它、拒绝它或把它分类成输出类别。对于微小装置而言，自动测 试系统通常是设计成搬运处理大量装载，其中制程产生大量的装置，它们具有实质相同的机械特性(例如尺寸和形状)但不同于电和/或光学特性。一般惯例是建造大量的装置，其电和光学性质一般落于一范围里，而依赖测试来把装置分类成具有类似特性之商业可用的群组。以此方式测试和分类的典型电子装置包括被动元件(例如电阻、电容、电感)和主动电子装置(例如数位式或类比式积体电路或发光二极体)。这些装置通常以充满装置的容器来供应至自动测试系统。典型而言，自动测试系统必须在称为单离化的过程中从大量装载的装置里抽取单一装置、调整装置的指向并且固定之，如此则测试设备可以进行想要的测试。测试通常需要以探针检查装置，其中电线被带去接触装置以允许讯号和电力施加于装置以及监视对于输入的回应。自动测试系统的任务是决定装置的电特性以及依照那些特性把装置分类成多个群组。自动测试系统典型而言把装置单离化于轨道上，在此装置编索引而经过一或更多个测试站来测试装置的各式各样电和/或光学性质并且储存结果。随着装置后续编索引而经过分类站，装置便从轨道移除并且按照前面测试的结果而堆积于众多箱中的一个。典型的先前技术之自动测试系统显示于图1，其中轨道2上间隔「P」(间距)的位置3、4是由轨道2于箭号方向而编索引至装载器5，而在此把大量部件6装载于轨道上。装置7由轨道2编索引至位置10，在此以测试站9来测试并且结果储存于控制器(未显示)。装置7后续由轨道2编索引至位置11，在此由分类管12从轨道2移除装置13以供分类。美国专利第5，842，579号(电路元件搬运操作器，专利技术人Douglas J. Garcia、Steven D. Swendrowski、Mitsuaki Tani、Hsang Wang、Martin J.Twite，III、MalcolmHawkes、Evart David Shealey、Martin S. VoshelK Jeffrey L Fish、VernonP. Cooke，1998年12月I日，其让与给本专利技术的申请人)揭示旋转碟式测试机，其具有多条轨道而能够一次测试多个部件。使用重复轨道以平行测试装置的另一范例性系统是由位在韩国Chungcheongnam-Do 331-220之Mirae公司所制造的MT20LED测试器。握持装置的轨道并不须要是旋转的。美国专利第4，747，479号(用于测试和/或处理小型元部件的装置，专利技术人Jakob Herrman, 1988年5月31日)揭示线性带以握持测试中的部件。这些揭示并未考虑的是平行测试多于一个的装置但不重复轨道来把部件进给于测试站(不论它们是旋转的或线性的)之可能性。故需要的是用于测试微小电子装置和把微小电子装置分类的自动测试系统，其可以使用单一轨道来传递装置至测试站而平行测试至少二装置以及把它们高速分类。
技术实现思路
本专利技术的态样提供测试电子装置和基于电和/或光学性质而把电子装置分类的改良方法，其使用在轨道上来运载要测试之部件的自动测试系统。其改良包括提供测试系统以相邻于轨道的第一和第二测试站，并且在第一测试站上测试一部分的装置以及在第二测试站上测试另一部分的装置。装置然后以根据测试结果的分类机制而基于测试来加以分类。系统以一轨道上的二测试站来测试电子装置并且把该电子装置分类。本专利技术平行进行这些测试，藉此增加产量超过序列测试装置的系统，并且花费少于复制轨道机制来平行测试部件的系统。本专利技术的态样把轨道和装置编索引以便处理装置。编索引(indexing)是指停止/·启动型运动，其中轨道移动到位置、停止一段时间、然后移动到下一位置。于自动测试系统的情形，轨道典型而言于一系列步骤中从装载位置(在此装置放入轨道)编索引至测试位置(在此装置做测试)以及至分类位置(在此装置从轨道移除并且分类至多个箱里)然后回到装载位置。本专利技术藉由偏移测试站的位置而能够在单一轨道上平行处理装置，如此则当轨道由大于相邻装置之间的间距的预定量而编索引时，一装置将呈递给第一测试站，同时另一装置将呈递给第二测试站。由于轨道每单位时间编索引多达二次，故系统产量将几乎加倍。为了达成本专利技术前述和其他的目的，如在此所实施和广泛描述的，故揭示了方法和设备。附图说明图I :先前技术的自动测试系统。图2 :显示双工装置安排的自动测试系统。具体实施例方式本专利技术的实施例是用于微小电子装置之测试和分类的改良系统和方法。本专利技术的实施例提供测试电子装置和基于电和/或光学性质而把电子装置分类的改良方法，其使用在轨道上来运载要测试之部件的自动测试系统。其改良包括提供测试系统以相邻于轨道的第一和第二测试站，以及在第一测试站上测试部分的装置和在第二测试站上测试另一部分的装置。装置然后以根据测试结果的分类机制而基于测试来加以分类。系统以在一轨道上的二测试站来测试电子装置和把该电子装置分类。本专利技术平行进行这些测试，藉此增加产量超过序列测试装置的系统，并且花费少于复制轨道机制来平行测试部件的系统。本专利技术之实施例采用的轨道具有固定或牢固地握持用于测试之电子装置的位置。本专利技术的实施例把轨道和固定的装置编索引以便处理装置。编索引是指停止/启动型运动，其中轨道和固定的装置移动到一位置、停止一段时间、然后移动到下一位置。举例而言，图2显示本专利技术的实施例，其包括单一轨道的自动测试系统50，其轨道14于箭号方向编索引，而根据本专利技术的实施例来安排。轨道14具有位置15 27，其操作成固定电子装置34、36。图2显示二相邻位置15、16，其距离为「P」间距。注意位置15和17距离有2p远或二倍间距。大量电子装置32装载至进给器30里，其装载部件34、36到轨道14上的位置18、19。注意装载器必须装载至少二部件，此系由于轨道14其次将编出距离2p的索引，藉此把二个新的空位置16、17带到装载器30以及把电子装置34、36编索引至位置20、21。也可以采用二个装载器。以轨道14其次编的2p索引而言，电子装置带到位置22、23，在此它们由测试站38、40所平行测试。测试和储存测试结果于控制器(未显示)之后，轨道14以尺寸2p的步骤把电子装置编索引至位置26、27，在此电子装置46、48藉由分类管 42、44而从轨道14移除。由于轨道14是以2p而非P来编索引，故造成一半那么多的停止，因此停留、加速和减速也有一半那么多次，藉此加快系统产量达到几乎二倍。此外，本概念可以延伸至多于二组的装载、测试和分类站。举例而言，以三组的装载、测试和分类站来看，会安排诸站，如此则系统或可就每一索引以三倍间距或3p来编索引，以便于单一通过中来测试和分类所有的装置。本专利技术的实施例使用旋转的轨道，其中表面上或表面中具有一或更多条轨本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：维侬·库克，
申请(专利权)人：伊雷克托科学工业股份有限公司，
类型：
国别省市：