【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术关于用于测试和分类电子装置的改良系统和方法。尤其关于用于测试微小电子装置之电和/或光学性质的系统和方法。尤其更关于用于使用二分开的测试站和一测试轨道来高速平行测试至少二微小装置性质并且根据那些性质而把它们分类成多个类别的系统和方法。
技术介绍
许多电子装置于制造期间是以自动测试系统来测试电和/或光学性质。典型的自动测试系统使用精确的电和/或光学测试设备以找出与装置之电和光学性质相关联的数值，并且按照测量值而接受它、拒绝它或把它分类成输出类别。对于微小装置而言，自动测 试系统通常是设计成搬运处理大量装载，其中制程产生大量的装置，它们具有实质相同的机械特性(例如尺寸和形状)但不同于电和/或光学特性。一般惯例是建造大量的装置，其电和光学性质一般落于一范围里，而依赖测试来把装置分类成具有类似特性之商业可用的群组。以此方式测试和分类的典型电子装置包括被动元件(例如电阻、电容、电感)和主动电子装置(例如数位式或类比式积体电路或发光二极体)。这些装置通常以充满装置的容器来供应至自动测试系统。典型而言，自动测试系统必须在称为单离化的过程中从大量装载的装置里抽取单一装置...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：维侬·库克，
申请(专利权)人：伊雷克托科学工业股份有限公司，
类型：
国别省市：
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