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测试和分类电子装置（34、36）的改良方法，其使用应用于一单一轨道（14）的二或更多个测试站（38、40）和二或更多个分类站（42、44）以改良系统产量。应用二或更多个测试站（38、40）和二或更多个分类站（42、44）至一单一轨道（14）...该专利属于伊雷克托科学工业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过伊雷克托科学工业股份有限公司授权不得商用。
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测试和分类电子装置（34、36）的改良方法，其使用应用于一单一轨道（14）的二或更多个测试站（38、40）和二或更多个分类站（42、44）以改良系统产量。应用二或更多个测试站（38、40）和二或更多个分类站（42、44）至一单一轨道（14）...