【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】根据本专利技术实施例的一种扫描链诊断的方法，所述扫描链包括具有端口I和端口O的双向扫描寄存器，该方法包括：生成移入逻辑值组合，所述逻辑值组合具有至少一个与待诊断故障相对的逻辑值；将所述移入逻辑值组合移入扫描链；逆转扫描链方向，从扫描链移出各双向扫描寄存器的值，形成移出逻辑值组合；和比较所述移入逻辑值组合和所述移出逻辑值组合，确定可能发生待诊断故障的双向扫描寄存器。采用根据本专利技术实施例的方案，可以增强扫描链的可诊断性。【专利说明】扫描链结构和扫描链诊断的方法和设备
本专利技术涉及集成电路设计技术，更具体地说，涉及扫描链结构和相应的扫描链诊断方法和设备。
技术介绍
随着半导体技术的发展，半导体的设计和制造都变得越来越复杂。这种复杂性增强了半导体集成电路的性能，但是也增加了产生缺陷的可能。因此，测试技术变得越来越重要。比如说，在半导体集成电路的前端设计完成后，通常要进行逻辑测试，以便确保逻辑设计本身是正确的。逻辑测试一般又称为验证(verification)。在逻辑测试完成后，通过综合步骤产生网表(netlist)以便用于物理制造。为了对制造好的...
【技术保护点】
一种扫描链结构，其包括具有端口I和端口O的双向扫描寄存器，所述双向扫描寄存器包括：正向开关O、正向开关I、逆向开关O、逆向开关I和寄存器，其中，正向开关O连接在寄存器的输出和双向扫描寄存器的端口O之间；正向开关I连接在寄存器的输入和双向扫描寄存器的端口I之间；逆向开关O连接在寄存器的输入和双向扫描寄存器的端口O之间；逆向开关I连接在寄存器的输出和双向扫描寄存器的端口I之间。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈亮，林腾，葛亮，彭光宇，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：
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