功耗约束下基于硬核的三维SoC测试调度方法技术

技术编号:9335859 阅读:154 留言:0更新日期:2013-11-13 14:12
功耗约束下基于硬核的三维SoC测试调度方法,属于三维SoC测试调度技术领域。本发明专利技术解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下,无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为:基于硬核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核,建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量,若IP核i和IP核j并行测试,则有xij=1,否则xij=0,tj为IP核j的测试时间,|M|表示一个SoC中的IP核总数,表示并行测试的各IP核测试时间的最大值,yi表示一个二进制变量,设IP核的标号j

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
功耗约束下基于硬核的三维SoC测试调度方法,其特征在于,所述方法的具体过程为:步骤一:基于硬核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核,先将细粒度IP核视为在各层上的多个部分,每层上的部分相当于一个粗粒度IP核,将所有粗粒度IP核和细粒度IP核在各层上的部分统一进行编号,建立三维SoC测试调度的数学模型T=Σi=1|M|yi·(maxj=i|M|{xij·tj}),其中|M|表示一个SoC中的IP核总数,xij表示一个二进制变量,当编号为i的IP核和编号为j的IP核并行测试时,则xij取值为1,否则xij取值为0,i和j均为1到|M|之间的任意正整数,tj为编号为j的IP核的测试时间,表示并行测试的各IP核测试时间的最大值,yi表示一个二进制变量,存在编号为i的IP核,若存在任意编号为j的IP核与编号为i的IP核并行测试,其中jci=maxj=i|M|{xij·tj}和ui=yu·ci,将步骤一中的数学模型线性化,得到其中ci表示并行测试的编号为i的IP核测试时间的最大值,ui表示引入变量yi后的编号为i的IP核测试时间的最大值,根据约束条件求得整个SoC的测试时间T的最小值,即获得IP核的测试顺序,然后根据该测试顺序依次调度待测的IP核实现SoC测试调度。FDA00003602979300012.jpg,FDA00003602979300014.jpg...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:俞洋刘旺彭喜元王帅虞娇兰
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学
类型:发明
国别省市:

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