【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种发光二极管检测量具，用于对发光二极管光源进行检测，其包括壳部和测试部，壳部支撑测试部，该测试部包括载板，该载板用于承载发光二极管光源，以使发光二极管光源的底面贴设于该载板，发光二极管光源的出光面背离该载板，发光二极管光源的底面具有极板，其特征在于：该载板上设有导电结构，该测试部还包括真空吸附装置，该载板上设置制冷芯片，该载板对应发光二极管光源开设有至少一气孔，该制冷芯片围设于该至少一气孔外，该真空吸附装置通过该至少一气孔将发光二极管光源吸附于载板上，使发光二极管光源的极板与导电结构接触而使发光二极管光源发光，该制冷芯片用于控制发光二极管光源的检测温度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘泰健，
申请(专利权)人：全亿大科技佛山有限公司，鸿准精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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