一种微弱光检测仪的暗室制造技术

本实用新型专利技术涉及一种微弱光检测仪的暗室，其结构包括样品转盘(1)、轴承套(2)、暗室底盘(3)、螺栓套(4)、支架(5)、轴(6)、暗室盖(7)、电机(8)、支柱(9)，其中，暗室盖(7)与暗室底盘(3)扣合在一起形成暗室，样品转盘(1)被密封在所述暗室内。本实用新型专利技术的暗室结构降低了外壳加工的难度，有效地屏蔽了仪器内部某些器件发光的影响，保证了仪器本底值的正常。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种微弱光检测仪的暗室，属于微弱光探测领域。
技术介绍
微弱光检测仪采用先进的光子计数检测技术，可实现对极微弱光信号的探测，故仪器的避光处理成为设计的重点。对于微弱光检测仪，现有技术中采用仪器外壳整体避光的方式，完全通过仪器外壳隔绝外部全部可见光。测试样品时，需要打开翻盖，将待测品放入相应管位，然后将仪器的上壳与下壳闭合。为了达到更好的避光效果，一般将上、下壳衔接处设计成凹凸槽结构，如图I所示，当上壳10与下壳20闭合时，上壳的凸槽11扣进下壳的凹槽22内，起到了更好避光的效果。然而，依靠仪器外壳整体避光的方法存在一定缺陷，因为仪器内部的某些器件带有指示灯(例如电机驱动器)或其它发光器件，甚至仪器外壳上有时需要安装指示灯等发光器件，这些都会对测试产生弱光影响，从而影响仪器探头测试的本底值。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术中的上述不足，提供一种微弱光检测仪的暗室，以消除仪器内部器件产生的光带来的干扰。本技术的目的是通过以下方式实现的一种微弱光检测仪的暗室，包括样品转盘I、轴承套2、暗室底盘3、螺栓套4、支架5、轴6、暗室盖7、电机8、支柱9，其特征在于暗室盖7与暗室底盘本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微弱光检测仪的暗室，包括样品转盘(1)、轴承套(2)、暗室底盘(3)、螺栓套(4)、支架(5)、轴(6)、暗室盖(7)、电机(8)、支柱(9)，其特征在于：暗室盖(7)与暗室底盘(3)扣合在一起形成暗室，样品转盘(1)被密封在所述暗室内。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谭永红，申玲，
申请(专利权)人：北京滨松光子技术股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：