一种发光二极管诱导的荧光检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种发光二极管诱导荧光检测装置，属于分析检测技术领域。它包括压盖、自校准平台、荧光收集透镜、光电探测器连接件、滤光片、光电探测器、支架。压盖与自校准平台通过螺纹连接；自校准平台上端通孔与荧光收集透镜通过螺纹连接，上端的U型槽分别用来安装毛细管和光纤，下端通孔与光电探测器连接件间通过螺纹连接；光电探测器连接件的沉孔内安装滤光片，光电探测器通过螺钉安装在其安装槽内；荧光收集透镜、滤光片和光电探测器中心处于同一轴线。本实用新型专利技术克服常规激光诱导荧光检测器体积庞大等缺陷，不仅可以满足光纤和检测通道的高精度中心对准和重复定位的需求，也可根据需要增加激发光纤的数量，提高系统的检测限。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种发光二极管诱导的荧光检测装置，属于分析检测
， 主要用于生物、化学、食品及环境中微量和痕量物质分析检测。
技术介绍
荧光检测是一种常用的高灵敏检测技术，利用被分析物质在特定波长光激发下会产生荧光的特性对其进行定性定量检测。其中，激光诱导荧光技术具有极高的灵敏度，但激光器成本高、体积大、能耗高等缺点在很大程度上限制了激光诱导荧光技术的应用。半导体激光器具有体积和成本优势，但目前其发射波长主要局限在长波区，在此区域很难找到合适的荧光染料。近年来，发光二极管应用于荧光检测逐渐引起了人们的关注。发光二极管具有输出功率稳定、能耗低、体积小、寿命长等优点，并且发射波长可选择范围较宽，作为一种新型光源非常适合于仪器的微型化趋势，被越来越多的应用到了分析检测领域。目前常用的诱导荧光检测根据激发光路及荧光收集光路间光路耦合的方式主要分为透镜耦合激发光纤耦合收集、光纤耦合激发光纤耦合收集、透镜耦合激发透镜耦合收集等；根据荧光收集光路设计又可以分为共线型和正交型两种方式。本技术设计了发光二极管作为激发光源，适用于光纤激发和透镜收集的正交型的荧光检测装置，不仅可以满足光纤和检测通道的高本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种发光二极管诱导荧光检测装置，其特征在于，包括：压盖（１）、自校准平台（２）、荧光收集透镜（３）、光电探测器连接件（４）、滤光片（５）、光电探测器（６）、支架（７）；自校准平台（２）上端有外螺纹，并开有两Ｕ型槽，其中心轴上开有两螺纹孔，下端螺纹孔直径比上端螺纹孔大；荧光收集透镜（３）有外螺纹；光电探测器连接件（４）有外螺纹，上端开有沉孔，下端开有安装槽；压盖（１）的内螺纹与自校准平台（２）上端的外螺纹配合连接；自校准平台（２）上端螺纹孔与荧光收集透镜（３）通过螺纹连接，可以通过旋转荧光收集透镜（３）调整与检测窗口的距离，使荧光收集达到最大的效率；自校准平台（２）上端的Ｕ型槽分别用来安装毛...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李晓琼，张志广，邓玉林，胡晓明，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：实用新型
国别省市：11