检测发光二极管短路的方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了了一种检测发光二极管短路的方法及其装置。该检测装置，包括一第一节点、一电流源、一电压产生电路、一第一比较电路。第一节点与一第一外部电路耦接，其中，第一外部电路包括有多个发光二极管相串接。电流源产生一电流至第一节点。电压产生电路通过一第二节点，以输出一节点电压至第一外部电路。第一比较电路具有二个输入端分别耦接第一节点以及一参考电压，第一比较电路比较二个输入端的电压以产生一第一比较信号。其中，第一比较信号用以指示多个发光二极管中是否有短路情形。

【技术实现步骤摘要】
检测发光二极管短路的方法及其装置
本专利技术是有关于一种电子电路，且特别是有关于一种用以检测发光二极管短路的电子电路及其方法。
技术介绍
近来，显示面板(panel)应用于许多电子产品上。例如：数字电视、数字监示器、智能手机、笔记本电脑、平板电脑、ipad、…等各式各样的电子产品上。显示面板(panel)须有一个背光设备用以提供光源。目前较常见的背光设备利用多颗发光二极管(LED)来提供光源。其中该多颗发光二极管可分成4串或8串(channel)以进行控制。一般而言，在发光二极管背光控制器(back-lightcontroller)的电路应用上，传统的发光二极管短路检测电路检测发光二极管串(LEDchannel)的负端电压ISEN，当发光二极管有烧掉(短路)发生时，发光二极管串的跨压会变小导致发光二极管串的负端电压ISEN提高，利用检测发光二极管串负端电压ISEN的变化，即可得知发光二极管串短路发生的数目。然而，发光二极管串的跨压通常约为30～60伏特，因此要用上述机制来检测发光二极管串短路数目，一般都需要使用特殊的高压工艺来实现。当有使用到特殊的高压工艺时，则无法将其检测电路整合使用一般工艺的集成电路中，特别是在系统在晶片(systemonchip，soc)的应用上。此外，由于背光控制器用以控制发光二极管的亮/暗(ON/OFF)，一般而言，当面板尺寸愈大，则所须的发光二极管的串数、或是每串的数量就会愈多。若对一个发光二极管串进行短路检测须要该背光控制器的节点(PIN)数量愈少时，则愈可节省到背光控制器的节点数。例如：当对一个发光二极管串进行短路检测须要该背光控制器的愈多节点(PIN)时，则该背光控制器就会被占用到愈多节点(PIN)，造成生产成本提高。由于传统作法存在着一些问题点。所以，本专利技术提出一个检测发光二极管短路的电子电路及其方法，以克服上述的至少一个问题点。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种检测发光二极管短路的电子电路及其方法。根据本专利技术，提出了一种检测电路，包括一第一节点、一电流源、一电压产生电路、一第一比较电路。第一节点与一第一外部电路耦接，其中，第一外部电路包括有多个发光二极管相串接。电流源产生一电流至第一节点。电压产生电路通过一第二节点，以输出一节点电压至第一外部电路。第一比较电路具有二个输入端分别耦接第一节点以及一参考电压，第一比较电路比较二个输入端的电压以产生一第一比较信号。其中，第一比较信号用以指示多个发光二极管中是否有短路情形。根据本专利技术，提出了一种检测方法，该方法被使用来检测一发光二极管串中是否具有短路情形，该方法包括有下列步骤：首先，提供一电流至一第一节点，其中，第一节点通过一耐压元件与一发光二极管串相耦接。提供一第一电压至一第二节点，其中，耐压元件与第二节点相耦接，耐压元件的一控制端接收与第一电压相对应的一第二电压。接着，依据位于第一节点的电压电平产生一第一比较信号。其中，第一比较信号指示出发光二极管串中的至少一个发光二极管是否短路情形。为了对本专利技术的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。附图说明图1绘示依照本专利技术的检测电路的一实施例的示意图。图2绘示依照本专利技术的电压产生电路的一实施例的示意图。图3绘示依照本专利技术的检测电路的一第二实施例的示意图。图4A绘示依照本专利技术的检测电路一模式的一实施例的示意图。图4B绘示为依照本专利技术的检测电路另一模式的一实施例的示意图。图4C绘示为依照本专利技术的检测电路另一模式的一实施例的示意图。图4D绘示为依照本专利技术的检测电路另一模式的一实施例的示意图。图5绘示为依照本专利技术的检测电路的另一实施例的示意图。其中，附图标记说明如下：LEDs发光二极管串D0～DN二极管M0、M1晶体管R1、R2、RI1、RI2电阻100检测电路101电压产生电路102、104分压电路105比较电路106模式控制电路107通用输入输出电路具体实施方式图1绘示依照本专利技术的检测电路的一实施例的示意图。发光二极管短路检测电路100通过一第一节点ISEN1与一第二节点CRT与一第一外部电路EC1相耦接。一实施例，第一外部电路EC1包括有一发光二极管串LEDs。该发光二极管串LEDs包含有多个发光二极管相串接。检测电路100用以检测第一外部电路EC1的发光二极管串LEDs是否存有短路情形。该检测电路100包括有：一电压产生电路101、一(可调)电流源103、一第二分压电路104、以及一比较电路105。一实施例，该一第一节点ISEN1与第二节点CRT可为集成电路(IC)的不同接脚(PIN)。该第一外部电路EC1可能具有许多实施方式。在一实施例中，该第一外部电路EC1除了具有发光二极管串LEDs之外，还包括有：一第一分压电路102、以及一耐压元件M1。第一分压电路102耦接于工作电压VX以及该第二节点CRT的可控的节点电压VCRT之间。第一分压电路102接收节点电压VCRT，且利用二个阻抗元件(例如是电阻R1、R2)分压工作电压VX与节点电压的压差，产生一第一分压V1至第一分压电路102的输出端，其中，该第一分压V1的电压值为(R1VX+R2VCRT)/(R1+R2)。由于节点电压VCRT可调的。换言之，该第一分压V1的电压值亦为可调的。耐压元件M1的栅极耦接于该第一分压电路102的输出，也就是，该耐压元件M1的栅极接收该第一分压V1。换言之，该耐压元件M1的工作区受到该第一分压V1的控制。电压产生电路101用以产生节点电压VCRT，通过第二节点CRT输出节点电压VCRT至第一外部电路EC1。电流源103产生一电流I至第一节点ISEN1，以流通发光二极管串LEDs点亮发光二极管串LEDs，并于该第一节点ISEN1产生一电压信号VISEN1。一实施例，电流源103为可调电流源。第二分压电路104与该第一节点ISEN1相耦接以接收电压信号VISEN1，第二分压电路104分压电压信号VISEN1(例如是利用电阻RI1与RI2来进行分压)，以产生一第二分压V2给比较电路105。若电压信号VISEN1的大小在尚未进行分压前就已适用于比较电路105，不需要再进行分压，则第二分压电路104可省略。比较电路105具有二个输入端分别耦接该第一节点ISEN1以及一参考电压VREF，接收该二个输入端的电压(设有第二分压电路104时为第二电压V2与参考电压VREF)，并比较第二分压V2(当第二分压电路104可省略时，则为电压信号VISEN1)及参考电压VREF，来产生一比较信号LED_SHORT。其中，参考电压VREF依据一发光二极管短路的电压大小来进行设定(例如：参考电压VREF设为等于或是略大于一发光二极管短路的电压大小)，比较信号LED_SHORT用以指示第一外部电路EC1的多个发光二极管中是否有短路情形。例如：当第二分压V2大于参考电压VREF时，则比较电路105判断出第一外部电路EC1的发光二极管串LEDs中至少一个发光二极管有发光二极管短路，以输出比较信号LED_SHORT。换言之，比较电路105依据位于该第一节点ISEN1的电压电平来产生一第一比较信号。检测电路100及其方法是利用一个外部耐压元件M1(一实施例为一晶体管)来阻挡(抵抗)发光二本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测电路，包括：一第一节点，与一第一外部电路耦接，其中，该第一外部电路包括有多个发光二极管相串接；一电流源，产生一电流至该第一节点；一电压产生电路，通过一第二节点，以输出一节点电压至该第一外部电路；以及一第一比较电路，具有二个输入端分别耦接该第一节点以及一参考电压，该第一比较电路比较该二个输入端的电压以产生一第一比较信号，其中，该第一比较信号用以指示该多个发光二极管中是否有短路情形。

【技术特征摘要】
2012.04.10 TW 1011125491.一种检测电路，包括：一第一节点，与一第一外部电路耦接，其中，该第一外部电路包括有多个发光二极管相串接，其中该第一外部电路还包括有一第一耐压元件与一第一分压电路，该第一耐压元件的栅极耦接该第一分压电路的输出端；一电流源，产生一电流至该第一节点；一电压产生电路，通过一第二节点，以输出一节点电压至该第一外部电路，其中，该第一分压电路接收该节点电压和一工作电压，以提供一电压至该输出端，该输出端的该电压介于该工作电压及该节点电压之间；以及一第一比较电路，具有二个输入端分别耦接该第一节点以及一参考电压，该第一比较电路比较该二个输入端的电压以产生一第一比较信号，其中，该第一比较信号用以指示该多个发光二极管中是否有短路情形；以及一模式控制电路，该模式控制电路包含有多个控制模式，该模式控制电路用以控制多个开关的动作；其中，当该检测电路进入检测模式时，该模式控制电路控制该电压产生电路耦接该第二节点；当检测电路进入非检测模式时，该模式控制电路让该第二节点耦接一通用输入输出电路，而不耦接该电压产生电路。2.权利要求1所述的检测电路，其中提供至该第一耐压元件的栅极电压大于全部的该多个发光二极管的短路电压总和电压值加上该第一耐压元件的临界电压值的电压。3.如权利要求1所述的检测电路，还包括：一第三节点，与一第二外部电路耦接，该第二外部电路包括有多个发光二极管相串接；以及一第二比较电路，具有二个输入端分别耦接该第三节点以及该参考电压，该第二比较电路产生一第二比较信号用以指示该第二外部电路的该多个发光二极管中是否有短路情形。4.如权利要求1-3任一项所述的检测电路，其中该参考电压依据该多个发光二极管其中之一短路的电压大小来进行设定。5.如权利要求1所述的检测电路，其中该电压产生电路包括有：串接的一第一晶体...

【专利技术属性】
技术研发人员：林书民，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：