半导体封装件及其制法与制作系统技术方案

一种半导体封装件及其制法与制作系统，该半导体封装件的制法通过先对晶圆预开口区上的胶层进行脆化，再沿该经脆化的胶层切割晶圆，以避免胶材粘着于刀具上。该半导体封装件的制法包括：于一具有电性连接垫的基板上设置第一晶圆；于该第一晶圆上堆栈第二晶圆，且该第二晶圆上具有对应该电性连接垫的预开口区；形成保护层于该第二晶圆上；脆化位于该预开口区上的保护层；以及移除该预开口区上的经脆化的保护层、该第二晶圆与该第一晶圆，以形成用以外露该电性连接垫的开口。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种半导体封装件，尤指一种半导体封装件及其制法与制作系统。
技术介绍
随着电子产业的蓬勃发展，电子产品的功能需求随之增加，而为满足多功能的使用需求，电子产品中的电路板上需布设多样功能的半导体封装件与电子组件。然而，半导体封装件与电子组件的数量增加，势必增加电路板的布设空间，因而增加电子产品的体积，导致电子产品无法满足微小化的需求。因此，为了满足微小化的需求，现有技术为提高整合度，也就是将半导体封装件整合电子组件以成为微机电系统(Micro Electro MechanicalSystem, MEMS)封装件，不仅可减少电路板的布设空间从而减少电子产品的体积，而且能维持多功能的需求。图1A至图1B为现有半导体封装件I的制法。如图1A所示，其于一具有电性连接垫100的基板10上设置一第一晶圆11，并将一第二晶圆12结合于该第一晶圆11上，再于该第二晶圆12上形成通孔12a。接着，形成胶层13于该第二晶圆12上，以封盖该通孔12a。如图1B所示，通过刀具(图未示)沿切割线L (如图1A所示)切割移除该胶层13与第二晶圆12，以外露该电性连接垫100。在后续制程中，先固化该胶层13以移除该胶层13，再将电子组件(图未示)置纳于该通孔12a中，且该电性连接垫100并以打线方式电性连接其它电子装置(图未示)。但，上述现有切割制程中，该刀具必需切经胶层13，往往会因该胶层13粘着于刀具上而造成刀具于切割时的阻力，因而不利于切割，且于切割后，该刀具上往往会残留胶材，导致刀具不易清理，也使刀具容易损坏。此外，因该胶层13具有粘性，所以于切割制程完成后，难以清除落于该电性连接垫100上的胶层13的余屑13a，导致该电性连接垫100的电性易受影响。因此，如何克服上述现有技术中的种种问题，实已成目前亟欲解决的课题。
技术实现思路
为克服上述现有技术的问题，本专利技术的主要目的在于提供一种半导体封装件及其制法与制作系统，可避免胶材粘着于刀具上。本专利技术的半导体封装件的制法，包括:于一具有电性连接垫的基板上设置第一晶圆；于该第一晶圆上堆栈第二晶圆，且该第二晶圆上具有对应该电性连接垫的预开口区；形成保护层于该第二晶圆上；脆化位于该预开口区上的保护层；以及移除该预开口区上的经脆化的保护层、第二晶圆与第一晶圆，以形成用以外露该电性连接垫的开口。此外，因该保护层不具有粘性，所以于切割制程后，易于清除落于该电性连接垫上的保护层上的余屑。本专利技术还提供一种制作半导体封装件的系统，包括:承载装置，其用以承载半导体封装件，该半导体封装件于一具有电性连接垫的基板上依序设置第一晶圆与第二晶圆，且该第二晶圆上具有对应该电性连接垫的预开口区；封模装置，其用以形成保护层于该第二晶圆上；脆化装置，其用以脆化位于该预开口区上的保护层；以及切割装置，其用以沿该预开口区切割该基板上的第一与第二晶圆，以移除经脆化的保护层、部分第二晶圆与部分第一晶圆，以形成用以外露该电性连接垫的开口。本专利技术还提供一种半导体封装件，包括:基板，其具有置晶区与位于该置晶区外围的电性连接垫；第一芯片，其设于该基板的置晶区上；第二芯片，其设于该第一芯片上，且其侧面对应该置晶区，以外露该电性连接垫；第一保护层，其形成于该第二芯片的部分表面上且延伸至邻近该电性连接垫的侧边；以及第二保护层，其形成于该第二芯片的部分表面上并连接该第一保护层，且该第一保护层的脆性大于该第二保护层的脆性。附图说明图1A至图1B为现有半导体封装件的制法的剖面示意图2A至图2D为本专利技术半导体封装件的制法的剖面示意图；以及图3为本专利技术制作半导体封装件的系统的示意图。附图中符号的简单说明如下:1，2:半导体封装件;10，20:基板；100, 200:电性连接垫；11,21:第一晶圆；12，22:第二晶圆；12a，22a:通孔；13:胶层；13a:余屑;21，:第一芯片；21a:第一开口 ；210:止蚀层；211:陀螺仪；212:凸块；22’:第二芯片；22c:侧面；220:第二开口 ；23:保护层；23a:第一保护层；23b:第二保护层；230:第三开口 ；S31:承载装置；S32:成孔装置；S33:封模装置；S34:脆化装置；S35:切割装置；A:预开口区；W:置晶区；L:切割线。具体实施方式以下通过特定的具体实施例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本专利技术的其它优点及功效。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供本领域技术人员的了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，所以不具有技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“一”、“上”等用语，也仅为便于叙述的明了，而非用以限定本专利技术可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更
技术实现思路
下，当也视为本专利技术可实施的范畴。在本专利技术中，半导体封装件可应用于，例如各种微机电系统(Micro ElectroMechanical System;MEMS),尤其是利用电性或电容变化来测量的影像传感器。特别是可选择使用晶圆级封装(wafer scale package;WSP)制程对影像感测组件、射频组件(RFcircuits)、加速计(accelerators)、陀螺仪(gyroscopes)、微制动器(micro actuators)或压力传感器(process sensors)等半导体封装件。请参阅图2A至图2D，其为本专利技术的半导体封装件2的制法。如图2A所示，提供表面上具有至少一电性连接垫200的一基板20，且于该基板20上通过多个凸块212设置一第一晶圆21，并于该第一晶圆21上形成一止蚀层210，以将一第二晶圆22结合于该止蚀层210上，该第二晶圆22上具有对应该电性连接垫200的预开口区A ;再于该第二晶圆22的外露表面上蚀刻形成一通孔22a,令该第一晶圆21的部分表面外露出该通孔22a。接着，形成保护层23于该第二晶圆22上，以封盖该通孔22a。于本实施例中，该基板20为互补式金属氧化物半导体(ComplementaryMetal-Oxide-Semiconductor, CMOS)的晶圆结构，但该基板20的结构也可为陶瓷线路板、金属板等，并无特别限制。该第一晶圆21电性连接该基板20，且该第一晶圆21上设有如陀螺仪211的电子组件，使该第一晶圆21具有微机电系统(MEMS)，而该第二晶圆22作为覆盖件。该保护层23的材质为感旋光性胶材，例如紫外光硬化胶带(UV tape)。此外，该基板20、第一晶圆21与第二晶圆22形成堆栈晶圆组，且于各晶圆结构中，其内部线路可依需求作设计，又该内部线路并非本案的技术特征，所以不详述及图标。另夕卜，可选择性地，于该第一晶圆21位于该电性连接垫200上方形成第一开口 21a。如图2B所示，通过图案化光阻(图未示)，以光线(如紫外光)照射位于该预开口区A及其周围上的保护层23，令该感旋光性胶材脆化，也就是固化胶材，以作为第一保护层23a，而其余的保护层23作为第二保护层23b。如图2C所示，移除该光阻本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体封装件，其特征在于，包括：基板，其具有置晶区与位于该置晶区外围的电性连接垫；第一芯片，其设于该基板的置晶区上；第二芯片，其设于该第一芯片上，且其侧面对应该置晶区，以外露该电性连接垫；第一保护层，其形成于该第二芯片的部分表面上且延伸至邻近该电性连接垫的侧边；以及第二保护层，其形成于该第二芯片的部分表面上并连接该第一保护层，且该第一保护层的脆性大于该第二保护层的脆性。

【技术特征摘要】
2012.01.18 US 61/587,8291.一种半导体封装件，其特征在于，包括: 基板，其具有置晶区与位于该置晶区外围的电性连接垫； 第一芯片，其设于该基板的置晶区上； 第二芯片，其设于该第一芯片上，且其侧面对应该置晶区，以外露该电性连接垫； 第一保护层，其形成于该第二芯片的部分表面上且延伸至邻近该电性连接垫的侧边；以及 第二保护层，其形成于该第二芯片的部分表面上并连接该第一保护层，且该第一保护层的脆性大于该第二保护层的脆性。2.根据权利要求1所述的半导体封装件，其特征在于，该基板为芯片结构。3.根据权利要求1所述的半导体封装件，其特征在于，该第一芯片或该第二芯片具有微机电系统。4.根据权利要求1所述的半导体封装件，其特征在于，该第一芯片通过凸块设于该基板上。5.根据权利要求1所述的半导体封装件，其特征在于，该第二芯片具有通孔，以外露出部分的该第一芯片。6.根据权利要求5所述的半导体封装件，其特征在于，该第二保护层还封盖该通孔。7.根据权利要求1所述的半导体封装件，其特征在于，该第一保护层的材质为脆性材质。8.根据权利要求1所述的半导体封装件，其特征在于，该第二保护层的材质为胶材。9.一种半导体封装件的制法，其特征在于，包括: 于一具有电性连接垫的基板上设置第一晶圆； 于该第一晶圆上堆栈第二晶圆，且该第二晶圆上具有对应该电性连接垫的预开口区； 形成保护层于该第二晶圆上； 脆化位于该预开口区上的保护层；以及 移除该预开口区上的经脆化的保护层、第二晶圆与第一晶圆，以形成用以外露该电...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄玉龙，
申请(专利权)人：精材科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：