【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及带隙基准电路,尤其是一种降低失调电压影响的带隙基准电压电路,属于双极型晶体管(BJT)以及金属氧化物半导体(MOS)晶体管集成电路
技术介绍
现有技术中存在一种如附图说明图1所示的传统带隙基准电压电路,设有PNP三极管Q1、Q2和Q3、运算放大器0P、电阻Rl和R2、PMOS管Ml、M2和M3 ;PNP三极管Ql、Q2和Q3的基极和集电极均接地,PNP三极管Ql的发射极通过电阻Rl连接放大器OP的同相输入端和PMOS管Ml的漏极(节点A),PNP三极管Q2的发射极连接放大器OP的反相输入端和PMOS管M2的漏极(节点B),运算放大器OP的输出端与PMOS管Ml、M2、M3的栅极连接,PMOS管Ml、M2、M3的源极和衬底均连接电源VDD,PNP三极管Q3的发射极通过电阻R2连接PMOS管M3的漏极(节点C)并作为输出端输出基准电压VMf。图1工作原理如下:宽长比相同的PMOS管Ml,M2和M3构成等比例电流镜,使流过三极管Ql,Q2和Q3的支路电流相等,即IQ1=IQ2=IQ3。三极管Q2的基极-发射极电压为:权利要求1.一种降低失调电压 ...
【技术保护点】
一种降低失调电压影响的带隙基准电压电路,基于传统的带隙基准电压电路结构,设有PNP三极管Q1、Q2和Q3、运算放大器OP、电阻R1和R2、PMOS管M1、M2和M3;PNP三极管Q1、Q2和Q3的基极和集电极均接地,PNP三极管Q1的发射极通过电阻R1连接放大器OP的同相输入端和PMOS管M1的漏极,PNP三极管Q2的发射极连接放大器OP的反相输入端和PMOS管M2的漏极,运算放大器OP的输出端与PMOS管M1、M2、M3的栅极连接,PMOS管M1、M2、M3的源极和衬底均连接电源VDD,PNP三极管Q3的发射极通过电阻R2连接PMOS管M3的漏极并作为输出端输出基准电压V ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:祝靖,孙国栋,宋慧滨,孙伟锋,陆生礼,时龙兴,
申请(专利权)人:东南大学,
类型:发明
国别省市:
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