一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法技术

本发明专利技术属于稳定平台自动跟踪系统控制电路检测技术领域，具体涉及一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法。目的是提供一种不依赖外部仪器，减少人工操作的快速检测方法。包含如下步骤：步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0；步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连，使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0，即得到DAC的零位数据D0；步骤3、DAC输出变化信号，使用ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据进行比对。优点是：使用工装将电路本身的DAC和ADC闭环联结，通过测试程序使DAC输出测试用模拟信号，对电路上ADC进行检测。ADC通过读取的模拟信号对电路上DAC进行检测。完成闭环测试。

【技术实现步骤摘要】
—种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法
本专利技术属于稳定平台自动跟踪系统控制电路检测
，涉及一种电路快速检 测技术。
技术介绍
稳定平台自动跟踪系统在军事上获得了广泛的应用，要获得良好的稳定跟踪性 能，采集稳定平台上传感器信息的ADC和控制稳定平台运动的DAC都需要较高精度。为了 提高精度和使控制电路具备通用性。需要对每块电路板上ADC和DAC进行详细的测试，并 对电路的初始零位进行测试并进行补偿。人工对每块电路进行测试需要专用的仪器(高精度信号发生器和高精度数字示 波器)和一定的专业技能，并需要较长时间。
技术实现思路
本专利技术的目的是在于提供一种对包含ADC和DAC的电路的不依赖外部仪器，减少 人工操作的快速检测方法。本专利技术是这样实现的一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其中，包含 如下步骤步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，将读取的数据求平均作为ADC的 零位数据AO，用于校准ADC读数；步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连，使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平 均减去上一步获得的ADC零位数据A0，即得到DAC的零位数据D0，用于校本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其特征在于：包含如下步骤：步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0，用于校准ADC读数；步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连，使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0，即得到DAC的零位数据D0，用于校准DAC的输出；步骤3、DAC输出变化信号，信号幅度为DAC的上下极限输出值，每一次的变化幅度为最低数据位，使用ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据进行比对，此时的数据均通过步骤1和步骤2中得到的零位数据进行修正；如果步骤1和步骤2的零位数据满足预定的要求，...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张瑞，
申请(专利权)人：中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所，
类型：发明
国别省市：