包含于控制芯片内的统计电路及使用该电路的控制芯片制造技术

一种包含于控制芯片内的统计电路以及使用该统计电路的控制芯片。该统计电路包含：一脉冲宽度估算单元，接收取样信号，并产生一脉冲宽度信号，该脉冲宽度信号在取样信号有状态转换时产生一脉冲；多个串接的延迟单元，其中第一个延迟单元接收脉冲宽度信号，并根据一参考时脉的触发分别输出多个延迟信号，且该第一个延迟单元的输出还作为一重置信号；一逻辑电路，接收脉冲宽度信号与重置信号，并产生一计数信号，该计数信号于脉冲宽度信号产生脉冲时被启用一段期间；以及多个计数器，分别接收多个延迟单元的延迟信号，借以在触发信号被启用时，计数所接收的延迟信号为第一状态的次数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一统计电路，特别是关于包含于控制芯片内的统计电路。
技术介绍
在光盘装置系统的检错中，常用外接仪器来验证整个系统或盘片的好坏，尤其是用来统计每个脉冲(pulse)宽度的直方图的仪器(histogram)最常被使用。因为经由直方图的仪器的检测结果，可用来确定盘片质量，也可用来验证光盘装置前端模拟电路的好坏。图1为一般利用直方图的仪器测试光盘装置系统的示意图。如图1所示，光盘装置系统11经过DUT 12的转换后，将数据输出到直方图的仪器13。因此，工程师即可根据直方图的仪器13所表示的数据来判断光盘装置系统11的特性。但是，直方图的仪器价格昂贵，且不适合现场应用工程师(FieldApplication Engineer，FAE)到客户端进行检错支援。
技术实现思路
有鉴于上述问题，本专利技术的目的是提供一种统计电路，该统计电路包含于控制芯片内，例如光盘装置的控制芯片。为达成上述目的，本专利技术的包含于控制芯片内的统计电路，用来统计一取样信号在一统计时间内不同脉冲宽度的脉冲数，该统计电路包含一脉冲宽度估算单元，接收取样信号，并产生一脉冲宽度信号，该脉冲宽度信号在取样信号有状态转换时产生一脉冲；多个串接的延迟单元，其中第一个延迟单元接收脉冲宽度信号，并根据一参考时脉的触发分别输出多个延迟信号，且该第一个延迟单元的输出还作为一重置信号；一逻辑电路，接收脉冲宽度信号与重置信号，并产生一计数信号，该计数信号于脉冲宽度信号产生脉冲时被启用一段期间；以及多个计数器，分别接收多个延迟单元的延迟信号，借以在触发信号被启用时，计数所接收的延迟信号为第一状态的次数。附图说明图1为一般利用直方图的仪器测试光盘装置系统的示意图。图2表示包含本专利技术所提出的设置于DVD的控制电路中的统计电路的功能方块图。图3表示本专利技术所提出的统计电路的一较佳实施例电路的实施例。图4表示图3的部分信号的时序图。附图编号11 光盘装置系统12 DUT13 直方图仪器21 控制电路211 模数转换器212 分频单元213 相位频率检测器214 回路滤波器215 数模转换器216 压控振荡器217 8至14解调制单元22 统计电路221 脉冲宽度估算单元2221-222N 脉冲宽度统计单元2231-223N 脉冲宽度计算单元32 最高位提取单元33 NRZI单元341-34N D触发器35 逻辑单元363-36N 计数器具体实施方式以下参考附图详细说明本专利技术包含于控制芯片内的统计电路。为了节省架设仪器的时间，与购买仪器的成本，并且方便FAE工程师到客户端进行检错支援，本专利技术提出了一种统计电路，该统计电路实施在光盘装置(例如数字音像光盘装置，Digital Versatile Disk，DVD)的控制芯片内。由于该统计电路可直接输出一取样信号(RF信号)的各种脉冲宽度的统计值，因此，FAE工程师除了可根据统计值即时了解此控制芯片设计的好坏外，还可依据其结果用来调整伺服(servo)系统的各项参数，并且了解盘片写入的质量。图2表示包含本专利技术提出的设置于DVD的控制电路中的统计电路的一实施例的功能方块图。如该图所示，DVD控制系统包含一控制电路21与一统计电路22。常规DVD控制系统将储存于盘片的RF信号经由前级放大器(preamplifier)放大后，作为控制电路21的输入信号。控制电路21包含一模数转换器(ADC)211、一分频单元212、一相位频率检测器(Phase FrequencyDetector)213、一回路滤波器(Loop Filter)214、一数模转换器(DAC)215、一压控振荡器(Voltage Controlled Oscillator，VCO)216、以及一8至14解调制单元(Eight to Fourteen Modulation Demodulator，EFMdemodulator)217。基本上控制电路21利用模数转换器211将输入信号转换成数字的取样信号后，以一个数字锁相回路(digital phase locked loop，DPLL)来固定该数字取样信号的频率。一般而言，该模数转换器211的取样频率会高于EFM信号的基本周期T，因此该控制电路21会利用分频单元212将取样信号的频率降低成基本周期T所相对的频率。而统计电路22接收取样信号，并分析该取样信号的各种不同脉冲宽度的脉冲数，并输出各脉冲宽度的统计值或平均值。该统计电路22包含一脉冲宽度估算单元221、多个脉冲宽度统计单元2221-222N、以及多个脉冲宽度计算单元2231-223N。脉冲宽度估算单元221估算取样信号的每个脉冲的宽度，并输出相对应的信号至脉冲宽度统计单元2221-222N。例如，当脉冲宽度为3时，对应于宽度3的脉冲宽度统计单元2223的数值即加1。因此，多个脉冲宽度统计单元2221-222N即可统计出在一段时间内不同脉冲宽度的脉冲出现的次数。之后，多个脉冲宽度计算单元2231-223N即可根据每个宽度的出现次数来输出其平均值。所以，只要利用固件即可将统计值或平均值输出。由于控制电路21为高速光盘装置的控制电路，因此可利用其高速的优点。在本实施例中，压控振荡器216的振荡频率在20x倍速必须设计到高达530MHz。因此，本专利技术可利用此高速的压控振荡器216来取样1x倍速的输入信号(此时分频单元212的分频倍数N设为20)，使得每个基本周期T会被取样达20次左右，亦即每个基本周期T中取样信号的取样次数为20。所以，取样信号的脉冲精准度为1/20×T，足够用来检测此芯片设计的好坏，协助调整伺服(server)系统的各项参数，并且了解盘片写入的质量。在数字化DVD读取通道(Read Channel)电路中，由于此芯片本身就是设计在高倍速运转，高速的ADC/VCO本来就存在，我们只要将分频取样(down-sampling)的操作在数模转换器(ADC)221之后，并利用统计电路22来统计ADC221之后的取样信号的各个不同脉冲宽度的脉冲数即可。所以，在有包含统计电路22的控制芯片中，即可利用系统固件读取统计电路22的各个不同脉冲宽度的脉冲次数或其平均值，现场应用工程师(FAE)即可根据该脉冲次数或其平均值进行各种参数设定。图3表示本专利技术统计电路22更清楚的电路的实施例。如该图所示，统计电路22包含一最高位提取单元32、一NRZI单元33、多个D触发器341-34N、一逻辑单元35、以及多个计数器363-36N。在本实施例中，取样信号为一数字信号，最高位的符号可用来表示信号是否有变化。因此，本专利技术利用最高位提取单元32接收取样信号，并输出最高位数据作为状态信号X。但是，若取样信号仅有一位，则最高位提取单元32即可省略。NRZI单元33接收状态信号X，并在状态信号X有状态变化时输出一脉冲信号Y。在此实施例中，以一延迟单元331与一异或门332来构成NRZI单元33，但本专利技术并不以此为限。之后，脉冲信号Y经由多个D触发器341-34N往下传递，其传递的速度由参考时脉Ref_C控制。一般而言，该参考时脉Ref_C的频率与ADC的取样频率相同，亦即在此实施例中参考时脉Ref_C的频率为基本周期T所对应的频率的20倍。D本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种设置于光储存设备中的脉冲宽度统计电路，用来计算至少一取样信号的脉冲宽度的统计值，该脉冲宽度统计电路包含：一脉冲宽度估算单元，依据前述取样信号产生一第一信号，并在前述取样信号有状态转换时产生一第二信号；以及至少一统计单元， 依据前述第一信号及前述第二信号，增加该至少一统计单元的一统计数目，其中，该统计单元与前述取样信号的脉冲宽度相对应。

【技术特征摘要】
1.一种设置于光储存设备中的脉冲宽度统计电路，用来计算至少一取样信号的脉冲宽度的统计值，该脉冲宽度统计电路包含一脉冲宽度估算单元，依据前述取样信号产生一第一信号，并在前述取样信号有状态转换时产生一第二信号；以及至少一统计单元，依据前述第一信号及前述第二信号，增加该至少一统计单元的一统计数目，其中，该统计单元与前述取样信号的脉冲宽度相对应。2.如权利要求1所述的电路，其中还包含至少一个计算单元，接收前述至少一统计单元的输出值，并计算其平均值后输出。3.一种包含于控制芯片内的统计电路，用来统计一取样信号在一统计时间内不同脉冲宽度的脉冲数，该统计电路包含一脉冲宽度估算单元，接收前述取样信号，并产生一脉冲宽度信号，该脉冲宽度信号在前述取样信号有状态转换时产生一脉冲；多个串接的延迟单元，其中第一个延迟单元接收前述脉冲宽度信号，并根据一参考时脉的触发分别输出多个延迟信号，且该第一个延迟单元的输出还作为一重置信号；一逻辑电路，接收前述脉冲宽度信号与前述重置信号，并产生一计数信号，该计数信号于前述脉冲宽度信号产生脉冲时被启用一段期间；以及多个计数器，分别接收前述多个延迟单元的延迟信号，借以在前述触发信号被启用时，根据所接收的延迟信号进行计数。4.如权利要求3所述的包含于控制芯片内的统计电路，其中前述逻辑电路包含一反向器接收前述重置信号，并输出一反向信号；以及一与门，接收前述反向信号与前述脉冲宽度信号，并输出前述计数信号。5.一种具有统计电路的控制芯片，该控制芯片包含一统计电路，而该统计电路用来统计控制芯片内的一取样信号在一统计时间内不同脉冲宽度的脉冲数，该统计电路包含一脉冲宽度估算单元，接收前述取样信号，并产生一脉冲宽度信号，该脉冲宽度信号在前述取样信号有状态转换时产生一脉冲；以及至少一统计单元，接收前述脉冲宽度信号，统计该脉...

【专利技术属性】
技术研发人员：颜光裕，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]