一种测试机控制箱制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试机控制箱；其包括光耦群、继电器群、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群的控制端与外部计算机的I/O控制卡的输出端连接，光耦群的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群的反馈信号端与外部计算机的I/O控制卡的输入端连接，继电器群的测试端与测试电路连接，继电器群的信号输出端与数据处理装置连接；本实用新型专利技术通过光耦群和继电器群组合进行信号的切换，各电路模块与外部信号相互隔离，实现自身通道的复用，电路结构简单。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种测试机控制箱
本技术涉及测试机，尤其涉及一种测试机控制箱。
技术介绍
现有的用于测试PCBA功能的测试机控制箱，具有各种测试电路和数据处理装置。 需要完成多项测试功能，导致电路连接结构比较复杂，而且，电路的信号隔离不好，各电路模块容易受到外部信号的影响，抗干扰能力弱。
技术实现思路
本技术提供一种电路结构简单、隔离性强的测试机控制箱。一种测试机控制箱，包括光耦群、继电器群、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群的控制端与外部计算机的I/o控制卡的输出端连接，光耦群的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群的反馈信号端与外部计算机的I/ O控制卡的输入端连接，继电器群的测试端与测试电路连接，继电器群的信号输出端与数据处理装置连接。其中，还包括LED群，LED群的输入端与光耦群的驱动输出端连接。其中，LED群包括80个LED。其中，继电器群包括用于输入测试机外部信号的测试机外部信号输入端口、用于输入测试用电源的测试电源输入端口、用于输入待测信号的待测信号输入端口。[0 008]其中，测试电路包括短路测试电路。其中，测试电路包括欠压保护测试电路。其中，测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试机控制箱，其特征在于，包括光耦群、继电器群、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群的控制端与外部计算机的I/O控制卡的输出端连接，光耦群的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群的反馈信号端与外部计算机的I/O控制卡的输入端连接，继电器群的测试端与测试电路连接，继电器群的信号输出端与数据处理装置连接。

【技术特征摘要】
1.一种测试机控制箱，其特征在于，包括光耦群、继电器群、测试电路、用于处理并将测试数据传输到外部计算机的数据处理装置，光耦群的控制端与外部计算机的I/o控制卡的输出端连接，光耦群的输出端与继电器群的控制端连接，继电器群的反馈信号端与外部计算机的I/o控制卡的输入端连接，继电器群的测试端与测试电路连接，继电器群的信号输出端与数据处理装置连接。2.根据权利要求I所述的一种测试机控制箱，其特征在于，还包括LED群，LED群的输入端与光耦群的驱动输出端连接。3.根据权利要求2所述的一种测试机控制箱，其特征在于，所述LED群包括80个LED。4.根据权利要求I所述的一种测试机控制箱，其特征在于，所述继电器群包括用于输入测试机...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾傲，
申请(专利权)人：全天自动化能源科技东莞有限公司，
类型：实用新型
国别省市：