一种验证专用集成电路的装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种验证专用集成电路的装置和方法。在本发明专利技术中，设计一个模拟射频部分的发送与接收的逻辑模块，通过该逻辑模块将测试终端提供的测试数据进行射频部分的处理后传递给LTE?ASIC，以及将LTE?ASIC根据测试数据进行相应处理后反馈的反馈数据进行射频部分的处理后传递给测试终端，使得测试终端能根据发送给逻辑模块的测试数据和从逻辑模块所接收的反馈数据对LTE?ASIC进行验证。本发明专利技术的技术方案，使得在LTE?ASIC的初步试产阶段，不再需要送到封装测试厂内的机台上进行验证测试，而是利用一个计算机和采用FPGA设计的逻辑模块在实验室内就可以完成对LTEASIC的快速验证，节省成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及专用集成电路开发
，特别涉及。
技术介绍
LTE (Long Term Evolution,长期演进)ASIC (Application SpecificIntegratedCircuit，专用集成电路)在生产后需要验证，以确定LTE ASIC是否能够按照既定的要求工作。目前，对LTE ASIC进行验证时，需要送到封装测试厂内的机台上进行验证，并需要设计配合此机台的专用测试向量。这种验证方式费用高，且必须安排时程，一般是在大批量生产的情况才会利用此方式。在初步试产，少量的LTE ASIC进行验证时，可能需要频繁调整LTE ASIC中各功能对应的参数或者技术指标，而现有的这种测试机台采用专用测试向量的方法还不能满足这样灵活多变的验证要求。可见，目前还没有一种可行的能够在实验室内快速地对LTE ASIC进行验证的方案。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供可以，使得能够在实验室内快速地对LTE ASIC进行验证。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的本专利技术公开了一种验证专用集成电路的装置，该装置适于验证长期演进专用集成电路LTE ASIC，该装置包括通用本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种验证专用集成电路的装置，该装置适于验证长期演进专用集成电路LTE?ASIC，其特征在于，该装置包括：通用串行总线USB接口单元和数据转换单元；所述USB接口单元，用于接收来自测试终端的USB测试数据包并发送给所述数据转换单元，以及，接收来自所述数据转换单元的USB反馈数据包并发送给所述测试终端，使得所述测试终端能够根据发送的所述USB测试数据包和接收的所述USB反馈数据对所述LTE?ASIC进行验证；所述数据转换单元，用于对接收到的所述USB测试数据包进行解析，并对解析出的第一测试数据进行速率转换，获得第二测试数据发送给所述LTEASIC，以及接收所述LTE?ASIC对所述第二测试数据进行...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王亮，王帅鹏，
申请(专利权)人：北京创毅讯联科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：