一种提高数字电路应用能力的演示教具制造技术

本实用新型专利技术涉及电子技术领域，是一种提高数字电路应用能力的演示教具。数字电路课程是大学电子类专业的重点必修课程，在平时的实验中所给的芯片都是老师事先用集成电路测试仪筛选出的好芯片，即使有一小部分损坏也将当报废件处理，在做实验时还给定芯片内部逻辑结构图，学生做实验只是按照图纸连线，能力提高缓慢而且有限，本实用新型专利技术可以教会学生在没有测试仪的情况下如何检测芯片好坏，在不知芯片内部逻辑结构图时如何测得引脚功能。本实用新型专利技术包括包括第一IC测试区1；第二IC测试区2；真值表区3；电源区4；LED指示灯5；第一芯片插座6；第二芯片插座7；状态记录灯8；转换开关9。演示实验时，根据需要配备相关的芯片和导线，实验是通过给相应引脚输入电平，根据输出情况判断芯片好坏和引脚功能。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于电子
，涉及一种提高数字电路应用能力的演示教具。
技术介绍
数字电路课程是大学电子类专业的重点必修课程，该课程是一门实践性很强的课，必须多动手，多实验才能学的好，在平时的实验中所给的芯片都是老师事先用集成电路测试仪筛选出的好芯片，即使有一小部分损坏也将当报废件处理，在做实验时还给定芯片内部逻辑结构图，学生做实验只是按照图纸连线，能力提高缓慢而且有限，这种实验方式不利于提高大学生的应用能力和专业应变能力，碰到一点问题就无法处理，不利于培养有创 造力的大学生。
技术实现思路
本技术正是为解决上述问题而提供的一种提高数字电路应用能力的演示教具，采用的技术方案如下所述。如图I所示的一种提高数字电路应用能力的演示教具，其特征在于包括第一 IC测试区I ;第二 IC测试区2 ;真值表区3 ;电源区4 ；LED指示灯5 ;第一芯片插座6 ;第二芯片插座7 ;状态记录灯8 ;转换开关9。第一 IC测试区I提供14脚芯片插座一个，该插座位于一个大的芯片轮廓内部，背面用导线一一对应相连，芯片轮廓外部有对应的插线孔；第一 IC测试区I还包括LED指示灯5,该灯有一个插线孔。第二 IC测试区2提供14脚芯片插座一个,该插座位于一个放大的芯片图形内部，放大的芯片图形内部画有芯片内部结构图，背面用导线一一对应相连，芯片轮廓外部有对应的插线孔；真值表区3的特征在于AB变量的各种组合旁边都有一个插线孔，对应的提供和旁边数字标记统一的电平；输出变量Y的状态用下面的4个状态记录灯8记录，灯亮表示1，灯灭表示0，状态的改变是通过转换开关9来实现。附图说明图I是本技术的正面布局图；图中，第一 IC测试区I ;第二 IC测试区2 ;真值表区3 ;电源区4 ；LED指示灯5 ’第一芯片插座6 ;第二芯片插座7 ;状态记录灯8 ;转换开关9具体实施方式以下是本技术的具体实施例并结合附图，对本技术的技术方案作进一步的描述，但本技术并不限于这些实施例。实施例I利用本技术测试芯片好坏给定一个芯片74LS08，如果已知其内部结构，不知道该芯片内部的器件是否完好，可以把芯片74LS08插入第二芯片插座7的核心插座上，用一条导线连接第二芯片插座7的GND和电源区4的GND ;再用一条导线连接第二芯片插座7的VCC和电源区4的+5V ;用一条导线连接第二芯片插座7的第3脚和LED指示灯5的插线孔；再用2条导线分别连接第二芯片插座7的1，2脚和真值表区3的00两个端子，观察LED指示灯5的状态，通过拨动真值表区3的00状态后面对应的转换开关9来记录本次实验状态，撤掉刚才的2条导线，按同样方法，再用这2条导线分别连接第二芯片插座7的1，2脚和真值表区3的01对应的两个端子，观察LED指示灯5的状态，再通过拨动真值表区3的01状态后面对应的转换开关9来记录本次实验状态……，通过观察状态记录灯8的情况，结合芯片74LS08的逻辑表达式Y = AB,即可以判断第一套与门是否完好.同理可以测试其它3套与门的好坏。实施例2利用本技术测试芯片弓丨脚给定一个芯片74LS08，如果只知其是与门芯片，不知道该芯片内部结构和引脚功能。可以把芯片74LS08插入第一芯片插座6的核心插座上,用一条导线连接第一芯片插座6的GND和电源区4的GND ;再用一条导线连接第一芯片插座6的VCC和电源区4的+5V ；用一条导线一端连接LED指示灯5的插线孔，另一端依次在第一芯片插座6的1-6和8-13插线孔碰触，注意观察LED指示灯5，发现有四次LED指示灯5是亮的，那么这四个插线孔对应的内部就是该芯片内部四套与门的输出端子；下一步实验是确定和这四个输出端子对应的输入端子用一根导线连接LED指示灯5和一个输出端，此时LED指示灯5是亮的，再用一根导线，一端接电源区4的GND，另一端依次碰触剩余的8个插线孔，有2次碰触会使LED指示灯5熄灭，熄灭的这两次对应的就是该套与门的2个输入端子，同理可以测出其余三套与门的引脚功能。根据需要不同，本技术还可以使用74LS32等等芯片进行演示，还可以判断芯片的好坏等。本文中所描述的具体实施例仅仅是对本技术精神作举例说明。本技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本技术的精神所定义的范围。权利要求1.一种提高数字电路应用能力的演示教具，其特征在于包括第一IC测试区(I)、第二IC测试区(2)、真值表区(3)、电源区(4)、LED指示灯(5)、第一芯片插座(6)、第二芯片插座(7)、状态记录灯(8)、转换开关(9);电源区(4)。2.根据权利要求I所述的一种提高数字电路应用能力的演示教具，其第一IC测试区(1)提供一个14脚芯片插座第一芯片插座(6),该插座位于一个大的芯片轮廓内部,背面用导线一一对应相连，芯片轮廓外部有对应的插线孔；第一 IC测试区(I)还包括LED指示灯(5),该灯有一个插线孔。3.根据权利要求I所述的一种提高数字电路应用能力的演示教具，其第二IC测试区(2)提供14脚芯片插座一个第二芯片插座(7),该插座位于一个放大的芯片图形内部,放大的芯片图形内部画有芯片内部结构图，背面用导线一一对应相连，芯片轮廓外部有对应的插线孔。4.根据权利要求I所述的一种提高数字电路应用能力的演示教具，其真值表区(3)的特征在于AB变量的各种组合旁边都有一个插线孔，对应的提供和旁边数字标记统一的电平；输出变量Y的状态用下面的4个状态记录灯(8)记录，灯亮表示I，灯灭表示O，状态的改变是通过转换开关(9)来实现。专利摘要本技术涉及电子
，是一种提高数字电路应用能力的演示教具。数字电路课程是大学电子类专业的重点必修课程，在平时的实验中所给的芯片都是老师事先用集成电路测试仪筛选出的好芯片，即使有一小部分损坏也将当报废件处理，在做实验时还给定芯片内部逻辑结构图，学生做实验只是按照图纸连线，能力提高缓慢而且有限，本技术可以教会学生在没有测试仪的情况下如何检测芯片好坏，在不知芯片内部逻辑结构图时如何测得引脚功能。本技术包括包括第一IC测试区1；第二IC测试区2；真值表区3；电源区4；LED指示灯5；第一芯片插座6；第二芯片插座7；状态记录灯8；转换开关9。演示实验时，根据需要配备相关的芯片和导线，实验是通过给相应引脚输入电平，根据输出情况判断芯片好坏和引脚功能。文档编号G09B23/18GK202771695SQ201220048908公开日2013年3月6日 申请日期2012年2月16日 优先权日2012年2月16日专利技术者赵德才 申请人:赵德才本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种提高数字电路应用能力的演示教具，其特征在于包括：第一IC测试区(1)、第二IC测试区(2)、真值表区(3)、电源区(4)、LED指示灯(5)、第一芯片插座(6)、第二芯片插座(7)、状态记录灯(8)、转换开关(9)；电源区(4)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵德才，
申请(专利权)人：赵德才，
类型：实用新型
国别省市：