数字电路故障检测电路及利用该电路测试故障的方法技术

数字电路故障检测电路及利用该电路测试故障的方法，涉及数字电路故障检测领域。本发明专利技术解决了现有数字电路故障检测电路和检测方法均无法确切的识别开路状态，以及需要测试的电路网络比较多时，故障检测的过程复杂的问题。本发明专利技术采用两个互补的三极管，根据输入信号的高电平、低电平、开路三种不同状态，使两个三极管产生与之对应的导通\关断状态组合，从而反应出输入信号的实际状态；输出模块用于将三极管的导通\关断状态组合以数字信号的形式输出，由光耦器件构成。本发明专利技术适用于数字电路故障检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及数字电路故障检测领域。
技术介绍
数字电路的故障检测技术主要用于判别电路中存在的开路、短路故障和集成芯片内部功能故障，该技术可应用于电子产品研发期间的性能评测、生产期间的质量检验、以及使用期间的故障维修，对于数字电子产品的设计、生产和测试有重大的指导作用和实际意义。现有的数字电路故障检测方法多是基于边界扫描技术，其检测原理是利用芯片内部的边界扫描单元按照一定算法发出有规律的高、低电平序列作为测试激励信号，再由相应的边界扫描单元接收回由激励信号产生的响应信号(也是高、低电平序列)，最后用算法对响应信号进行分析而判断出电路故障。由于数字电路自身的特点，传统的测试电路和测试方法只能识别单纯的高电平或低电平两种状态，而无法识别开路状态(即悬空状态)，因此传统的故障检测技术需要付出很大代价才能对开路故障进行检测，特别是当被测电路比较复杂，需要测试的电路网络比较多时，故障检测的过程将会变得非常复杂。同时，由于不能很好的区别出开路状态，传统的故障检测方法存在比较严重的故障误判现象，会将开路故障与“呆滞I”故障、“呆滞O”故障两种故障相混淆，造成故障检测与识别能力大为降低。另本文档来自技高网...

【技术保护点】
数字电路故障检测电路，其特征在于，该电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、、第一路光耦合器(U1)、第二路光耦合器(U2)、电源VCC和一对互补的三极管：NPN型三极管(Q1)和PNP型三极管(Q2)；电阻R1的一端与电阻R2的一端相连，且电阻R1的一端与电阻R2的一端为检测信号输入端，电阻R1的另一端连接NPN型三极管(Q1)的基极，NPN型三极管(Q1)的发射极连接电源VCC，NPN型三极管(Q1)的集电极连接电阻R3的一端，电阻R3的另一端连接第一路光耦合器(U1)的发光二极管的阳极，第一路光耦合器(U1)的发光二极管的阴极连接电源地；第一路光耦合器(U1)...

【技术特征摘要】
1.数字电路故障检测电路，其特征在于，该电路包括电阻Rl、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、、第一路光耦合器(Ul)、第二路光耦合器(U2)、电源VCC和一对互补的三极管:NPN型三极管(Ql)和PNP型三极管(Q2)； 电阻Rl的一端与电阻R2的一端相连,且电阻Rl的一端与电阻R2的一端为检测信号输入端，电阻Rl的另一端连接NPN型三极管(Ql)的基极，NPN型三极管(Ql)的发射极连接电源VCC，NPN型三极管(Ql)的集电极连接电阻R3的一端，电阻R3的另一端连接第一路光耦合器(Ul)的发光二极管的阳极，第一路光耦合器(Ul)的发光二极管的阴极连接电源地；第一路光耦合器(Ul)的光敏三极管的集电极连接电阻R5的一端，且该集电极为测试信号输出端，电阻R5的另一端连接电源VCC,第一路光稱合器(Ul)的光敏三极管的发射极连接电源地； 电阻R2另一端连接PNP型三极管(Q2)的基极，PNP型三极管(Q2)的发射极连接电源地，PNP型三极管(Q2)的集电极连接第二路光耦合器(U2)的发光二极管的阴极，第二路光耦合器(Ul)的发光二极管的阳极连接电阻R4的一端，电阻R4的另一端连接电源VCC ； 第二路光耦合器(U2)的光敏三极管的集电极连接电阻R6的一端，且该集电极为测试信号输出端，电阻R 6的另一端连接电源VCC，第二路光耦合器(U2)的光敏三极管的发射极连接电源地。2.利用权利要求1所述的数字电路故障检测电路测试故障的方法，其特征在于，该方法的具体步骤为: 步骤一、获取被测电路的互连信息； 所述电路的互连信息包括电路中元器件的型号、标号，各芯片引脚的互连状态，引脚的输入输出属性； 步骤二、根据电路的互连信息向被测电路中的所有输出引脚，施加全“I”测试激励，然后...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱敏，陈宇，刘永丹，杨春玲，王荔，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：黑龙江;23