边角落下测试治具制造技术

技术编号:8376956 阅读:411 留言:0更新日期:2013-03-01 05:50
一种边角落下测试治具,包含一基座、二支撑柱与一定位件。基座的放置面设有二插设孔。此二支撑柱分别插设于此二插设孔内,可分别支撑电子产品的二相邻侧面,以让电子产品二相邻侧面之间的边角通过此二支撑柱之间以于落下后,撞击一待撞击平台。定位件配置于放置面上,并限位电子产品于定位件与放置板之间。由于本实用新型专利技术的放置面所配置的此些第二插设孔的排列方向,使得第二支撑柱选择地插设于任一第二插设孔内时,都可改变电子产品的另一侧面与放置面的下侧侧边之间的夹角,进而提供电子产品的边角进行落地测试的变数选择。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术关于一种测试治具,特别关于一种边角落下测试治具
技术介绍
制造业厂商为了确保电子产品(如笔记型电脑、平板电脑或智慧型手机等)的稳定度及耐用度,通常都会在电子产品出厂前,进行落下测试(Drop Test),以验证电子产品在各种不同操作环境下或运送过程中能维持应有的品质。甚至,为了确保电子产品落下时 即便由其最脆弱的边角撞击地面后,仍保有电子产品基本的物理强度及耐用度,因此,让电子产品自由落体的落摔并刻意由电子产品各边角落下的测试(corner drop test)是有必要的。一般而言,测试人员大部分均直接使电子产品的边角朝下,且以自由落体的方式让电子产品的边角撞击地面。然而,这样的落下测试方法不够精确,无法精准地涵盖电子产品本身被定出的测试环境与落下角度,例如无法刻意让电子产品的边角处与地面保有一特定夹角时进行落地测试。综上所述,在现有电子产品的边角落下测试(corner drop test)中,仍存在着部分困难以待克服。
技术实现思路
本技术提供一种边角落下测试治具,用以提供良好的落下测试环境以及让电子产品的边角具有精确的落下角度。本技术提供一种边角落下测试治具,以便于电子产品的边本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种边角落下测试治具,其特征在于,适于承载一电子产品,以供该电子产品二相邻侧面之间的一边角落下并撞击一待撞击平台,该边角落下测试治具包含:一基座,可活动升降地位于该待撞击平台上方,包含一放置面,该放置面配置有一第一插设孔与多个第二插设孔;一第一支撑柱,插设于该第一插设孔内,用以支撑该电子产品的该一侧面;至少一第二支撑柱,选择地插设于任一该些第二插设孔内,用以支撑该电子产品的该另一侧面,以致该边角自该第一支撑柱与该第二支撑柱之间朝该待撞击平台的方向伸出该放置面的一下侧侧边;以及一定位件,配置于该放置面上,并使该电子产品被限位于该定位件与该放置板之间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:温宏权
申请(专利权)人:广达电脑股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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