用于PCB测试的微针治具组合制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于PCB测试的微针治具组合，包括多个微针治具的阵列，各个微针治具彼此相同；每一个微针治具上皆设置有一个独立的位置调节机构，位置调节机构连接在微针治具的载板上以调节微针治具在空间的位置。本实用新型专利技术通过使用由多个微针治具的阵列形成的微针治具组合，并对微针治具组合中的各个微针治具设置独立的位置调节机构，实现了在PCB测试系统中控制多个微针治具同时对PCB板上多个单片进行电测试，由此节省了对PCB板的测试时间，提高了测试效率，降低了测试成本。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及PCB测试，尤其涉及一种用于PCB测试的微针治具组合。
技术介绍
PCB(Printed Circuit Board)即印制线路板，简称印制板，是电子工业的重要部件之一。几乎每种电子设备，小到电子手表、计算器，大到计算机，通讯电子设备，军用武器系统，只要有集成电路等电子元器件，为了它们之间的电气互连，都要使用印制板。目前，单个的PCB板上往往包括多个单片(单元)，这些单片具有相同的结构和图案，以在完成PCB板的制作和测试后可以分成多个单片使用，从而实现规模化的生产。在PCB板的生产过程中，为了验证PCB板的质量，需要对PCB板进行各种检测试验，通常需要对PCB板的外观缺陷、开路/短路、IC等元器件的功能等进行测试。其中，对PCB板的开路/短路、IC等元器件的功能测试通过对PCB板的电测试进行。目前对PCB板的电测试系统如图1所示，包括八个如单片21的单片的PCB板2由PCB电测试系统I的机械臂13抓取放置在PCB电测试系统I的测试台14上的合适位置，PCB电测试系统I的上治具11和PCB电测试系统I的下治具12对PCB板2上的一个单片进行电测试。例如对单片21进行电测试时本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于PCB测试的微针治具组合，其特征在于，包括多个微针治具的阵列，各个所述微针治具彼此相同；每一个所述微针治具上皆设置有一个独立的位置调节机构，所述位置调节机构连接在所述微针治具的载板上，各个所述微针治具具有多个微针探针，所述微针探针的直径不大于0.1mm。

【技术特征摘要】
1.一种用于PCB测试的微针治具组合，其特征在于，包括多个微针治具的阵列，各个所述微针治具彼此相同；每一个所述微针治具上皆设置有一个独立的位置调节机构，所述位置调节机构连接在所述微针治具的载板上，各个所述微针治具具有多个微针探针，所述微针探针的直径不大于0.1mm。2.如权利要求1所述的用于PCB测试的微针治具组合，其中所述微针治具组合集成在PCB测试系统中，所述微针治具的个数与待测的PCB板上的单片的个数相同，所述微针治具的分布与所述待测的PCB板上的单片的分布相同。3.如权利要求2所述的用于PCB测试的微针治具组合，其中所述PCB测试系统的测试台上具有一个或多个工位。4.如权利要求3所述的用于PCB测试的微针治具组合，其中所述微针治具组合是上微针治具组合，所述微针治具是上微针治具，所述上微针治具组合是多个所述上微针治具的阵列；各个所述上微针治具彼此相同，所述上微针治具的分布与所述待测的PCB板的上表面的各个单片的分布相同；所述上微针治具组合设置在所述一个或多个工位的上方。5.如权利要求3所述的用于PCB测试的微针治具组合，其中所述微针治具组合是下微针治具组合，所述微针治具是下微针治具，所述下微针治具组合是多个所述下微针治具的阵列；各个所述下微针治具彼此相同，所述下微针治具的分布与所述待测的PCB板的下...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑谦，顾岗，张荣，许兵兵，
申请(专利权)人：上海金东唐精机科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：