转换电路及芯片制造技术

本发明专利技术提供一种转换电路及芯片，该转换电路包括：输入单元，连接输入单元的DAC，连接DAC输出端的ADC，ADC的输出端连接比较单元，比较单元用于将ADC输出的测试码集与第二标准测试码集进行比较，若比较结果在预设的误差范围内，则通知测试数据采集单元；若比较结果超出预设的误差范围，则将比较结果输出至校正单元；校正单元用于根据比较结果获取补偿码集，并将补偿码集输入至输入单元，以使输入单元根据补偿码集对所述第一标准测试码集进行更新，获取更新后的第一标准测试码集；测试数据采集单元用于获取ADC输入端的电压值。上述转换电路解决了现有技术中测试ADC需要较长测试时间的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及电路技术，尤其涉及一种转换电路及芯片。
技术介绍
在产业应用中，需要计算模拟数字转换器(Analog-to-Digital Converter,简称ADC)的静态参数，计算ADC的静态参数需要采集ADC的输出码及对应的输入电压，但是由于ADC的传输特性曲线是多对一的对应函数，这就使得现有的测试ADC的测试电路比较繁琐，需要的测试时间非常长。举例来说，现有技术中采用多点采样的线性阶梯直方图法或柱状图法等方法测试ADC的静态参数,如积分非线性值(Integral nonlinearity,简称INL),差分非线性值 (Differential Nonlinearity,简称 DNL),增益误差(Gain Error)等。采用线性阶梯直方图或柱状图法属于统计方法，其具有随机性和粗略性，且从ADC输出的输出码并不能确定输入ADC的输入电压值。在测试ADC的过程中，只有在采样点足够多的条件下，才能有较精准的测试结果，由此导致测试时间非常长。举例来说对IObit的ADC，如用直方图测试法，其采样点的数量为(21°)xl6=1024xl6=16384,采样时间会很长。由此，如本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种转换电路，其特征在于，所述转换电路包括输入单元，数字模拟转换器DAC，模拟数字转化器ADC，比较单元，校正单元及测试数据采集单元，所述输入单元，用于向数字模拟转换器DAC的输入端输入第一标准测试码集中的标准测试码；所述数字模拟转换器DAC，用于接收所述输入单元输入的所述标准测试码，将接收的标准测试码进行数模转换处理，并通过输出端输出转换后得到的模拟信号；所述模拟数字转换器ADC，用于通过输入端接收所述DAC输出的所述模拟信号，并将所述模拟信号进行模数转换处理，生成由数字信号构成的测试码集；所述比较单元，用于将所述ADC输出的测试码集与第二标准测试码集进行比较，若比较结果在预设的误差范围内，...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邓开平，熊涛，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：