混合集成电路的微调测试系统及其方法技术方案

本发明专利技术公开了混合集成电路的微调测试系统，该混合集成电路包括多路DAC模块构成，微调测试系统包括信号产生器、数字拨码开关、通道选择电路、锁存译码单元、多路DAC模块；所述信号产生器产生第一段数字信号；所述数字拨码开关产生第二段数字信号；第一段数字信号与第二段数字信号共同构成输入多路DAC模块的输入信号；第二段数字信号输入通道选择电路以选择多路DAC模块的通道，并将选择的通道存储在锁存译码单元；多路DAC模块通过对输入信号经过模拟输出，并将模拟输出的结果以及通道传递给控制装置，并通过控制装置对多路DAC模块进行反馈调节。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术中涉及了一种混合混合集成电路的微调测试系统，还涉及了一种混合混合集成电路的微调测试方法。
技术介绍
目前数模转换器在半导体测试中已经是很成熟的测试技术，针对它已开发了专门的测试设备，如专利号为200910048936. O的专利采用ARM核心片对数模转换器进行自动测试、专利号为201010251150. I的专利是一种对数模转换电路的自测装置和自测方法，但是目前针对基于混合混合集成电路的多路数模转换器(DAC)的微调、测试尚待填补空缺。本专利技术实现混合混合集成电路多路数模转换电路的测试的需求，结构简单实用，节约了测试成本，提高了测试效率，灵活性很强，可移植性好。
技术实现思路
本专利技术提供了一种混合，其有效提高数模转换电路量程、转换精度、通道一致性等多项参数的测试。本专利技术公开了一种混合集成电路的微调测试系统，该混合集成电路包括多路DAC模块，所述微调测试系统包括信号产生器、数字拨码开关、通道选择电路、锁存译码单元；所述信号产生器产生第一段数字信号；所述数字拨码开关产生第二段数字信号；第一段数字信号与第二段数字信号共同构成输入多路DAC模块的输入信号；第二段数字信号输入本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种混合集成电路的微调测试系统，该混合集成电路包括多路DAC模块，其特征在于：所述微调测试系统包括信号产生器、数字拨码开关、通道选择电路、锁存译码单元；所述信号产生器产生第一段数字信号；所述数字拨码开关产生第二段数字信号；第一段数字信号与第二段数字信号共同构成输入多路DAC模块的输入信号；第二段数字信号输入通道选择电路以选择多路DAC模块的通道，并将选择的通道存储在锁存译码单元；多路DAC模块通过对输入信号经过模拟输出，并将模拟输出的结果以及通道传递给控制装置，并通过控制装置对多路DAC模块进行反馈调节。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：鞠莉娜，王晓臣，董冀，刘海亮，
申请(专利权)人：中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心，
类型：发明
国别省市：