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本发明公开了混合集成电路的微调测试系统，该混合集成电路包括多路DAC模块构成，微调测试系统包括信号产生器、数字拨码开关、通道选择电路、锁存译码单元、多路DAC模块；所述信号产生器产生第一段数字信号；所述数字拨码开关产生第二段数字信号；第一段...该专利属于中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心所有，仅供学习研究参考，未经过中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心授权不得商用。