一种智能电能表专用EEPROM存储芯片制造技术

技术编号:8348353 阅读:312 留言:0更新日期:2013-02-21 02:31
本发明专利技术提供了一种智能电能表专用EEPROM存储芯片,包括由纳米晶存储单元构成的存储阵列,其中,所述纳米晶存储单元包括:半导体衬底材料及其衬底区域重掺杂形成的源导电区和漏导电区,覆盖于所述源导电区和漏导电区之间的沟道表面的隧穿介质层,所述隧穿介质层上覆盖的纳米晶存储层,包围或覆盖所述纳米晶存储层的隔离介质层,以及,所述隔离介质层之上覆盖的晶体管控制栅;所述存储阵列采用可实现对阵列中每个存储单元进行随机寻址、编程和擦除操作的架构。本发明专利技术采用纳米晶浮栅存储结构作为存储单元,可简化制造工艺,缩小器件尺寸和芯片面积,节约制造掩模数量,降低存储芯片的制造成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及微电子
,特别是涉及一种智能电能表专用EEPROM存储芯片
技术介绍
随着电子设备的日益发展普及,半导体存储器技术近年来得到了快速的发展。半导体存储器可以分为挥发性和非挥发性两大类型,其中,以EEPROM和Flash为代表的非挥发性半导体存储器在通信、航天、电网那个等诸多领域都得到了广泛的应用。以电网领域为例,随着国家智能电网建设的深入,存储芯片的市场整体需求变得越来越大,加之智能电表的设计寿命一般为8 10年,一般使用5年即更换,市场需求还具有极强的持续性。目前市场上的存储芯片一般为通用EEPROM或Flash存储芯片,参照图1,示出了现有EEPROM存储单元结构的示意图,包括衬底材料11、覆盖于材料11表面的浮栅介质层17 和选择栅介质层19、位于选择栅介质层19之上的选择栅电极14、位于浮栅介质层17之上的浮栅12、覆盖于浮栅12之上的电荷阻挡层18、位于电荷阻挡层之上的控制栅13以及形成于衬底材料11上的源极15和漏极16 ;现有通用存储芯片一般采用MNOS、SONOS或双层多晶硅工艺制成,其缺点是,以上述存储单元结构组成的存储阵列占用的面积较大,封装本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种智能电能表专用EEPROM存储芯片,其特征在于,所述存储芯片包括由纳米晶存储单元构成的存储阵列,其中:所述纳米晶存储单元包括:半导体衬底材料及在其衬底区域重掺杂形成的源导电区和漏导电区,覆盖于所述源导电区和漏导电区之间沟道表面的隧穿介质层,所述隧穿介质层上覆盖的纳米晶存储层,包围或覆盖所述纳米晶存储层的隔离介质层,以及,所述隔离介质层之上覆盖的晶体管控制栅;所述存储阵列采用EEPROM、NOR?Flash、DiNOR、DuSNOR或其他可实现对阵列中每个存储单元进行随机寻址、编程和擦除操作的架构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘璟谢伟东李天石田漪婷
申请(专利权)人:北京天中磊智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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