【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学显微领域，尤其涉及一种二维超分辨显微方法和装置。
技术介绍
由阿贝衍射极限理论可知，常规远场光学显微镜的极限分辨率可表示为权利要求1.一种二维超分辨显微方法，其特征在于，包括以下步骤 1)开启第一光源，并关闭第二光源、第三光源和第四光源，所述第一光源发出的工作光束转换为线偏振光后对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第一信号光强I1U, y)，其中X，y为扫描点的二维坐标； 2)开启第二光源，并关闭第一光源、第三光源和第四光源，所述第二光源发出的工作光束转换为线偏振光后对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第二信号光强I2(X，y)，其中X，y为扫描点的二维坐标； 3)开启第三光源，并关闭第一光源、第二光源和第四光源，所述第三光源发出的工作光束转换为线偏振光后进行相位调制，并对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第三信号光强I3U，y)，其中X，y为扫描点的二维坐标； 4)开启第四光源，并关闭第一光源、第二光源和第三光源，所述第四光源发出的工作光束转换为线偏振光后进行相位调制，并对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第四信号光强I4 (X，y)，其中X，y为扫描点的二维坐标； 5)根据公式Iel(X, y) = I1 (x, y)- Y I3 (x, y)计算得到第一差分光强,根据公式Ie2 (x,y) = I2(x y)~ Y I4(x y)计算得到第二差分光强，最终利用 I(x，y) = min{Iel (x,y), Ie2 (x,y)}计算有效信号光强I(x，y)，并利用I(x...
【技术保护点】
一种二维超分辨显微方法，其特征在于，包括以下步骤：1)开启第一光源，并关闭第二光源、第三光源和第四光源，所述第一光源发出的工作光束转换为线偏振光后对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第一信号光强I1(x，y)，其中x，y为扫描点的二维坐标；2)开启第二光源，并关闭第一光源、第三光源和第四光源，所述第二光源发出的工作光束转换为线偏振光后对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第二信号光强I2(x，y)，其中x，y为扫描点的二维坐标；3)开启第三光源，并关闭第一光源、第二光源和第四光源，所述第三光源发出的工作光束转换为线偏振光后进行相位调制，并对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第三信号光强I3(x，y)，其中x，y为扫描点的二维坐标；4)开启第四光源，并关闭第一光源、第二光源和第三光源，所述第四光源发出的工作光束转换为线偏振光后进行相位调制，并对待测样品进行扫描，收集扫描点发出的信号光并得到第四信号光强I4(x，y)，其中x，y为扫描点的二维坐标；5)根据公式Ie1(x，y)＝I1(x，y)？γI3(x，y)计算得到第一差分光强，根据公式Ie2(x，y)＝...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：匡翠方，李帅，郝翔，顾兆泰，刘旭，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：
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