【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及磁 记录介质用玻璃基板及使用该磁记录介质用玻璃基板的磁记录介质。
技术介绍
作为磁盘记录装置等所使用的磁记录介质用基板，目前一直使用铝合金基板。但是，近年来，随着高记录密度化的要求，比铝合金基板硬、平坦性及平滑性优异的玻璃基板逐渐成为主流。而且，近年来，随着磁盘(下面也称为磁记录介质。)的高记录密度化，磁信号被微细地记录于磁盘上，随之信号逐渐变得微弱。为了该微弱的信号的读取及记录，要求使磁盘和磁头的距离尽可能接近。为了减小以高速旋转的磁盘和磁头之间的距离、即磁头的浮起量，需要将磁盘的基板即磁记录介质用玻璃基板的表面设为微小波纹度小的平坦的表面，以使磁盘和磁头不接触。迄今为止，如例如专利文献I中所记载，利用激光多普勒仪或振动计等对磁记录介质用玻璃基板的表面的任意选择的一部分区域进行微小波纹度的评价。专利文献I :国际公开第2009 / 084534号但是，利用现有的评价方法得到的磁记录介质用玻璃基板中，虽然在測定了的区域确保一定的平面度，但在除此以外的区域，有时局部地具有微小波纹度大的部分或凹凸。例如，当局部地存在微小波纹度大的部分时，在作为磁盘使用...
【技术保护点】
一种磁记录介质用玻璃基板，具有一对主平面、外周端面和内周端面，其特征在于，对于至少一侧的主平面，在格子状的各评价区域测定微小波纹度（nWq）时，一个评价区域和与该一个评价区域相邻的评价区域之间的微小波纹度的变化量的绝对值（ΔnWq）相对于所述一个评价区域的微小波纹度的比率（变化率）为10％以下，在所述格子状的各评价区域测定的微小波纹度（nWq）的平均值为0.080nm以下，其中，所述格子状的各评价区域是在包含制成磁盘时成为记录重放区域的区域的整个面的主平面的整个面上设定的。
【技术特征摘要】
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