检测治具及利用检测治具的检测方法技术

技术编号:8130031 阅读:169 留言:0更新日期:2012-12-27 01:30
一种检测治具及利用检测治具的检测方法。检测治具用来检测标准件与待测件的尺寸差值,其包括具有容置空间的治具主体及设置于治具主体对应第一轴向的位置上的第一测量单元。第一测量单元包括第一接触探针、第一测量读表及第一归零按键,第一接触探针相对容置空间向内突出且弹性地沿第一轴向移动用来触抵标准件或待测件;第一测量读表连接于第一接触探针用来显示第一归零值或第一测量值;第一归零按键设置于第一测量读表上用来归零第一测量读表;当第一接触探针在第一测量读表归零后触抵待测件时,第一测量读表显示第一测量值,待测件相对标准件在第一轴向上的第一尺寸差值等于第一测量值与第一归零值的差值。本发明专利技术可准确判断尺寸差值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种,尤指ー种用来检测标准件与待测件的尺寸差值的。
技术介绍
一般而言,常见的用来检测エ件尺寸是否正确的方式是使用其上具有符合标准エ件结构轮廓的容置槽的检测块,井根据待测エ件是否可置入容置槽中的结果,来快速地得知待测エ件是否落在标准规格范围内。然而,这种方式无法准确地得知待测エ件与标准エ件之间的尺寸差值,故不利于后续エ件尺寸的校正。上述问题虽可利用能读出エ件尺寸值的測量工具(如光标卡尺等)来解决,但却也会带来费时费エ的測量流程。·因此,本专利技术提供一种用来检测标准件与待测件的尺寸差值的,以解决上述的问题。
技术实现思路
本专利技术公开ー种检测治具,该检测治具用来检测ー标准件与一待测件的尺寸差值,该检测治具包括一治具主体以及ー第一测量单元。该治具主体具有一容置空间,该容置空间用来容置该标准件或该待测件;该第一測量单元设置于该治具主体对应ー第一轴向的位置上,该第一测量单元包括一第一接触探针、一第一測量读表以及一第一归零按键,该第一接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第一轴向移动,用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件,以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件;该第一測量读表连接于该第一接触探针,用来显示ー第一归零值或对应该待测件的一第一测量值;该第一归零按键设置于该第一测量读表上,用来在该第一接触探针触抵该标准件吋,归零该第一測量读表以显示该第一归零值;其中当该第一接触探针在该第一归零按键归零该第一测量读表后触抵该待测件吋,该第一测量读表显示该第一測量值,该待测件相对该标准件在该第一轴向上的一第一尺寸差值等于该第一測量值与该第一归零值的一差值。本专利技术还公开该第一测量读表以指针指示或数字显示的方式显示该第一归零值以及该第一測量值。本专利技术还公开该第一轴向对应该治具主体的一 X轴方向。本专利技术还公开该检测治具还包含一第二测量单元,其设置于该治具主体对应ー第ニ轴向的位置上,该第二测量单元包含一第二接触探针、一第二测量读表,以及ー第二归零按键。该第二接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第二轴向移动,用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件,以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件。该第二測量读表连接于该第二接触探针,用来显示ー第二归零值或对应该待测件的一第二測量值。该第二归零按键设置于该第二测量读表上,用来在该第二接触探针触抵该标准件吋,归零该第二測量读表以显示该第二归零值。当该第二接触探针在该第二归零按键归零该第二测量读表后触抵该待测件吋,该第二测量读表显示该第二測量值,该待测件相对该标准件在该第二轴向上的一第二尺寸差值等于该第二測量值与该第二归零值的ー差值。本专利技术还公开该第二轴向对应该治具主体的一 Y轴方向。本专利技术还公开该检测治具还包含一第三测量单元,其设置于该治具主体对应ー第三轴向的位置上,该第三测量单元包含一第三接触探针、一第三测量读表,以及ー第三归零按键。该第三接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第三轴向移动,用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件,以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件。该第三测量读表,其连接于该第三接触探针,用来显示ー第三归零值或对应该待测件的一第三測量值。该第三归零按键设置于该第三测量读表上,用来在该第三接触探针触抵该标准件吋,归零该第三測量读表以显示该第三归零值。当该第三接触探针在该第三归零按键归零该第三测量读表后触抵该待测件时,该第三测量读表显示该第三測量值,该待测件相对该标准件在该第三轴向上的一第三尺寸差值等于该第三測量值与该第三归零值的ー差值。 本专利技术还公开该第三轴向对应该治具主体的一 Z轴方向。本专利技术还公开该治具主体包含一上盖以及一下盖。该下盖枢接于该上盖的ー侧,该下盖用来与该上盖共同形成该容置空间。本专利技术还公开该第一测量单元以及该第三测量单元分别设置于该上盖对应该第ー轴向以及该第三轴向的位置上,该第二测量单元设置于该下盖对应该第二轴向的位置上。本专利技术还公开ー种利用ー检测治具的检测方法,该检测方法检测ー标准件与一待测件的尺寸差值,该检测治具包括一治具主体以及ー第一测量单元,该治具主体具有一容置空间以容置该标准件或该待测件,该第一測量单元设置于该治具主体对应ー第一轴向的位置上,该检测方法包括将该标准件靠合于该容置空间内;该第一测量单元沿该第一轴向触抵该标准件;该第一测量单元在归零后显示ー第一归零值;将该待测件靠合于该容置空间内;以及该第一测量单元沿该第一轴向触抵该待测件以显示对应该待测件的一第一测量值;其中该待测件相对该标准件在该第一轴向上的一第一尺寸差值等于该第一测量值与该第一归零值的一差值。本专利技术还公开该检测治具还包含一第二测量单元,该第二測量单元设置于该治具主体对应ー第二轴向的位置上,该检测方法还包含该第二测量单元在该标准件靠合于该容置空间内时沿该第二轴向触抵该标准件、该第二测量单元在归零后显示ー第二归零值,以及该第二测量单元在该待测件靠合于该容置空间内时沿该第二轴向触抵该待测件以显示对应该待测件的一第二测量值。该待测件相对该标准件在该第二轴向上的一第二尺寸差值等于该第二測量值与该第二归零值的一差值。本专利技术还公开该检测治具还包含一第三测量单元,该第三測量单元设置于该治具主体对应ー第三轴向的位置上,该检测方法还包含该第三测量单元在该标准件靠合于该容置空间内时沿该第三轴向触抵该标准件,该第三测量单元在归零后显示ー第三归零值,以及该第三测量单元在该待测件靠合于该容置空间内时沿该第三轴向触抵该待测件以显示对应该待测件的一第三测量值。该待测件相对该标准件在该第三轴向上的一第三尺寸差值等于该第三測量值与该第三归零值的一差值。综上所述,本专利技术采用测量单元设置于用来容置标准件或待测件的治具主体上的配置,以使用归零按键在接触探针触抵标准件时归零測量读表以显示归零值,以及利用测量读表在接触探针在归零按键归零测量读表后触抵待测件时显示测量值,藉此即可根据测量值与归零值的差值而得出待测件相对标准件的尺寸差值。如此ー来,本专利技术所提供的检测治具不仅可准确地判断出待测件的尺寸是否落在预设的制造规格内,以利于后续エ件质量控管以及作为后续エ件尺寸校正的參考依据,此外,由于不须额外使用測量工具以进行人工測量,本专利技术所提供的检测治具亦可解决先前技术中所提及的測量流程费时费エ的问题。附图说明图I为根据本专利技术ー实施例所提出的检测治具的收合示意图。图2为图I的检测治具的展开示意图。 图3为图I的检测治具的俯视图。图4为图3的检测治具沿剖面线3-3’的剖面侧视图。图5为本专利技术利用图I的检测治具以检测出标准件与待测件在治具主体的第一轴向上的尺寸差值的方法的流程图。图6为图4的第一测量读表的正视图。图7为图4的第一接触探针触抵待测件的剖面侧视图。图8为图7的第一测量读表的正视图。主要组件符号说明 10 检测治具12治具主体14 第一测量单元16第二测量单元 18 第三测量单元20上盖 21 容置空间22下盖24 第一接触探针26第一测量读表28 第一归零按键30第二接触探针32 第二测量读表34第二归零按键36 第三接触探针38第三测量读表 40 第三归零按键42标准件 44 待测件500-510 步骤具体实施例方式请參阅图I本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测治具,该检测治具用来检测一标准件与一待测件的尺寸差值,该检测治具包括:一治具主体,该治具主体具有一容置空间,该容置空间用来容置该标准件或该待测件;以及一第一测量单元,该第一测量单元设置于该治具主体对应一第一轴向的位置上,该第一测量单元包括:一第一接触探针,该第一接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第一轴向移动,用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件,以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件;一第一测量读表,该第一测量读表连接于该第一接触探针,用来显示一第一归零值或对应该待测件的一第一测量值;以及一第一归零按键,该第一归零按键设置于该第一测量读表上,用来在该第一接触探针触抵该标准件时,归零该第一测量读表以显示该第一归零值;其中当该第一接触探针在该第一归零按键归零该第一测量读表后触抵该待测件时,该第一测量读表显示该第一测量值,该待测件相对该标准件在该第一轴向上的一第一尺寸差值等于该第一测量值与该第一归零值的一差值。

【技术特征摘要】
1.一种检测治具,该检测治具用来检测ー标准件与一待测件的尺寸差值,该检测治具包括 一治具主体,该治具主体具有一容置空间,该容置空间用来容置该标准件或该待测件;以及 一第一测量单元,该第一測量单元设置于该治具主体对应ー第一轴向的位置上,该第一测量单元包括 一第一接触探针,该第一接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第一轴向移动,用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件,以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件; 一第一测量读表,该第一測量读表连接于该第一接触探针,用来显示ー第一归零值或对应该待测件的一第一测量值;以及 一第一归零按键,该第一归零按键设置于该第一测量读表上,用来在该第一接触探针触抵该标准件吋,归零该第一測量读表以显示该第一归零值; 其中当该第一接触探针在该第一归零按键归零该第一测量读表后触抵该待测件时,该第一测量读表显不该第一测量值,该待测件相对该标准件在该第一轴向上的一第一尺寸差值等于该第一測量值与该第一归零值的一差值。2.如权利要求I所述的检测治具,其中该第一测量读表以指针指示或数字显示的方式显示该第一归零值以及该第一測量值。3.如权利要求I所述的检测治具,其中该第一轴向对应该治具主体的一X轴方向。4.如权利要求I所述的检测治具,该检测治具还包括 一第二测量单元,该第二測量单元设置于该治具主体对应ー第二轴向的位置上,该第ニ测量单元包括 一第二接触探针,该第二接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第二轴向移动,用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件,以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件; 一第二测量读表,该第二測量读表连接于该第二接触探针,用来显示ー第二归零值或对应该待测件的一第二測量值;以及 一第二归零按键,该第二归零按键设置于该第二测量读表上,用来在该第二接触探针触抵该标准件吋,归零该第二測量读表以显示该第二归零值; 其中当该第二接触探针在该第二归零按键归零该第二测量读表后触抵该待测件时,该第二测量读表显示该第二测量值,该待测件相对该标准件在该第二轴向上的一第二尺寸差值等于该第二測量值与该第二归零值的一差值。5.如权利要求4所述的检测治具,其中该第二轴向对应该治具主体的一Y轴方向。6.如权利要求4所述的检测治具,该检测治具还包括 一第三测量单元,该第三測量单元设置于该治具主体对应ー第三轴向的位置上,该第三测量单元包括 一第三接触探针,该第三接触探针相对该容置空间向内突出且弹性地沿该第三轴向移动,用来在该标准件靠合于该容置空间内时触抵该标准件,以及用来在该待测件靠合于该容置空间内时触抵该待测件;一第三测量读表,该第三測量读表连接于该第三接触探针,用来显示ー第三归零值或对应该待测件的一第三測量值;以及 一第三归零按键,...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢福钦
申请(专利权)人:纬创资通股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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