探针电路制造技术

一种探针电路，用以对一带电性待测物进行测量，该带电性待测物的一第一电极耦接至参考接地，该探针电路包含探针、分压电阻以及电压检测器；探针包括针轴、包覆该针轴的绝缘层、包覆该绝缘层的针头以及一热敏电阻，该针头并用以电性耦接该带电性待测物的一第二电极，热敏电阻电性耦接于该针轴与该针头；分压电阻电性耦接于该针轴与一参考电压源之间；电压检测器用以测量该分压电阻与该针轴间的一分压电压。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种探针电路，尤其涉及一种具有热敏电阻的探针的测量电路。
技术介绍
许多电子产品以及电子元件在使用时都会有温升的现象，温度升高除了可能造成使用效能降低，严重时还可能产生安全性的问题，例如锂钴电池就是一个非常典型的例子。因此，这类电子产品与电子元件在进行电性测试时，通常也必须对待测物的温度同步做测量，请参阅图I与图2，图I为现有技术于电性测试时检测温度的系统示意图，图2为用以现有技术用以感测温度的电路示意图。要对带电性待测物100做电性测试时，利用探针21接触带电性待测物100的正电极，一般来说，探针21通过针套211连结于电路板22，且探针21本身为单纯的金属探针；同时，为了构成电性测试的回路，还必须以固定于电路板24上的探针23接触带电性待测物100的负电极。除此之外，现有技术是通过设置热敏电阻25于电路板22之上，以测量带电性待测物100周边温度的变化，而要使热敏电阻25形成一个回路并进行温度测量，那么电路板22的上还必须规划有参考电压源26、分压电阻27、电压传感器29以及接地端28，以形成如图2所式的电路。然而，此测量方式中的热敏电阻25的设置位置距离带电性待本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种探针电路，用以对一带电性待测物进行测量，该带电性待测物的一第一电极耦接至参考接地，其特征在于，该探针电路包含：一探针，包括：一针轴、一绝缘层、一针头及一热敏电阻，该针轴为导体材质所构成；该绝缘层包覆该针轴；该针头为导体材质所构成，并包覆该绝缘层，以凸设于该针轴的一端，并用以电性耦接该带电性待测物的一第二电极；该热敏电阻具有二电极接点，且该二电极接点分别电性耦接于该针轴与该针头；一分压电阻电性耦接于该针轴与一参考电压源之间；以及一电压检测器，用以测量该分压电阻与该针轴间的一分压电压。

【技术特征摘要】
1.一种探针电路，用以对一带电性待测物进行测量，该带电性待测物的一第一电极耦接至参考接地，其特征在于，该探针电路包含 一探针，包括一针轴、一绝缘层、一针头及一热敏电阻，该针轴为导体材质所构成；该绝缘层包覆该针轴；该针头为导体材质所构成，并包覆该绝缘层，以凸设于该针轴的一端，并用以电性耦接该带电性待测物的一第二电极；该热敏电阻具有二电极接点，且该二电极接点分别电性耦接于该针轴与该针头； 一分压电阻电性耦接于该针轴与一参考电压源之间；以及 一电压检测器，用以测量该分压电阻与该针轴间的一分压电压。2.根据权利要求I所述的探针电路，其特征在于，该探针还包括一电路板，该电路板设置于邻近该针头之处，且该热敏电阻设置于该电路板，以通过该电路板使该热敏电阻的二电极接点分别电性连结于该针轴与该针头。3.根据权利要求I所述的探针电路，其特征在于，还包含一针盘，该探针垂直连结...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘茂盛，王志贤，庄圣敬，陈文智，
申请(专利权)人：致茂电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：