【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种耐压测试装置，尤指一种可设定耐压测试的测试环境，并测量线圈元件的反电动势以判断出耐压测试结果。
技术介绍
1、一般来说，若具有线圈元件的电子产品中线圈元件(例如电感器)发生劣化时，可能会造成电子产品稳定性及使用寿命。因此，线圈元件皆需进行耐压测试，以检测线圈元件是否发生劣化。目前的耐压测试电路对线圈元件之耐压测试时，耐压测试电路无法控制输入至线圈元件的电流值，使耐压测试电路之开关模组关闭时，耐压测试电路会测量到过大或过小的电压，无法准确的判断测线圈元件是否发生劣化。
技术实现思路
1、有鉴于此，在一些实施例中，提供耐压测试装置。耐压测试装置包括电流源、开关模组、电压测量模组及控制模组。电流源经配置以输出测试电流。开关模组经配置以连接于电流源与线圈元件之间。开关模组响应于控制信号而导通第一期间，以在第一期间内将测试电流供给至线圈元件。在第一期间结束后，开关模组关闭而中止测试电流对线圈元件的供给，使得线圈元件产生反电动势。电压测量模组经配置以连接线圈元件，并测量反电动势而获得...
【技术保护点】
1.一种耐压测试装置，适于测试一线圈元件，其特征在于，该耐压测试装置包括：
2.根据权利要求1所述的耐压测试装置，其特征在于，该控制模组在一第二期间内间歇地产生多个该控制信号而相应获得多个该测量电压值，并根据该些测量电压值产生该耐压测试结果。
3.根据权利要求2所述的耐压测试装置，其特征在于，该测量电压值为该反电动势所造成的一电压弹跳波形中的一电压峰值。
4.根据权利要求3所述的耐压测试装置，其特征在于，该控制模组根据该电压峰值获得一电压差值，并比对该电压差值与一判断条件产生该耐压测试结果。
5.根据权利要求2所述的耐压...
【技术特征摘要】
1.一种耐压测试装置，适于测试一线圈元件，其特征在于，该耐压测试装置包括：
2.根据权利要求1所述的耐压测试装置，其特征在于，该控制模组在一第二期间内间歇地产生多个该控制信号而相应获得多个该测量电压值，并根据该些测量电压值产生该耐压测试结果。
3.根据权利要求2所述的耐压测试装置，其特征在于，该测量电压值为该反电动势所造成的一电压弹跳波形中的一电压峰值。
4.根据权利要求3所述的耐压测试装置，其特征在于，该控制模组根据该电压峰值获得一电压差值，并比对该电压差值与一判断条件产生该耐压测试结果。
5.根据权利要求2所述的耐压测试装置，其特征在于，该电流源在该第二期间内的各该第一期间所输出该测试电流的一电流值相同。
【专利技术属性】
技术研发人员：柯廷翰，曾建儒，陈威丞，张楚均，
申请(专利权)人：致茂电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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