一种单镜头激光三角法厚度测量仪制造技术

本发明专利技术属于几何尺寸测量技术领域，为一种单镜头激光三角法厚度测量仪，包括激光器、孔径光阑、平面玻璃、组合镜头、图像探测器、图像处理器以及一些辅助精细调节装置。工作时，同轴对准的上下激光器发出两束准直光线，由激光器前端透镜聚焦到被测物表面，被测物表面的漫反射光线经过孔径光阑、平面玻璃后由组合成像透镜汇聚到图像探测器上，再将图像数据传输至图像处理器进行图像处理，进而由两光斑之间的间距计算得出被测物的实际厚度，最后显示测量厚度。本发明专利技术秉承激光三角测厚法优点的同时通过改进光路结构，优化设计，较好的消除了双光路激光三角法测厚仪受被测物振动影响上下独立测量系统难以同步，精度难以保证的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于几何尺寸測量
，具体涉及ー种单镜头激光三角法厚度測量仪，尤其适用于非透明板材和薄膜如钢板、电池极片，牛毛毡等的厚度測量。
技术介绍
超薄板材和薄膜如彩色钢板、聚こ烯膜、电池碳负极膜等在生产实际中应用十分广泛，随着加工技术的进步，材料加工的精度越来越高，这对生产线在线测厚设备的检测精度也提出了更高的要求。非透明薄膜和板材的在线测厚能控制成品厚度，提高产品质量，提升成品率，減少 原材料浪费，提高企业的市场竞争力。同时自动測量取代人工測量，能减小人カ资本投入，提高了生产自动化程度，利于改造生产线扩大生产規模。目前常用的在线测厚方法有激光测厚，射线测厚，超声测厚，电涡流测厚等。射线测厚成本高、有辐射危害，超声测厚需要在被测物表面涂耦合剤、受被测物表面粗糙度影响大、不适合较薄被测物，电涡流测厚只适合导电材料、检测结果易收到材料本身导电率和磁导率等因素的干扰，这些不足限制了此类测厚设备的在线使用。激光测厚法以其健康环保、无辐射、精度高、操作简单、实时性好的优点广泛应用于板材测厚行业。传统激光測量仪测厚原理基于由上下两条独立光路组成的双光路激光三角法，如图I所示，系统组成包括两个激光器I和2，两个成像透镜3和4，以及两个图像探測器4和5。上下激光器I和2发出的光束经激光器内置镜头聚焦在被测物上下表面，漫反射光线分别通过成像透镜3和4汇聚到图像探測器5和6上面，被测物厚度不同吋，图像探測器5和6上成像光斑位置也会随之移动。它们之间的函数关系式可由几何关系导出，假定上下光路对称平面为參考平面，在參考平面处放置一个厚度为h的标定物体，此时图像探測器5和6上各形成ー个光斑，记下光斑位置。取走标定物体放入被测物，则被测物表面可视为相对參考物体上下分别移动距离Hl和H2的两个平面，图像探測器4和5上光斑分别对应移动距离Λ Hl和Λ Η2，被测物厚度表达式即为H=Hl+H2+h。在图I中由几何关系可得rrid0 sin a cosy) mdO sin aΓ00071 H2 ニコ--AH 2 {d\ sin V - Δ//2 sin v cos a - Δ丑2sin a cos γ)此时，被测物厚度表达式为 dO sm adO sm a yd I sin γ — AHl sin γ cos a — ΔΤ/lsin a cosy)I ￠/1 sin γ - Mil sin γ cos a - AH2 sin a cos γ 但这种双光路激光三角法测厚系统中上下两个独立的測量系统难以同步，使得被测物振动对测量的影响限制了该测厚方法精度的进ー步提高
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种单镜头激光三角法厚度测量仪，该测量仪解决了双光路激光三角法上下两个独立測量系统难以同步的问题，较好的消除了被测物振动对测量的影响。本专利技术提供的一种单镜头激光三角法厚度测量仪，其特征在于，该测量仪包括第一、第二激光器，成像透镜，图像探測器，光阑，第一、第二平面玻璃，图像处理器，以及显示装置；第一、第二激光器的轴心线位于成像透镜的物方焦平面处，第一、第二激光器同轴对准，图像探測器位于成像透镜的像方焦平面处，用于接收成像透镜汇聚的光线；光阑位于第一、第二激光器的轴心线与成像透镜之间，第一、第二平面玻璃片位于孔径光阑和成像透 镜之间，并相对成像透镜的光轴上下对称，且第一平面玻璃片与成像透镜的光轴之间的夹角，以及第二平面玻璃片与成像透镜的光轴之间的夹角均小于90度，图像处理器与图像探测器连接，用于处理图像探測器提供的数据，显示装置与图像处理器连接，用于显示图像处理器提供的数据。本专利技术提供的测厚仪上下光路中被测物表面激光光斑通过同一片透镜成像在单个图像探測器上，被测物上下振动时，图像探測器同时抓取上下光斑图像并送入图像处理器实时处理，保证了上下光路中图像采集和处理的同步性，很好的解决了双光路激光三角法上下两个独立測量系统难以同步的问题，较好的消除了被测物振动对测量的影响。本专利技术具有已有激光三角法厚度测量仪健康环保，实时性好，适合在线测量，精度高，操作简单方便的优点外，光路结构的改进使系统尺寸减小、设备重量减轻，便于携带和多地点測量，突破了设备固定位置测量的局限性，提高了测量的灵活性和通用性，提升了设备投资的经济性。附图说明图I是现有技术中双光路激光二角法的不意图，其中，I和2是激光器,3和4是成像透镜，5和6是图像探測器；图2是本专利技术的单镜头激光三角法厚度测量仪的光路结构示意图，其中，I和2是激光器，3是成像透镜，5是图像探測器，7是孔径光阑，8和9是平面玻璃；图3本专利技术单镜头激光三角法厚度测量仪系统组成示意图，其中，I和2是激光器，3是成像透镜，5是图像探測器，7是孔径光阑，8和9是平面玻璃，10是图像处理器，11是显示设备；图4辅助说明本专利技术测厚原理的理想光学系统成像示意图。具体实施例方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进ー步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。如图2、图3所示，本专利技术提供的厚度测量仪包括第一、第二激光器1、2，成像透镜3，图像探測器5，光阑7，第一、第二平面玻璃8、9，图像处理器10，以及显示装置11。第一、第二激光器1、2的轴心线位于成像透镜3的物方焦平面处，第一、第二激光器1、2要求同轴对准，减小因物面倾斜带来的测量误差。图像探測器5位于成像透镜3的像方焦平面处，用于接收成像透镜3汇聚的光线。光阑7位于第一、第二激光器1、2的轴心线与成像透镜3之间，光阑7的孔径角和通光孔直径用于限制入射光线的角度和通光量。第一、第二平面玻璃片8、9位于孔径光阑7和成像透镜3之间，并相对成像透镜3的光轴上下对称，且第一平面玻璃片8与成像透镜3的光轴之间的夹角，以及第二平面玻璃片9与成像透镜3的光轴之间的夹角均小于90度，第一、第二平面玻璃片8、9的像移特性会使图像探测器5上的两光斑相对远离，从而对超薄的被测物也能很好的得到两个彼此分离的光斑。图像处理器10与图像探測器5连接，用于处理图像探測器提供的数据，显示装置11与图像处理器10连接，用于显示图像处理器提供的数据。图像处理器10及显示装置11则可通过数据线连接至操作车间。测量时，将厚度为Λ h的被测物放置于第一、第二激光器1、2之间，且位于图像探测器5的视场内。第一、第二激光器1、2发出的光线聚焦至被测物上、下表面，漫反射的光线分别经过孔径光阑7、平面玻璃片8和9后由成像透镜3汇聚到图像探測器5上，形成两个光斑，再通过USB数据接ロ将两个光斑的图像数据传到图像处理器10后，计算两光斑的 重心得到两光斑间距值h，然后由标定方程将间距值h转化为被测物厚度值，最后显示在显示装置11上。标定方程由标定实验得到，标定实验是取一系列已知厚度的量块，放置于测厚仪的測量范围内任意ー个位置，得到相应的光斑间距值，然后拟合出光板间距ー被测物厚度函数关系式作为标定方程。參与标定的量块数量越多，标定的精度越高，故标定时应取尽可能多的量块，通常应大于20组。图4为辅助说明本专利技术测厚原理的理想光学系统成像示意本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种单镜头激光三角法厚度测量仪，其特征在于，该测量仪包括第一、第二激光器，成像透镜，图像探测器，光阑，第一、第二平面玻璃，图像处理器，以及显示装置； 第一、第二激光器的轴心线位于成像透镜的物方焦平面处，第一、第二激光器同轴对准，图像探测器位于成像透镜的像方焦平面处，用于接收成像透镜汇聚的光线；光阑位于第一、第二激光器的轴心线与成像透镜之间，第一、第二平面玻璃片位于孔径光阑和成像透镜之间，并相对成像透镜的光轴上下对称，且第一平面玻璃片与成像透镜的光轴之间的夹角，以及第二平面玻璃片与成像透镜的光轴之间的夹角均小于90度，图像处理器与图像探测器连接，用于处理图像探测器提供的数据，显示装置与图像处理器连接，用于显示图像处理器提供的数据。2.根据权利要求I所述的单镜头激光三角法厚度测量仪，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵斌，汪琛，陈海平，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：