一种激光厚度测量设备制造技术

一种激光厚度测量设备，设置有架体、激光发射单元和处理单元，架体设置有基座和测试平台，基座位于测试平台下方，激光发射单元装配于基座，测试平台位于激光发射单元上方，处理单元与激光发射单元电连接，激光发射单元自下方发射激光对测试平台上的测试样品进行厚度检测，激光发射单元的检测信息输入至处理单元进行处理得到测试样品的厚度。激光发射单元由多个激光发射器构成，每个激光发射器距离所述测试平台之间的间距均相等。还设置有位置调整机构，位置调整机构设置有驱动单元、滑动单元、移动座和丝杆。该激光厚度测量设备能够方便检测不同厚度的测试样品，具有结构简单、检测效率高、操作方便的特点。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种激光厚度测量设备，设置有架体、激光发射单元和处理单元，架体设置有基座和测试平台，基座位于测试平台下方，激光发射单元装配于基座，测试平台位于激光发射单元上方，处理单元与激光发射单元电连接，激光发射单元自下方发射激光对测试平台上的测试样品进行厚度检测，激光发射单元的检测信息输入至处理单元进行处理得到测试样品的厚度。激光发射单元由多个激光发射器构成，每个激光发射器距离所述测试平台之间的间距均相等。还设置有位置调整机构，位置调整机构设置有驱动单元、滑动单元、移动座和丝杆。该激光厚度测量设备能够方便检测不同厚度的测试样品，具有结构简单、检测效率高、操作方便的特点。【专利说明】一种激光厚度测量设备
本技术涉及激光测量仪器
，特别是涉及一种激光厚度测量设备。
技术介绍
厚度是许多工件非常重要的参数之一，随着技术的不断进步，对工件的厚度要求越来越高。进行工件厚度检测通常是利用激光干涉原理，从而计算出待测样品的厚度。 现有技术中，激光厚度检测仪器通常包括一测试平面、位于测试平面上方的激光发射器。由于干涉的原因，激光发射器与测试面之间的间距需要保持在9-llmm之间，因此，每次在检测时都需要调节使激光发射器抬起，将测试样品放置于测试平面，然后调整激光发射器与测试样品测试面之间的间距。故，每次更换待测产品时需要把激光发射器抬起来才能进行更换，既不方便也浪费时间，影响了测量效率；同时每次下降时对不同厚度的产品，所需要下降的高度也不一样，不免会存在一定的安全隐患，容易出现下降高度过多容易压到待测工件从而损坏激光发射器等情况。 因此，针对现有技术不足，提供一种结构简单、操作容易的激光厚度测量设备以克服现有技术不足甚为必要。
技术实现思路
本技术的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种激光厚度测量设备，该激光厚度测量设备具有结构简单、操作方便的特点。 本技术的上述目的通过如下技术手段实现。 —种激光厚度测量设备，设置有架体、激光发射单元和处理单元，所述架体设置有基座和用于放置测试样品的测试平台，所述基座位于所述测试平台下方，所述激光发射单元装配于所述基座，所述测试平台位于所述激光发射单元上方，所述处理单元与所述激光发射单元电连接，激光发射单元自下方发射激光对测试平台上的测试样品进行厚度检测，所述激光发射单元的检测信息输入至所述处理单元进行处理得到测试样品的厚度； 所述激光发射单元由多个激光发射器构成，每个激光发射器距离所述测试平台之间的间距均相等。 上述激光厚度测量设备还设置有位置调整机构，所述位置调整机构装配于所述基座， 所述位置调整机构设置有驱动单元、滑动单元、移动座和丝杆； 所述移动座活动装配于所述滑动单元，所述丝杆与所述移动座螺纹配合，所述驱动单元驱动所述丝杆转动，所述激光发射单元固定装配于所述移动座。 上述滑动单元设置有滑轨和与所述滑轨匹配的滑槽，所述滑轨固定于所述基座，所述滑槽固定装配于所述移动座。 上述驱动单元设置为马达或者气缸。 优选的,上述激光反射单元设置有三个激光发射器。 上述激光发射单元还设置有激光间距调节单元，所述激光间距调节单元固定装配于所述移动座，所述激光发射器装配于所述激光间距调节单元。 上述激光间距调节单元设置有调节板和多个激光装配治具，所述激光发射器的数量与所述激光装配治具的数量相等，每个激光发射器固定于对应的一个激光装配治具，所述调节板设置有矩形装配框，所述激光装配治具活动装配于所述矩形装配框并通过固定装置定位。 上述激光装配治具设置有固定部及装配部，所述装配部与所述固定部固定连接，所述激光发射器固定于所述固定部，所述装配部装配于所述调节板。 优选的，上述激光厚度测量设备的架体还设置有基准平面和多个相互之间平行的固定基准，所述固定基准一端与所述基座固定连接，所述固定基准另一端与所述基准平面固定连接，所述测试平台设置于所述基准平面。 本技术的激光厚度测量设备，设置有架体、激光发射单元和处理单元，所述架体设置有基座和用于放置测试样品的测试平台，所述基座位于所述测试平台下方，所述激光发射单元装配于所述基座，所述测试平台位于所述激光发射单元上方，所述处理单元与所述激光发射单元电连接，激光发射单元自下方发射激光对测试平台上的测试样品进行厚度检测，所述激光发射单元的检测信息输入至所述处理单元进行处理得到测试样品的厚度；所述激光发射单元由多个激光发射器构成，每个激光发射器距离所述测试平台之间的间距均相等。该激光厚度测量设备将激光发射单元放置于测试平台下方，将激光发射单元与测试平台之间的间距预先设置为等于激光发射器的工作间距，使得每次测试时激光发射单元与测试平台之间的距离都是激光的工作间距，不需要像现有技术中那样每次测试都必须抬起激光发射器并在放好样品后调整样品测试表面与激光发射器的距离，而是直接将测试样品放于测试平台即可进行测试，操作非常方便。同时由于设置有多组激光发射器，因此可以同时测试样品多个部位的厚度信息，测试效率高。此外，该激光厚度测量设备还具有结构简单的特点。 【专利附图】【附图说明】 利用附图对本技术作进一步的说明，但附图中的内容不构成对本技术的任何限制。 图1是本技术一种激光厚度测量设备实施例1的的结构示意图； 图2是本技术一种激光厚度测量设备实施例2的结构示意图； 图3是图2的省略部分壳体后的结构示意图； 图4是图2的底座、激光发射单元及位置调整机构部分的结构示意图； 图5是图4的分解示意图； 图6是本技术一种激光厚度测量设备实施例3的部分结构示意图。 在图1至图6中，包括: 架体100、 基座110、 测试平台120、 基准平面130、 固定基准140、 激光发射单元200、 激光发射器210、 调节板221、 激光装配治具222、 固定部223、装配部224、 驱动单元310、 滑轨321、滑槽 322、 移动座33O、 丝杆340、 测试样品400。 【具体实施方式】 结合以下实施例对本技术作进一步描述。 实施例1。 一种激光厚度测量设备,如图1所示,设置有架体100、激光发射单元200和处理单元，架体100设置有基座110和用于放置测试样品400的测试平台120，基座110位于测试平台120下方，激光发射单元200装配于基座110，测试平台120位于激光发射单元200上方，处理单元与激光发射单元电连接，激光发射单元200自下方发射激光对测试平台120上的测试样品400进行厚度检测，激光发射单元的检测信息输入至所述处理单元进行处理得到测试样品的厚度。测试平台120与激光发射单元200之间的间距只有符合激光发射器210的工作距离时，才能进行厚度检测，这是激光进行厚度检测的公知常识，在此不再赘述。 激光发射单元200自下方发射激光至测试平台120上的测试样品400，因此，只要控制好激光发射单元200与测试平台120之间的间距即可。调整激光发射单元200与测试平台120之间的距离等于激光工作间距的方式有多种，如设置垫块等。故，通过此结构能够容易控制激光发射单元200的工作间距，使用时不需要再进本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光厚度测量设备，其特征在于：设置有架体、激光发射单元和处理单元，所述架体设置有基座和用于放置测试样品的测试平台，所述基座位于所述测试平台下方，所述激光发射单元装配于所述基座，所述测试平台位于所述激光发射单元上方，所述处理单元与所述激光发射单元电连接，激光发射单元自下方发射激光对测试平台上的测试样品进行厚度检测，所述激光发射单元的检测信息输入至所述处理单元进行处理得到测试样品的厚度；所述激光发射单元由多个激光发射器构成，每个激光发射器距离所述测试平台之间的间距均相等。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：洪金龙，
申请(专利权)人：东莞市天勤仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44